本文針對(duì)目前芯片驗(yàn)證中出現(xiàn)的瓶頸問(wèn)題，闡述了當(dāng)前流行的驗(yàn)證技術(shù)和部分硬
件驗(yàn)證語(yǔ)言。文中介紹了SystemC 和E 語(yǔ)言，以及多種功能驗(yàn)證技術(shù)。最后通過(guò)對(duì)Rana
接口芯片的功能驗(yàn)證探討了各種驗(yàn)證技術(shù)在芯片設(shè)計(jì)流程中的場(chǎng)合和時(shí)機(jī)。
系統(tǒng)復(fù)雜性繼續(xù)按照摩爾定律增加，而功能復(fù)雜性的增長(zhǎng)速度則更加迅猛。為解決這一
問(wèn)題，EDA 行業(yè)提出了通過(guò)自動(dòng)化來(lái)實(shí)現(xiàn)“設(shè)計(jì)抽象”(Design Abstraction)的概念。設(shè)計(jì)生產(chǎn)率的提升速度將繼續(xù)低于復(fù)雜性的增速，此時(shí)與之相關(guān)的瓶頸已并非設(shè)計(jì)時(shí)間，而是驗(yàn)證時(shí)間，即驗(yàn)證瓶頸。
為了應(yīng)對(duì)驗(yàn)證瓶頸，可以提高設(shè)計(jì)師的生產(chǎn)率和驗(yàn)證生產(chǎn)率。EDA 行業(yè)采用了一種與
解決設(shè)計(jì)瓶頸問(wèn)題相似的“抽象”概念。這提供了對(duì)數(shù)據(jù)的進(jìn)一步控制，以便在所有的功能上實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)的全面執(zhí)行。然而，這些構(gòu)件過(guò)去是不可綜合的，因此未被設(shè)計(jì)師用作實(shí)際設(shè)計(jì)代碼的一部分。[1]
隨著復(fù)雜性的繼續(xù)提高，人們創(chuàng)建并引入了能夠在不同的抽象級(jí)上對(duì)復(fù)雜設(shè)計(jì)進(jìn)行驗(yàn)證
的新型驗(yàn)證語(yǔ)言。EDA 界推出并給予支持的最新語(yǔ)言是SystemC 和e 語(yǔ)言，它們能夠解決一些由目前所采用的技術(shù)和工藝造成的系統(tǒng)復(fù)雜性問(wèn)題。伴隨著這些新型語(yǔ)言的問(wèn)世又出現(xiàn)了對(duì)其提供支持的技術(shù)和工具，比如功能驗(yàn)證，等效檢查等等。