摘要：為防止電池過放電，DS2784提供欠壓保護。本應(yīng)用筆記解釋了欠壓保護延時(tUVD)是如何實現(xiàn)的。

緒論

DS2784具有欠壓保護電路，可防止電池過放電。當(dāng)檢測到欠壓情況時，DS2784關(guān)閉充電和放電FET，并將保護寄存器的UV標志位置位。本應(yīng)用筆記解釋了DS2784的電壓和溫度測量的ADC功能及其與器件欠壓保護延時(tUVD)的關(guān)系。

說明

DS2784采用一路ADC來測量溫度和電池電壓。該ADC輸入在2路信號間復(fù)用，每220ms在溫度測量和電壓測量之間切換一次。ADC采樣速率為18.6kHz，每220ms可得到4092個采樣值；然后將這些采樣值的平均值報告給用戶。溫度和電壓測量每440ms更新一次，在相應(yīng)的測量周期結(jié)束時進行更新。圖1所示為ADC的溫度和電壓測量復(fù)用時序。


圖1. ADC測量的復(fù)用時序圖。ADC每220ms切換一次溫度測量和電壓測量，并且每440ms更新一次寄存器。

對于欠壓情況，芯片內(nèi)沒有與之相關(guān)的模擬電壓比較器或者人為的延時電路。延時功能是對電壓測量值進行平均時所固有的特性。如果在220ms周期結(jié)束時電壓寄存器中的值內(nèi)低于VUV，則保護器進入欠壓(UV)保護模式。由于電壓寄存器中的電壓值是基于ADC采樣值的平均，所以用戶看到出現(xiàn)欠壓條件響應(yīng)的時間可以變化很大。例如，如果電池電壓在220ms采樣窗口的多數(shù)時間內(nèi)都高于VUV，但在220ms采樣周期結(jié)束時跌落至遠低于VUV，從而導(dǎo)致該采樣窗口內(nèi)的平均值低于欠壓門限，則在該采樣窗口(圖2)結(jié)束時就會報告出現(xiàn)了欠壓狀況。然而，如果電池電壓遠高于VUV，但正好在接近220ms采樣窗口開始位置時跌落至低于VUV，則該采樣窗口的平均電壓值仍大于VUV。這種情況下，在下一個220ms電壓測量窗口結(jié)束之前將不會報告出現(xiàn)了欠壓狀況(圖3)。

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圖2. 最小tUVD的情況。在該實例中，電池電壓在測量窗口的多數(shù)時間內(nèi)高于VUV，但之后降低至欠壓門限以下，導(dǎo)致220ms采樣窗口內(nèi)測到的平均電壓低于VUV。


圖3. 最大tUVD的情況。在該實例中，電池電壓遠高于VUV，即使電壓降低至欠壓門限以下，220ms采樣窗口的平均電壓仍保持大于VUV。因此，在下一個電壓測量窗口之前不會記錄欠壓條件。

總結(jié)

因為DS2784的ADC每440ms報告一次220ms內(nèi)的平均電壓測量值，欠壓保護延時功能已固化在電路設(shè)計中，無需額外的內(nèi)部電路來實現(xiàn)欠壓保護延時功能。