電容放電測試

　　測試方法：

　　? 測試電壓： 1.06或1.1倍額定電壓；測試頻率：最大額定頻率；

　　? 如果存在開關（switch）， 開關的位置（ON/OFF）處于使得放電時間最長的位置，如果不能確認，則ON和OFF兩種條件下都要測試；

　　? 測試樣品接上最小負載或者空載；

　　? 用高輸入阻抗（》10MΩ） 的示波器記錄電壓的放電波形曲線， 示波器跨于設備外的電源端上。測量出原始電壓降至37％所需的時間，稱之為放電時間常數(shù)；

　　? 為了得到準確的數(shù)據(jù)，測試可以重復多次；

　　? 由線路判斷，若待測兩端之有效電容值不大于0.1μF ，則不需做此測試；

　　? 使用示波器時，必須設置成直流耦合（DC Coupling）;

　　? 放電時間常數(shù)（s） ＝ 有效電容值（μF）x有效泄放電阻值（MΩ）

　　合格判定： Pluggable Equipment type A：放電時間常數(shù)不可超過1秒。 Pluggable Equipment type B及Permanently Connected Equipment：放電時間常數(shù)不可超過10秒。

　　正常工作＆故障時的輸出電壓

　　測試方法：

　　? 測試電壓：1.06或1.1倍額定電壓；測試頻率：最大額定頻率；

　　? 接上可能產(chǎn)生最大輸出電壓的任何負載或空載；

　　? 測量正常工作時的電壓主要是為了區(qū)分哪一部分次級電路為 SELV電路，而測量故障時的電壓是考核可接觸的部分在單一故障情況下是否仍然是SELV；

　　? 故障時考慮基本或附加絕緣的失效以及模擬元器件的短路或開路， 具有雙重或加強絕緣的元器件不認為會失效；

　　合格判定：正常工作時：電壓≤ 42.4Vpeak 或60Vdc 故障條件時：電壓≤ 42.4Vpeak 或60Vdc，電壓≤71Vp或120Vdc （0.2s）