LED通常按照主波長、發(fā)光強(qiáng)度、光通亮、色溫、工作電壓、反向擊穿電壓等幾個關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)行測試與分選。LED的測試與分選是LED生產(chǎn)過程中的一項(xiàng)必要工序。目前，它是許多l(xiāng)ed芯片和封裝廠商的產(chǎn)能瓶頸，也是LED芯片生產(chǎn)和封裝成本的重要組成部分。

　LED的分選方法

　　LED的分選有兩種方法：一是以芯片為基礎(chǔ)的測試分選，二是對封裝好的LED進(jìn)行測試分選。

　?。?）芯片的測試分選

　　LED芯片分選難度很大，主要原因是LED芯片尺寸一般都很小，從9mil到14mil（0.22-0.35nm）。這樣小的芯片需要微探針才 能夠完成測試，分選過程需要精確的機(jī)械和圖像識別系統(tǒng)，這使得設(shè)備的造價(jià)變得很高，而且測試速度受到限制?，F(xiàn)在的LED芯片測試分選機(jī)價(jià)格約在100萬元 人民幣\臺，其測試速度在每小時10000只左右。如果按照每月25天計(jì)算，每一臺分選機(jī)的產(chǎn)能為每月5KK。

　　目前，芯片的測試分選有兩種方法：

　　一種方法是測試分選由同一臺機(jī)器完成，它的優(yōu)點(diǎn)是可靠，但速度很慢，產(chǎn)能低;

　　另一種方法是測試和分選由兩臺機(jī)器完成，測試設(shè)備記錄下每個芯片的位置和參數(shù)，然后把這些數(shù)據(jù)傳遞到分選設(shè)備上，進(jìn)行快速分選、這樣做的優(yōu)點(diǎn)是 快速，但缺點(diǎn)是可靠性比較低，容易出錯，因?yàn)樵跍y試與分選兩個步驟之間通常還有襯底減薄和芯片分離的工藝過程，而在這個過程中，外延片有可能碎裂、局部殘 缺碎裂或局部殘缺，使得實(shí)際的芯片分布與儲存在分選機(jī)里的數(shù)據(jù)不符，造成分選困難。

　　從根本上解決芯片測試分選瓶頸問題的關(guān)鍵是改善外延片均勻性。如果一片外延片波長分布在2nm之內(nèi)，亮度的變化在+15%之內(nèi)，則可以將這個片 子上的所有芯片歸為一檔（Bin），只要通過測試把不合格的芯片去除即可，將大大增加芯片的產(chǎn)能和降低芯片的成本。在均勻性不是很好的情況下，也可以用測 試并把“不合格產(chǎn)品較多”的芯片區(qū)域用噴墨涂抹的方式處理掉，從而快速地得到想要的“合格”芯片，但這樣做的成本太高，會把很多符合其他客房要求的芯片都 做為不合格證的廢品處理，最后核算出的芯片成本可能是市場無法接受的水平。