發(fā)電機(jī)電氣試驗(yàn)方法及標(biāo)準(zhǔn)

一．高壓發(fā)電機(jī)部分：定子部件直流電阻目的：檢查繞組的焊頭是否出問(wèn)題等原因測(cè)試環(huán)境：冷狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)試工具：直流電阻電橋數(shù)據(jù)處理：各項(xiàng)的測(cè)試應(yīng)做以下處理數(shù)據(jù)...

2024-06-17 標(biāo)簽：測(cè)試發(fā)電機(jī)電氣試驗(yàn) 4.1k 0

電池分容柜是什么

電池分容柜是一種專門用于電池分容測(cè)試的設(shè)備，主要應(yīng)用于電池生產(chǎn)和檢測(cè)流程中。分容測(cè)試是指對(duì)電池進(jìn)行充電和放電操作，精確測(cè)量電池實(shí)際容量的過(guò)程。該測(cè)試對(duì)確...

2024-06-17 標(biāo)簽：測(cè)試檢測(cè)電池 2.8k 0

氣密性檢測(cè)設(shè)備等30秒的意義是什么

氣密性檢測(cè)設(shè)備做為工業(yè)制造行業(yè)的關(guān)鍵設(shè)備，用于檢測(cè)產(chǎn)品是否具有較好的密封性，以確保產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)安全。使用這種設(shè)備的過(guò)程中，我們通常發(fā)覺設(shè)備在測(cè)試上有一...

2024-06-13 標(biāo)簽：測(cè)試檢測(cè)設(shè)備工業(yè)制造 885 0

10個(gè)晶振不起振的原因分析

晶振不起振是電路設(shè)計(jì)和維護(hù)中常見的問(wèn)題之一。當(dāng)晶振無(wú)法起振時(shí)，可能會(huì)導(dǎo)致整個(gè)電路無(wú)法正常工作，因此必須找到問(wèn)題出現(xiàn)的原因并及時(shí)解決。以下是一些可能導(dǎo)致晶...

2024-06-13 標(biāo)簽：電路測(cè)試晶振 2.4k 0

普賽斯儀表 | VCSEL窄脈沖LIV測(cè)試解決方案

VCSEL常見測(cè)試參數(shù)特性分析VCSEL器件廣泛應(yīng)用于3D人臉識(shí)別和距離傳感。當(dāng)VCSEL陣列用于TOF模組，特別是激光雷達(dá)一類的dTOF系統(tǒng)時(shí)，VCS...

2024-06-06 標(biāo)簽：測(cè)試VCSEL脈沖測(cè)試 4.6k 0

如何測(cè)試低功耗設(shè)備的平均電流

低功耗設(shè)備休眠電流只有納安和微安級(jí)，工作時(shí)電流可達(dá)到毫安和安培級(jí)別，并且電流會(huì)在瞬間變化，怎么測(cè)試和評(píng)估這種設(shè)備的平均功耗，本文分享幾種方案。

2024-06-04 標(biāo)簽：測(cè)試低功耗平均電流 4.5k 0

利爾達(dá)NB-IoT &Cat.1 產(chǎn)測(cè)應(yīng)用指導(dǎo)

用戶使用利爾達(dá)NB&Cat.1模組在出廠前都會(huì)進(jìn)行相應(yīng)的產(chǎn)線測(cè)試，如何保證NB&Cat.1在用戶產(chǎn)線測(cè)試后整機(jī)功能正常，是否用戶產(chǎn)測(cè)進(jìn)行...

2024-06-01 標(biāo)簽：測(cè)試IOT利爾達(dá) 1.8k 0

圖像采集卡的選擇技巧

在當(dāng)今科技發(fā)達(dá)的時(shí)代，圖像采集卡在各行各業(yè)中被廣泛使用，從醫(yī)療領(lǐng)域到工業(yè)領(lǐng)域，從娛樂領(lǐng)域到安防領(lǐng)域。選擇一款適合自己需求的圖像采集卡顯得尤為重要。本文將...

2024-05-28 標(biāo)簽：測(cè)試圖像采集圖像采集卡 1.5k 0

產(chǎn)品百科丨熱重分析儀概述

熱重分析法（TG、TGA）是在升溫、恒溫或降溫過(guò)程中，觀察樣品的質(zhì)量隨溫度或時(shí)間的變化，目的是研究材料的熱穩(wěn)定性和組份。廣泛應(yīng)用于塑料、橡膠、涂料、藥品...

2024-05-27 標(biāo)簽：測(cè)試分析儀熱重分析儀 1k 0

工具鏈工具——映射與調(diào)度、模擬與驗(yàn)證、開發(fā)與測(cè)試工具

本篇文章將重點(diǎn)介紹工具鏈的工具相關(guān)知識(shí)，我們將從工具鏈的基本概念出發(fā)，重點(diǎn)介紹工具鏈中的映射和調(diào)度工具、模擬與驗(yàn)證工具、開發(fā)和測(cè)試工具，最后提出對(duì)工具鏈...

2024-05-16 標(biāo)簽：測(cè)試芯片設(shè)計(jì)映射 7.6k 0

【電磁兼容技術(shù)案例分享】某控制器產(chǎn)品PWM采樣信號(hào)BCI測(cè)試FAIL問(wèn)題案例

【電磁兼容技術(shù)案例分享】某控制器產(chǎn)品PWM采樣信號(hào)BCI測(cè)試FAIL問(wèn)題案例

2024-05-16 標(biāo)簽：測(cè)試電磁兼容控制器 999 0

LOTO示波器動(dòng)作編程功能（命令批處理）

動(dòng)作編程功能是為了方便客戶根據(jù)自己的應(yīng)用場(chǎng)景，做到一個(gè)按鍵就連續(xù)做多個(gè)示波器操作，從而降低了對(duì)操作人員的技術(shù)要求，做到傻瓜式操作。之前LOTO有個(gè)類似的...

2024-05-11 標(biāo)簽：測(cè)試示波器LOTO示波器 1.1k 0

【SPEA飛針應(yīng)用】半導(dǎo)體探針卡測(cè)試

探針卡是晶圓功能驗(yàn)證測(cè)試的關(guān)鍵工具，通常是由探針、電子元件、線材與印刷電路板（PCB）組成的一種測(cè)試接口，主要對(duì)裸die進(jìn)行測(cè)試。探針卡上的探針與芯片上...

2024-05-11 標(biāo)簽：測(cè)試半導(dǎo)體晶圓 2k 0

TSN和DDS測(cè)試解決方案

北匯信息提供的TSN/DDS測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試工具鏈多樣化：提供Vector、TSN Systems、Spirent、臻融科技全套測(cè)試解決方案，滿足不同測(cè)試...

2024-05-10 標(biāo)簽：測(cè)試DDSTSN 1.7k 0

汽車智能座艙域功能測(cè)試

北匯信息推出座艙域功能測(cè)試解決方案，支持在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境以及實(shí)車環(huán)境下完成座艙域功能測(cè)試，不僅可以確保產(chǎn)品質(zhì)量、提升用戶體驗(yàn)、保障行車安全，也能降低維護(hù)成本...

2024-05-10 標(biāo)簽：測(cè)試汽車智能座艙 4.5k 0

晶振負(fù)性阻抗測(cè)試與計(jì)算

匹配試驗(yàn)項(xiàng)目負(fù)性阻抗負(fù)性阻抗-R也稱為發(fā)振余裕度，用于評(píng)價(jià)晶振在發(fā)振回路上的發(fā)振能力。發(fā)振余裕度不足時(shí)，會(huì)導(dǎo)致振蕩電路振蕩不穩(wěn)定甚至啟動(dòng)失效等問(wèn)題。負(fù)性...

2024-05-10 標(biāo)簽：測(cè)試晶振振蕩電路 4.7k 1

華昕晶振驅(qū)動(dòng)功率測(cè)試與計(jì)算

匹配試驗(yàn)項(xiàng)目驅(qū)動(dòng)功率在晶振振蕩電路設(shè)計(jì)之前，我們通常從IC方案中獲取晶振的相關(guān)信息，包括晶振封裝、頻率、頻差、負(fù)載電容和工作電壓等。然而，在實(shí)際應(yīng)用中，...

2024-05-10 標(biāo)簽：測(cè)試IC晶振 1.7k 0

華昕晶振電路參數(shù)匹配

匹配試驗(yàn)項(xiàng)目晶體振蕩器俗稱晶振，是晶振電路的核心元器件。晶振電路用于產(chǎn)生時(shí)間頻率基準(zhǔn)，為微控制器系統(tǒng)(MicrocontrollerUnit，MCU)提...

2024-05-10 標(biāo)簽：測(cè)試控制器晶振電路 1.6k 0

視覺檢測(cè)在塑膠件的重要性

機(jī)器視覺通過(guò)采用非接觸式的光學(xué)感知設(shè)備自動(dòng)接收和解析真實(shí)場(chǎng)景的影像，以獲取信息和(或)控制機(jī)器或工藝過(guò)程。基於人眼檢測(cè)的疲勞性，秉承提升品質(zhì)、降低成本的...

2024-05-09 標(biāo)簽：測(cè)試視覺檢測(cè)SPC 1.1k 0