SN74LVT8980A嵌入式測試總線控制器（eTBC）是TI廣泛的可測性集成電路系列的成員。該系列器件支持IEEE Std 1149.1-1990邊界掃描，便于測試復(fù)雜的電路組件。與該系列的大多數(shù)其他設(shè)備不同，eTBC不是邊界可掃描設(shè)備;相反，它們的功能是在嵌入式主機微處理器/微控制器的命令下掌握IEEE Std 1149.1（JTAG）測試訪問端口（TAP）。因此，eTBC可以實際有效地使用IEEE Std 1149.1測試訪問基礎(chǔ)設(shè)施，以支持板級和系統(tǒng)級的嵌入式/內(nèi)置測試，仿真和配置/維護設(shè)施。

eTBCs掌握支持一條4線或5線IEEE Std 1149.1串行測試總線所需的所有TAP信號：測試時鐘（TCK），測試模式選擇（TMS），測試數(shù)據(jù)輸入（TDI），測試數(shù)據(jù)輸出（TDO）和測試重置（TRST）\。所有這些信號都可以直接連接到相關(guān)的目標IEEE Std 1149.1設(shè)備，而無需額外的邏輯或緩沖。然而，除了直接連接之外，TMS，TDI和TDO信號還可以通過流水線連接到遠程目標IEEE Std 1149.1設(shè)備，重定時延遲最多15個TCK周期; eTBC自動處理所有相關(guān)的串行數(shù)據(jù)調(diào)整。

從概念上講，eTBC作為簡單的8位存儲器或I /O映射外設(shè)運行到微處理器/微控制器（主機）。高級命令和并行數(shù)據(jù)通過其通用主機接口傳遞到eTBC或從eTBC傳遞，其中包括8位數(shù)據(jù)總線（D7-D0）和3位地址總線（A2-A0）。實現(xiàn)讀/寫選擇（R /W \）和選通（STRB）\信號，以便關(guān)鍵主機接口時序獨立于CLKIN周期。當eTBC無法立即響應(yīng)請求的讀/寫操作時，提供異步就緒（RDY）指示器以將主機讀/寫周期中的等待狀態(tài)延遲或插入。

高級命令由主機發(fā)出以使eTBC生成將測試總線從任何穩(wěn)定的TAP控制器狀態(tài)移動到任何其他此類穩(wěn)定狀態(tài)所需的TMS序列，通過目標設(shè)備中的測試寄存器掃描指令或數(shù)據(jù)，和/或在Run-Test /Idle TAP狀態(tài)下執(zhí)行指令?？蓪?2位計數(shù)器進行編程，以允許預(yù)定數(shù)量的掃描或執(zhí)行周期。

在掃描操作期間，出現(xiàn)在TDI輸入端的串行數(shù)據(jù)將被轉(zhuǎn)換為串行至4×8位 - 并行先進先出（FIFO）讀緩沖器，然后主機可以讀取該緩沖器，以便一次獲得最多8位的返回串行數(shù)據(jù)流。從TDO輸出發(fā)送的串行數(shù)據(jù)由主機寫入，一次最多8位，寫入4×8位并行到串行FIFO寫緩沖區(qū)。

除了這種簡單的狀態(tài)移動，掃描和運行測試操作，eTBC支持幾個附加命令，提供僅輸入掃描，僅輸出掃描，再循環(huán)掃描（其中TDI鏡像回TDO）和掃描模式使用TI的可尋址掃描端口生成用于支持多點TAP配置的協(xié)議。還支持兩種環(huán)回模式，允許微處理器/微控制器主機監(jiān)控eTBC輸出的TDO或TMS數(shù)據(jù)流。

eTBCs ??靈活的時鐘架構(gòu)允許用戶在自由運行（其中TCK始終遵循CLKIN）和門控模式（其中TCK輸出保持靜態(tài)，除了在狀態(tài)移動，運行測試或掃描周期期間）之間進行選擇以及從CLKIN中分解TCK。還可以使用離散模式，其中TAP在微處理器/微控制器主機的完全控制下由讀/寫周期嚴格驅(qū)動。這些功能確保eTBC幾乎可以為任何IEEE Std 1149.1目標設(shè)備或設(shè)備鏈提供服務(wù)，即使這些設(shè)備或設(shè)備鏈可能不完全符合IEEE Std 1149.1。

雖然eTBC的大多數(shù)操作與CLKIN同步，提供測試輸出使能（TOE）\用于TAP輸出的輸出控制，并且為eTBC的硬件復(fù)位提供復(fù)位（RST）\輸入。前者可用于禁用eTBC，以便外部控制器可以控制相關(guān)的IEEE Std 1149.1測試總線。