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數(shù)據(jù): SCANSTA112 7-Port Multidrop IEEE 1149.1 (JTAG) Multiplexer 數(shù)據(jù)表
SCANSTA112擴展了IEEE標準。 1149.1測試總線進入多點測試總線環(huán)境。多點方法優(yōu)于單個串行掃描鏈的優(yōu)點是提高了測試吞吐量,并且能夠從系統(tǒng)中移除板并保留對剩余模塊的測試訪問。每個SCANSTA112最多支持7個本地IEEE1149.1掃描鏈,可以單獨訪問或串行組合。
通過加載指令寄存器的值與Slot輸入的值相匹配來完成尋址。通過Park指令將本地TAP控制器停放在一個穩(wěn)定的TAP控制器狀態(tài)中,可以輕松實現(xiàn)背板和板間測試。 32位TCK計數(shù)器可以在一個端口上執(zhí)行內置自測操作,同時測試其他掃描鏈。
STA112的獨特之處在于背板端口和LSP0端口是雙向的。它們可以配置為交替充當主端口或從端口,以便備用測試主機可以從LSP0端口控制整個掃描鏈網(wǎng)絡,同時背板端口成為從屬端口。
所有商標均為他們各自的主人。
| ? |
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| Operating Temperature Range (C) |
| Package Group |
| Package Size: mm2:W x L (PKG) |
| Pin/Package |
| ? |
| SCANSTA112 |
|---|
| -40 to 85 ? ? |
| NFBGA TQFP ? ? |
| 100NFBGA: 100 mm2: 10 x 10(NFBGA) 100TQFP: 256 mm2: 16 x 16(TQFP) ? ? |
| 100NFBGA 100TQFP ? ? |