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標(biāo)簽 > 芯片測(cè)試
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芯片上的晶體管數(shù)以十億計(jì),金屬連接更是不計(jì)其數(shù),要想在短時(shí)間內(nèi)對(duì)它們做個(gè)遍歷并不是件容易的事。例如處理奇偶校驗(yàn)碼異常的電路,在沒有發(fā)生異常的時(shí)候是不工作的。
史密斯英特康應(yīng)對(duì)5G時(shí)代下高頻芯片測(cè)試挑戰(zhàn)
Yole統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)顯示,2020年全球封測(cè)市場(chǎng)規(guī)模達(dá)到594億美元,同比增長(zhǎng)5.3%,國(guó)內(nèi)封測(cè)市場(chǎng)規(guī)模為2510億元,同比增長(zhǎng)6.8%。
IC測(cè)試技術(shù)NAND Tree確認(rèn)管腳連接問題
本文將淺談基于NAND Tree的芯片測(cè)試技術(shù),主要是測(cè)試芯片的管腳I/O Pin和芯片的PAD之間的連接問題,將NAND門接入PAD和上級(jí)的NAND門...
關(guān)于標(biāo)準(zhǔn)芯片單元可連通性測(cè)試 影響因素有哪些
介紹了一種標(biāo)準(zhǔn)芯片單元可連通性的檢測(cè)方法,可以有效檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)芯片單元的可連通性,在布局布線階段之前,改進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)單元的版圖,或者增加布局布線的約束條件,從而保...
2018-05-01 標(biāo)簽:芯片設(shè)計(jì)芯片測(cè)試 2.9k 0
半導(dǎo)體廠商如何做芯片的出廠測(cè)試呢,這對(duì)芯片來說,是流片后或者上市前的必須環(huán)節(jié)。
2016-06-18 標(biāo)簽:芯片測(cè)試半導(dǎo)體廠商 1.6萬 0
基于芯片測(cè)試的環(huán)路濾波器設(shè)計(jì)
本文以ADF 4153型小數(shù)分頻頻率合成器為例,給出了容易實(shí)現(xiàn)的三階環(huán)路濾波器的設(shè)計(jì)方法,能夠滿足芯片實(shí)際測(cè)試的需要。
2016-01-27 標(biāo)簽:頻率合成器芯片測(cè)試環(huán)路濾波器 3k 0
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