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新思宣布先進工藝良率學習平臺設計取得最大突破 為三星后續(xù)先進工藝奠定基礎

半導體動態(tài) ? 來源:工程師吳畏 ? 2019-07-08 15:56 ? 次閱讀
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集成電路設計自動化軟件領導企業(yè)新思(Synopsys)近日宣布,面向三星7LPP(7nm Low Power Plus)和更先進工藝的良率學習平臺設計取得最大突破,也為三星后續(xù)5nm、4nm、3nm工藝的量產(chǎn)和良品率奠定了堅實基礎。

量產(chǎn)探索平臺(Yield Explorer)是一種復雜的芯片量產(chǎn)良品率學習平臺,可用來分析芯片設計、晶圓廠生產(chǎn)、產(chǎn)品測試三大方面的數(shù)據(jù),以便幫助工程師找到缺點、改進良品率、提高產(chǎn)能。

現(xiàn)代芯片設計和生產(chǎn)是極為復雜的過程,往往涉及幾千個步驟,需要花費數(shù)月時間,而芯片的最終良品率取決于整體設計、性能和功耗需求等,因此要想提高芯片生產(chǎn)的成功率,需要對各種因素進行細致的分析。

根據(jù)路線圖,三星工藝近期有14nm、10nm、7nm、3nm三個重要節(jié)點,其中14nm會演化出11nm,10nm會演化出8nm,7nm則會演化出6nm、5nm、4nm。

而每種工藝往往又會根據(jù)性能、功耗的不同而分為多個版本,比如14nm分成了14LPE、14LPP、14LPC、14LPU,3nm則分成3GAE、3GAP,預計會采用全新的材料。

目前,三星已經(jīng)完成5nm工藝的設計工作,正在加速推進投入量產(chǎn),4nm則將在今年下半年完成開發(fā),新思的新平臺將在其中發(fā)揮巨大作用。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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