動態(tài)
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發(fā)布了產(chǎn)品 2026-03-06 11:27
MOS管功率器件靜態(tài)參數(shù)測試儀
產(chǎn)品型號:HUSTEC-1600A-MT 設備尺寸:500(寬)x 450(深)x 250(高)mm 質(zhì)量:30kg 海拔高度:海拔不超過 1000m0瀏覽量 -
發(fā)布了產(chǎn)品 2026-03-06 11:03
功率器件參數(shù)分析儀
產(chǎn)品型號:HUSTEC-1600A-MT 設備尺寸:500(寬)x 450(深)x 250(高)mm 質(zhì)量:30kg 海拔高度:海拔不超過 1000m0瀏覽量 -
發(fā)布了產(chǎn)品 2026-03-06 10:42
SiC/IGBT功率半導體器件測試儀
產(chǎn)品型號:HUSTEC-1600A-MT 設備尺寸:500(寬)x 450(深)x 250(高)mm 質(zhì)量:30kg 海拔高度:海拔不超過 1000m0瀏覽量 -
發(fā)布了產(chǎn)品 2026-03-06 10:07
華科智源分立器件測試儀
產(chǎn)品型號:HUSTEC-DC-2010 主機尺寸:深 660*寬 430*高 210(mm) 主機重量:<35kg 主機顏色:銀色系0瀏覽量 -
發(fā)布了產(chǎn)品 2026-03-06 09:52
華科智源IGBT測試儀
產(chǎn)品型號:HUSTEC-1600A-MT 設備尺寸:500(寬)x 450(深)x 250(高)mm 質(zhì)量:30kg 海拔高度:海拔不超過 1000m1瀏覽量 -
發(fā)布了產(chǎn)品 2026-03-04 17:47
半導體IV特性曲線測試儀
產(chǎn)品型號:HUSTEC-1600A-MT 設備尺寸:500(寬)x 450(深)x 250(高)mm 質(zhì)量:30kg 海拔高度:海拔不超過 1000m3瀏覽量 -
發(fā)布了產(chǎn)品 2026-03-04 17:28
半導體器件參數(shù)分析儀
產(chǎn)品型號:HUSTEC-1600A-MT 設備尺寸:500(寬)x 450(深)x 250(高)mm 質(zhì)量:30kg 海拔高度:海拔不超過 1000m4瀏覽量 -
發(fā)布了產(chǎn)品 2026-03-04 17:10
大功率IGBT模塊測試設備
產(chǎn)品型號:HUSTEC-1600A-MT 設備尺寸:500(寬)x 450(深)x 250(高)mm 質(zhì)量:30kg 海拔高度:海拔不超過 1000m2瀏覽量 -
發(fā)布了產(chǎn)品 2026-03-04 10:06
功率半導體測試設備
產(chǎn)品型號:HUSTEC-1600A-MT 設備尺寸:500(寬)x 450(深)x 250(高)mm 質(zhì)量:30kg 海拔高度:海拔不超過 1000m2瀏覽量 -
發(fā)布了產(chǎn)品 2026-03-03 14:31
半導體分立器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號:HUSTEC-DC-2010 設備尺寸:500(寬)x 450(深)x 250(高)mm 質(zhì)量:30kg 海拔高度:海拔不超過 1000m7瀏覽量