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分立器件的靜態(tài)參數(shù)要測(cè)試哪些?這些參數(shù)對(duì)器件有什么影響?2026-01-26 10:00
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華科智源IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀2025-10-29 10:39
HUSTEC華科智源HUSTEC-1600A-MTIGBT功率器件測(cè)試儀一:IGBT功率器件測(cè)試儀主要特點(diǎn)華科智源HUSTEC-1600A-MT靜態(tài)測(cè)試儀可用于多種封裝形式的IGBT測(cè)試,還可以測(cè)量大功率二極管、IGBT模塊,大功率IGBT、大功率雙極型晶體管MOS管等器件的V-I特性測(cè)試,測(cè)試600A(可擴(kuò)展至2000A),5000V以下的各種功率器件,廣 -
華科智源半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀2025-10-29 10:28
半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀產(chǎn)品介紹產(chǎn)品為桌面放置的臺(tái)式機(jī)結(jié)構(gòu),由測(cè)試主機(jī)和程控電腦兩大部分組成。外掛各類(lèi)夾具和適配器,還能夠通過(guò)Prober接口、Handler接口可選(16Bin)連接分選機(jī)和機(jī)械手建立工作站,實(shí)現(xiàn)快速批量化測(cè)試。通過(guò)軟件設(shè)置可依照被測(cè)器件的參數(shù)等級(jí)進(jìn)行自動(dòng)分類(lèi)存放。能夠應(yīng)對(duì)“來(lái)料檢驗(yàn)”“失效分析”“選型配對(duì)”“量產(chǎn)測(cè)試”等不同場(chǎng)景。產(chǎn)品的可靠性