電子元器件的防浪涌應(yīng)用
??? 電浪涌引起的電過應(yīng)力（EOS）損傷或燒毀是電子元器件在使用過程中最常見的失效模式之一。
??? 電浪涌是一種隨機(jī)的短時(shí)間的高電壓和強(qiáng)電流沖擊，其平均功率雖然很小，但瞬時(shí)功率卻非常之大。因此，它對(duì)電子元器件的破壞性很大，輕則引起邏輯電路出現(xiàn)誤動(dòng)作或?qū)е缕骷木植繐p傷，重則引發(fā)熱電效應(yīng)（如雙極晶體管的二次擊穿、CMOS電路的閂鎖效應(yīng)），使器件特性產(chǎn)生不可逆的變化，甚至遭到永久性破壞（如造成鋁金屬互連線的燒熔飛濺）。隨著電子元器件集成密度的提高和幾何尺寸的縮小，使得它越來越容易因受到電過應(yīng)力而損壞。因此，必須采取有效措施予以防范。
9.1.1 集成電路開關(guān)工作產(chǎn)生的浪涌電流
??? 數(shù)字集成電路在輸出狀態(tài)翻轉(zhuǎn)時(shí)，其工作電流的變化很大。例如，在如圖9.1所示的具有圖騰柱輸出結(jié)構(gòu)的TTL電路中，當(dāng)狀態(tài)翻轉(zhuǎn)時(shí)，由于晶體管內(nèi)儲(chǔ)存電荷的釋放需要一定的時(shí)間，其輸出部分的兩個(gè)晶體管VT01和VT02會(huì)有大約10ns的瞬間同時(shí)導(dǎo)通，這相當(dāng)于電源對(duì)地短路。每一個(gè)門電路，在此轉(zhuǎn)換瞬間有幅度為30mA左右的浪涌電流輸出。
??? 對(duì)于大規(guī)模集成電路或高密度印制板組件，一塊電路或一塊組件上會(huì)有幾十乃至成千上百個(gè)門電路同時(shí)翻轉(zhuǎn)，所形成的浪涌電流是十分可觀的。在上例中，若有33塊TTL電路同時(shí)翻轉(zhuǎn)，則瞬態(tài)電流可達(dá)1A，而變化時(shí)間只有10ns。象這種電流變化，穩(wěn)壓電源是難以穩(wěn)定調(diào)節(jié)的。一般穩(wěn)壓電源的頻率特性只有10kHz數(shù)量級(jí)，對(duì)于10ns級(jí)的劇烈變化是無濟(jì)于事的。于是，上述效應(yīng)就會(huì)造成電源電流的劇烈波動(dòng)，不僅給產(chǎn)生浪涌的原電路，而且可能給電路中的其它器件造成危害，還會(huì)通過電磁輻射影響鄰近的電路或設(shè)備。
由于這種浪涌電流具有很高的頻率成分，可在集成電路附近接旁路電容（有時(shí)稱去耦電容）加以抑制，如圖9.2所示。根據(jù)經(jīng)驗(yàn)，一般可以在每5～10塊（具體數(shù)目與所用電路的類型有關(guān)）集成電路旁接一個(gè)0.01～0.1μF左右的電容；每一塊大規(guī)模集成電路或每一塊運(yùn)算放大器也最好能旁接一個(gè)電容。去耦電容應(yīng)該是低電感的高頻電容，小容量電容一般選用園片陶瓷電容器或多層陶瓷電容器，大電容最好選用鉭電解電容器或金屬化聚酯電容器，不宜采用鋁電解電容器，因?yàn)樗碾姼斜壬鲜鲭娙萜鞔蠼粋€(gè)數(shù)量級(jí)。另外，在印制線路板的電源輸入處，也應(yīng)旁接一個(gè)100μF左右的鉭電容和一個(gè)0.05μF左右的陶瓷電容。