本文概述了VHDL測(cè)試臺(tái)和其他相關(guān)主題。它是為一個(gè)數(shù)字設(shè)計(jì)工程師編寫的，他幾乎沒有VHDL或編程經(jīng)驗(yàn)，以便更好地理解VHDL的編寫和測(cè)試臺(tái)的使用。并對(duì)VHDL的發(fā)展前景進(jìn)行了展望。

在制造或生產(chǎn)階段之前發(fā)現(xiàn)電路設(shè)計(jì)中的錯(cuò)誤可以減少產(chǎn)品開發(fā)時(shí)間和成本。工程師要做到這一點(diǎn)的一種方法是圍繞著原型電路構(gòu)建一個(gè)稱為硬件測(cè)試臺(tái)的設(shè)備。硬件測(cè)試臺(tái)將生成設(shè)備的輸入（刺激）和輸出（監(jiān)視器）。近年來，數(shù)字電路的設(shè)計(jì)，如具體應(yīng)用

集成電路（asic）和可編程邏輯器件（pld）已經(jīng)使用被稱為硬件描述語(yǔ)言（hdl）的軟件編程語(yǔ)言來完成。其中一個(gè)原因是VHDL可以理想地合成到任何當(dāng)前的網(wǎng)關(guān)級(jí)技術(shù)中，如ASIC或PLD。因此，今天設(shè)計(jì)的ASIC可以在幾年后重新設(shè)計(jì)，重用最初編寫的軟件代碼。

數(shù)字設(shè)備一旦設(shè)計(jì)好，就需要進(jìn)行測(cè)試。一種方法試驗(yàn)方法這些設(shè)備及其周圍的電路是在設(shè)備制造之前使用HDL測(cè)試臺(tái)。本文討論了HDL測(cè)試臺(tái)的方法，并回顧了它們?cè)陂T級(jí)、板級(jí)和系統(tǒng)級(jí)設(shè)計(jì)過程中的應(yīng)用，以驗(yàn)證數(shù)字設(shè)計(jì)的正確操作。