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標(biāo)簽 > 探針
探針是一種測(cè)試接口,主要對(duì)裸芯進(jìn)行測(cè)試,通過(guò)連接測(cè)試機(jī)和芯片,通過(guò)傳輸信號(hào)對(duì)芯片參數(shù)進(jìn)行測(cè)試。。
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測(cè)試插座的主要起著一個(gè)連接導(dǎo)通的作用,用于集成電路應(yīng)用功能驗(yàn)證。它是PCB與IC之間的靜態(tài)連接器,可以讓芯片的更換測(cè)試更方便,不用一直重復(fù)焊接和取下芯片...
安培數(shù)計(jì)算:對(duì)于每1A的電流(四舍五入到下一個(gè)最高整數(shù)),需要一個(gè)探針。
目前報(bào)道的多數(shù)光纖表面波傳感器通常是基于光纖側(cè)壁傳感結(jié)構(gòu),即傳感區(qū)域位于光纖包層或去掉包層的纖芯表面,傳感區(qū)域長(zhǎng)度通常在厘米級(jí)別。例如,通過(guò)在光纖包層表...
? 背景 北卡羅來(lái)納州立大學(xué)物理系的Kenan Gundogdu博士的研究小組研究超快動(dòng)力學(xué),并開(kāi)發(fā)了研究半導(dǎo)體的新光譜學(xué)方法。這些非線性光譜技術(shù)使Gu...
基于銩離子摻雜上轉(zhuǎn)換納米顆粒的水分子傳感探針介紹
近日,天津大學(xué)精密儀器與光電子工程學(xué)院的程振洲教授、劉鐵根教授與深圳大學(xué)王佳琦副教授合作研究,研發(fā)了一種基于銩離子摻雜上轉(zhuǎn)換納米顆粒的水分子傳感探針,成...
2023-08-10 標(biāo)簽:傳感器轉(zhuǎn)換器探針 1.3k 0
如果應(yīng)用是慢啟動(dòng)類(lèi)型,建議配置啟動(dòng)探針或者為存活探針配置initialDelaySeconds參數(shù),避免存活探針過(guò)早介入導(dǎo)致容器頻繁重啟。如果應(yīng)用啟動(dòng)時(shí)...
本節(jié)介紹另一個(gè)探針功能塊:MCA_TouchProbeECAT。 ECAT_CiA402_Touchprobe_App功能塊的輸入設(shè)置比較繁瑣且有冗余,...
PCB板在生產(chǎn)過(guò)程中,難免因外在因素而造成短路、斷路及漏電等電性上的瑕疵,再加上PCB不斷朝高密度、細(xì)間距及多層次的演進(jìn),若未能及時(shí)將不良板篩檢出來(lái),而...
基于四點(diǎn)探針和擴(kuò)展電阻模型的接觸電阻率快速表征方法
接觸電阻率(ρc)是評(píng)估兩種材料接觸性能的關(guān)鍵參數(shù)。傳統(tǒng)的傳輸長(zhǎng)度法(TLM)等方法在提取金屬電極與c-Si基底之間的ρc時(shí)需要較多的制造和測(cè)量步驟。而...
可是在大批量生產(chǎn)的工廠里沒(méi)有辦法讓你用電表慢慢去量測(cè)每一片板子上的每一顆電阻、電容、電感、甚至是IC的電路是否正確,所以就有了所謂的ICT(In-Cir...
手持式差分可調(diào)探針應(yīng)用場(chǎng)景介紹
適用于阻抗條測(cè)試,信號(hào)完整性驗(yàn)證、共面波導(dǎo)、電路調(diào)試及測(cè)試裝置用途,基本可以做到高速信號(hào)測(cè)試無(wú)死角。適用于微波集成電路在片測(cè)試、MEMS產(chǎn)品測(cè)試及片上天...
2023-02-17 標(biāo)簽:信號(hào)完整性探針高速信號(hào) 652 0
致真精密儀器丨磁場(chǎng)探針臺(tái)系列的應(yīng)用參數(shù)分析
磁場(chǎng)探針臺(tái)主要用于半導(dǎo)體材料、微納米器件、磁性材料、自旋電子器件及相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的電、磁學(xué)特性測(cè)試,能夠提供磁場(chǎng)或變溫環(huán)境,并進(jìn)行高精度的直流/射頻測(cè)量。
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