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標(biāo)簽 > 測(cè)試
測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì；由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語(yǔ)。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為，一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證，并最終得出特定的結(jié)果。
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濕敏電阻是一種能夠感知環(huán)境濕度變化并將其轉(zhuǎn)化為電信號(hào)的傳感器。它的應(yīng)用范圍非常廣泛，包括但不限于以下幾個(gè)方面：
如何進(jìn)行大規(guī)模車(chē)輛仿真以及場(chǎng)景測(cè)試
在理論篇，我們介紹了理論上車(chē)輛模擬仿真的情況，那么為了實(shí)現(xiàn)車(chē)載擁塞場(chǎng)景的仿真，我們需要一些相應(yīng)的測(cè)試儀表、仿真平臺(tái)和測(cè)試用例來(lái)實(shí)現(xiàn)擁塞場(chǎng)景的模擬工作，整...
如何在英特爾XDK中使用“測(cè)試”選項(xiàng)卡和Weinre
Paul Fischer解釋了如何在英特爾?XDK中使用“測(cè)試”選項(xiàng)卡和Weinre。
Xilinx 4x100G轉(zhuǎn)發(fā)器的參考設(shè)計(jì)介紹
了解在VC730 OTN測(cè)試開(kāi)發(fā)平臺(tái)上運(yùn)行的Xilinx 4x100G轉(zhuǎn)發(fā)器參考設(shè)計(jì)。 （簡(jiǎn)明版）
2018-11-30 標(biāo)簽：測(cè)試賽靈思轉(zhuǎn)發(fā)器 3.6k 0
如今，全球已經(jīng)進(jìn)入信息時(shí)代，包羅萬(wàn)象的信息網(wǎng)是由一個(gè)個(gè)光纖鏈路組合而成，光纖網(wǎng)絡(luò)為實(shí)現(xiàn)5G的萬(wàn)物互聯(lián)奠定基礎(chǔ)。未來(lái)信息技術(shù)的前景依賴光網(wǎng)絡(luò)的穩(wěn)定，無(wú)論在...
采用串行通信方式實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)中自動(dòng)測(cè)試設(shè)備和被測(cè)單元的通信設(shè)計(jì)
在某測(cè)試系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)中，需要用數(shù)據(jù)總線來(lái)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（Automatic Test Equipment，簡(jiǎn)稱，ATE）和被測(cè)單元（Unit Under...
2020-04-09 標(biāo)簽：測(cè)試串行通信信號(hào)發(fā)生器 3.6k 0
Agilent N9310A射頻信號(hào)發(fā)生器的功能特性及應(yīng)用范圍
美國(guó)安捷倫 Agilent N9310A射頻信號(hào)發(fā)生器這款新型信號(hào)發(fā)生器的操作非常簡(jiǎn)單。它不僅可生成9 KHz到3 GHz的常見(jiàn)射頻信號(hào)，而且利用其內(nèi)置...
2020-12-10 標(biāo)簽：測(cè)試射頻信號(hào)發(fā)生器 3.6k 0
黑盒測(cè)試（Black-box Testing，又稱為功能測(cè)試或數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測(cè)試）是把測(cè)試對(duì)象看作一個(gè)黑盒子。利用黑盒測(cè)試法進(jìn)行動(dòng)態(tài)測(cè)試時(shí)，需要測(cè)試軟件產(chǎn)品的...
合適的電源選定后，仍然非常重要的是應(yīng)用于實(shí)際單元電路中的電氣性能，使用前產(chǎn)品要經(jīng)過(guò)嚴(yán)格測(cè)試合格才能使用，下面簡(jiǎn)單介紹模塊電源的一般測(cè)試方法。01電源模塊...
小功率電子負(fù)載實(shí)現(xiàn)快速負(fù)載瞬態(tài)測(cè)試
負(fù)載瞬態(tài)通常使用電子負(fù)載（E-Load）進(jìn)行測(cè)試，前面提到，負(fù)載的跳變斜率（Slew Rate）將對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生關(guān)鍵影響，然而受設(shè)備內(nèi)部電路限制，常規(guī)電...
2023-02-03 標(biāo)簽：測(cè)試轉(zhuǎn)換器MOSFET 3.5k 0
使用泰克MP5000系列實(shí)現(xiàn)高密度并行測(cè)試
受人工智能的快速發(fā)展和電氣化轉(zhuǎn)型的推動(dòng)，半導(dǎo)體芯片市場(chǎng)的增長(zhǎng)要求制造商在不犧牲測(cè)試精度的情況下，提高測(cè)試和驗(yàn)證的吞吐量。
ic自動(dòng)化測(cè)試之電源芯片負(fù)載調(diào)整率的測(cè)試原理和測(cè)試方法
測(cè)試電源芯片的負(fù)載調(diào)整率時(shí)我們可以使用ATECLOUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)軟件控制電源給芯片供電輸入，讓芯片處于工作狀態(tài)，之后給芯片的輸出端加載輸出電...
ATA-4000系列高壓功率放大器在道路車(chē)輛汽車(chē)電子測(cè)試中的應(yīng)用
如今，汽車(chē)供電系統(tǒng)輸出復(fù)雜，大電流馬達(dá)、電磁閥等元件的工作以及汽車(chē)不同工作模式、氣候環(huán)境的變化都可能導(dǎo)致供電電壓發(fā)生波動(dòng)。這種電壓波動(dòng)可能對(duì)電子模塊的正...
連接器測(cè)試項(xiàng)目有哪些 測(cè)試項(xiàng)目介紹
連接器是一種廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備中的元器件，主要用于連接電路和傳輸信號(hào)。連接器的性能直接影響到電子設(shè)備的可靠性和穩(wěn)定性。因此，對(duì)連接器進(jìn)行嚴(yán)格的測(cè)試是非常...
康謀方案 | 基于AI自適應(yīng)迭代的邊緣場(chǎng)景探索方案
測(cè)試 ADAS/AD 系統(tǒng)時(shí)，傳統(tǒng) DoE 方法難以覆蓋駕駛邊緣場(chǎng)景，影響自動(dòng)駕駛性能提升?？抵\ aiSim集成的aiFab方案，以貝葉斯優(yōu)化為核心，依...
IT8700P系列多路輸入可編程直流電子負(fù)載的測(cè)試應(yīng)用
IT8700P系列多路輸入可編程直流電子負(fù)載在IT8700的基礎(chǔ)上進(jìn)行了改良并升級(jí)，繼承了原有可抽換式模塊化的設(shè)計(jì)，單機(jī)框可達(dá)8個(gè)通道，擴(kuò)展機(jī)框可達(dá)16...
如何區(qū)分opc ua和opc da協(xié)議和對(duì)應(yīng)的使用測(cè)試
本文介紹了opc ua和opc da兩種協(xié)議的區(qū)別和使用上的區(qū)別，分別介紹了兩種協(xié)議的測(cè)試軟件。
2023-11-01 標(biāo)簽：測(cè)試網(wǎng)關(guān)OPC 3.5k 0
關(guān)于功率放大器功率放大器，作為一種可放大交直流信號(hào)，在給定失真率條件下，能產(chǎn)生最大功率輸出以驅(qū)動(dòng)某一負(fù)載的實(shí)驗(yàn)室儀器，在MEMS測(cè)試、超聲波測(cè)試、電磁場(chǎng)...
在現(xiàn)代ULSI電路中溝道熱載流子 (CHC) 誘導(dǎo)的退化是一個(gè)重要的與可靠性相關(guān)的問(wèn)題。載流子在通過(guò)MOSFET通道的大電場(chǎng)加速時(shí)獲得動(dòng)能。當(dāng)大多數(shù)載流...
隨著車(chē)內(nèi)通信技術(shù)（如OTA、SOME/IP、DDS）的快速發(fā)展，網(wǎng)關(guān)作為整車(chē)網(wǎng)絡(luò)的核心樞紐，其路由能力至關(guān)重要。OTA升級(jí)對(duì)網(wǎng)關(guān)的診斷路由性能提出了更高...
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