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數(shù)據(jù): SCANSTA111 Enhanced SCAN Bridge Multidrop Addressable IEEE 1149.1 (JTAG) Port 數(shù)據(jù)表
SCANSTA111擴(kuò)展了IEEE標(biāo)準(zhǔn)。 1149.1測試總線進(jìn)入多點測試總線環(huán)境。多點方法優(yōu)于單個串行掃描鏈的優(yōu)點是提高了測試吞吐量,并且能夠從系統(tǒng)中移除板并保留對剩余模塊的測試訪問。每個SCANSTA111最多支持3個本地IEEE 1149.1掃描環(huán),可以單獨訪問或串行組合。通過向指令寄存器加載與Slot輸入的值匹配的值來完成尋址。通過Park指令將本地TAP控制器停放在一個穩(wěn)定的TAP控制器狀態(tài)中,可以輕松實現(xiàn)背板和板間測試。 32位TCK計數(shù)器允許在一個端口上執(zhí)行內(nèi)置自測操作,同時測試其他掃描鏈。
所有商標(biāo)均為其各自所有者的財產(chǎn)。
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| Operating Temperature Range (C) |
| Package Group |
| Package Size: mm2:W x L (PKG) |
| Pin/Package |
| ? |
| SCANSTA111 |
|---|
| -40 to 85 ? ? |
| NFBGA TSSOP ? ? |
| 49NFBGA: 49 mm2: 7 x 7(NFBGA) 48TSSOP: 101 mm2: 8.1 x 12.5(TSSOP) ? ? |
| 48TSSOP 49NFBGA ? ? |