?本文的主要內(nèi)容是TI的模擬實驗：電阻測量,程控增益放大,DC-DC升壓，DC-DC降壓模塊，寬帶壓控增益模塊，頻率相位跟蹤實驗的詳細(xì)概述

? ? ? ? 電阻測量模塊

　　精確電阻 測量并非易事 量并非易事 量并非易事 ，電阻測量 模塊 提供 了兩種高精度測電阻的 了兩種高精度測電阻的 了兩種高精度測電阻的 了兩種高精度測電阻的 應(yīng)用范例 用范例 ：電橋 法測電阻 和恒流源 和恒流源 法測電阻 。電橋 法是 將待測電阻 測電阻 代替原 代替原 來已經(jīng) 平衡的電 平衡的電 橋的一個橋臂， 的一個橋臂， 的一個橋臂， 采用基準(zhǔn) 源為電 橋供電 橋供，通 過測量 過測量 因電橋臂 電橋臂 失衡產(chǎn)生的電壓 衡產(chǎn)生的電壓 來獲得待測電阻 獲得待測電阻 獲得待測電阻 的值；恒 流源法是設(shè)計一個 流源法是設(shè)計一個 流源法是設(shè)計一個 在一定負(fù)載范圍內(nèi)能提供精確 一定負(fù)載范圍內(nèi)能提供精確 一定負(fù)載范圍內(nèi)能提供精確 一定負(fù)載范圍內(nèi)能提供精確 恒定 電流的恒源 ，待測阻作為電流的恒源 ，待測阻作為電流的恒源 ，待測阻作為電流的恒源 ，待測阻作為電流的恒源 ，待測阻作為電流的恒源 ，待測阻作為電流的恒源 ，待測阻作為電流的恒源 ，待測阻作為負(fù)載 ，測量待電阻兩端的壓 ，測量待電阻兩端的壓 ，測量待電阻兩端的壓 ，測量待電阻兩端的壓 ，測量待電阻兩端的壓 ，測量待電阻兩端的壓 ，測量待電阻兩端的壓 即可獲得電阻 可獲得電阻 阻值。 為了提供性能比 了提供性能比 了提供性能比 較，模塊同時 較，模塊同時 較，模塊同時 搭配兩種不同的 配兩種不同的 配兩種不同的 配兩種不同的 放大采集電 大采集電 路：一 路：一 路：一 路采用儀 路采用儀 用運算放大器 INA33 INA33INA33INA333提供 高共模抑制比的 高共模抑制比的 高共模抑制比的 高共模抑制比的 信號 放 大功能， 再由 TIVA TIVA TIVA TIVA Cortex M4Cortex M4 Cortex M4Cortex M4 Cortex M4 自帶的 12 位 ADC 進(jìn)行數(shù)據(jù)采集 行數(shù)據(jù)采集 ；另一路 另一路 直接采用 接采用 ?∑ 型 ADC ADS1100ADS1100ADS1100 ADS1100ADS1100 進(jìn)行 采集，并通過 采集，并通過 采集，并通過 采集，并通過 I2C將數(shù)據(jù)傳給 數(shù)據(jù)傳給 數(shù)據(jù)傳給 TIVA TIVATIVA Cortex M4Cortex M4 Cortex M4Cortex M4 Cortex M4。通過在模塊上的跳線配置可以實現(xiàn) 過在模塊上的跳線配置可以實現(xiàn) 過在模塊上的跳線配置可以實現(xiàn) 過在模塊上的跳線配置可以實現(xiàn) 過在模塊上的跳線配置可以實現(xiàn) 過在模塊上的跳線配置可以實現(xiàn) 過在模塊上的跳線配置可以實現(xiàn) 兩種不同的 種不同的 前端測試電路 端測試電路 端測試電路 和兩種放大采集 放大采集 電路的 交叉搭配 ，測試并比較不同配置方式的 比較不同配置方式的 比較不同配置方式的 性能指標(biāo)，可獲得對 能指標(biāo)，可獲得對 能指標(biāo)，可獲得對 不同測量方式 同測量方式 和不 同電 路特性的 路特性的 認(rèn)識