引言

近年來(lái)，由于半導(dǎo)體技術(shù)、數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)及通信技術(shù)的飛速發(fā)展，A／D、D／A轉(zhuǎn)換器近年也呈現(xiàn)高速發(fā)展的趨勢(shì)。隨著數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)在高分辨率圖像、視頻處理及無(wú)線通信等領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，對(duì)高速、高精度、基于標(biāo)準(zhǔn)COMS工藝的可嵌入式ADC的需求日益迫切。此外對(duì)于正在興起的基于IP庫(kù)設(shè)計(jì)和片上系統(tǒng)（SOC）集成研究來(lái)說(shuō)，對(duì)低功耗、小面積、低電壓以及可嵌入設(shè)計(jì)的ADC核心模塊需求更甚。

由于高速、高精度A／D轉(zhuǎn)換器（ADC）的發(fā)展，尤其是能直接進(jìn)行中頻采樣的高分辨率數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的上市，對(duì)穩(wěn)定的采樣時(shí)鐘的需求越來(lái)越迫切。隨著通信系統(tǒng)中的時(shí)鐘速度邁人吉赫茲級(jí)，相位噪聲和時(shí)鐘抖動(dòng)成為模擬設(shè)計(jì)中十分關(guān)鍵的因素。

為了保證電子系統(tǒng)的數(shù)據(jù)采集、控制反饋和數(shù)字處理的能力和性能，現(xiàn)代軍用電子系統(tǒng)對(duì)A／D轉(zhuǎn)換器的要求也越來(lái)越高。尤其是軍事數(shù)據(jù)通信系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)對(duì)高速、高分辨率A／D轉(zhuǎn)換器的需求在不斷增加，時(shí)鐘占空比穩(wěn)定電路作為高速、高精度A／D轉(zhuǎn)換器的核心單元，對(duì)轉(zhuǎn)換器的信噪比（RSN）和有效位（ENOB）等性能起至關(guān)重要的作用，要保證高速、高精度A／D轉(zhuǎn)換器的性能，必須首先保證采樣編碼時(shí)鐘具有合適的占空比和很小的抖動(dòng)。

1 時(shí)鐘穩(wěn)定電路

相位噪聲和抖動(dòng)是對(duì)同一種現(xiàn)象的兩種不同的定量方式。在理想情況下，一個(gè)頻率固定的完美的脈沖信號(hào)（以1 MHz為例）的持續(xù)時(shí)間應(yīng)該恰好是1μs，每500 ns有一個(gè)跳變沿，但這種信號(hào)并不存在。如圖1所示，信號(hào)周期的長(zhǎng)度總會(huì)有一定變化，從而導(dǎo)致下一個(gè)沿的到來(lái)時(shí)間不確定。這種不確定就是相位噪聲，或者說(shuō)是抖動(dòng)。

抖動(dòng)是對(duì)信號(hào)時(shí)域變化的測(cè)量結(jié)果，它從本質(zhì)上描述了信號(hào)周期距離其理想值偏離了多少。通常，10 MHz以下信號(hào)的周期變動(dòng)并不歸入抖動(dòng)一類，而是歸入偏移或者漂移。數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的主要目的要么是由定期的時(shí)間采樣產(chǎn)生模擬波形，要么是由一個(gè)模擬信號(hào)產(chǎn)生一系列定期的時(shí)間采樣。因此，采樣時(shí)鐘的穩(wěn)定性是十分重要的。從數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的角度來(lái)看，這種不穩(wěn)定性，亦即隨機(jī)的時(shí)鐘抖動(dòng)，會(huì)在模數(shù)轉(zhuǎn)換器何時(shí)對(duì)輸入信號(hào)進(jìn)行采樣方面產(chǎn)生不確定性。

從數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的角度來(lái)看，編碼帶寬可擴(kuò)展到數(shù)百兆赫。在考慮構(gòu)成數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器時(shí)鐘抖動(dòng)噪聲的帶寬時(shí)，其范圍是從直流到編碼的帶寬，這遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)制造商常常當(dāng)作標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘抖動(dòng)測(cè)量值引用的12kHz~20 MHz典型值。由于與抖動(dòng)有關(guān)的是寬帶轉(zhuǎn)換器噪聲增大，所以只要觀察數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器噪聲性能的下降，就可很方便地評(píng)估時(shí)鐘抖動(dòng)。式（1）可確定由于時(shí)鐘抖動(dòng)而產(chǎn)生的信噪比（RSN）極限

式中：f為模擬輸入頻率；t為抖動(dòng)。求解t則式（1）變?yōu)槭剑?）。如果已知工作頻率和RSN要求，則式（2）就可確定時(shí)鐘抖動(dòng)要求

只要在模擬輸入頻率增大時(shí)觀察到信噪比下降，就可以很方便地使用數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器（特別是模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC），通過(guò)快速傅里葉變換（FFT）技術(shù)計(jì)算出信噪比。從總噪聲中減去ADC產(chǎn)生的噪聲，就可以估算出時(shí)鐘抖動(dòng)產(chǎn)生的噪聲，一旦知道噪聲系數(shù)，就可以計(jì)算出時(shí)間抖動(dòng)。

ADI產(chǎn)品與其他公司產(chǎn)品相比之所以能提高采樣性能，主要得益于對(duì)DCS電路的改進(jìn)。DCS電路擔(dān)負(fù)著減小時(shí)鐘信號(hào)抖動(dòng)的作用，而采樣時(shí)序就取決于時(shí)鐘信號(hào)。各家公司過(guò)去的DCS電路只能將抖動(dòng)控制在0．25 ps左右，而高性能新產(chǎn)品AD9446和LTC2208則將抖動(dòng)降低到50 fs左右。通常降低抖動(dòng)就能夠改善信噪比，這樣便提高了有效分辨率（ENOB：有效比特?cái)?shù)），從而在達(dá)到16 bit量子化位數(shù)的同時(shí)，實(shí)現(xiàn)100 Msps以上的采樣速率。如果不控制抖動(dòng)就提高采樣速率的話，將降低ENOB，無(wú)法獲得希望的分辨率，也無(wú)法提高量子化位數(shù)。隨著高性能A／D轉(zhuǎn)換器的發(fā)展，DCS電路向更高速度、更小抖動(dòng)和穩(wěn)定方向發(fā)展。

目前，國(guó)外幾個(gè)大公司所設(shè)計(jì)的A／D轉(zhuǎn)換器中時(shí)鐘占空比穩(wěn)定電路的指標(biāo)如表1所示。由于國(guó)內(nèi)高速、高精度A／D轉(zhuǎn)換器的設(shè)計(jì)技術(shù)、工藝技術(shù)和測(cè)試技術(shù)與國(guó)外先進(jìn)水平還有一定的差距，同時(shí)研制的時(shí)鐘穩(wěn)定電路性能指標(biāo)還不理想，目前正在研制的時(shí)鐘占空比穩(wěn)定電路頻率為65 Msps，抖動(dòng)為2 ps。

時(shí)鐘占空比穩(wěn)定電路框圖如圖2虛框所示，它由輸入緩沖放大器A，開(kāi)關(guān)Kl、K2和DLL組成。

緩沖放大器A實(shí)際上只是對(duì)時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行緩沖。當(dāng)采樣時(shí)鐘頻率低于DLL工作下限時(shí)，開(kāi)關(guān)K1、K2向上閉合，DLL被旁路；開(kāi)關(guān)K1、K2向下閉合，DLL開(kāi)始作用，調(diào)節(jié)輸入時(shí)鐘信號(hào)相位。由于DLL具有延遲鎖相的功能，因此能很好地控制時(shí)鐘占空比，本設(shè)計(jì)中通過(guò)下文的具體電路能使輸入時(shí)鐘的占空比接近50％，抖動(dòng)小于0．5 ps。

延遲鎖相環(huán)在普通鎖相環(huán)（PLL）的基礎(chǔ)上，用電壓控制延遲線代替了壓控振蕩器，其結(jié)構(gòu)框圖如圖3所示。其中CKin和CK4之間的相位差用一個(gè)鑒相器來(lái)檢測(cè)，產(chǎn)生成比例的平均電壓Vcont，通過(guò)這個(gè)電壓的負(fù)反饋來(lái)調(diào)節(jié)每一級(jí)的延時(shí)。對(duì)于大的環(huán)路增益，CKin和CK4之間的相位差很小，即這四級(jí)電路將時(shí)鐘幾乎準(zhǔn)確地延時(shí)了一個(gè)周期，從而建立了準(zhǔn)確的時(shí)鐘沿間隔。這種電路結(jié)構(gòu)被稱為延遲鎖相環(huán)，是為了強(qiáng)調(diào)它采用了一個(gè)電壓控制延遲線電路而不是VCO。實(shí)際上，為獲得無(wú)窮大的環(huán)路增益，需要在PD和LPF之間插入電荷泵。

延遲線與振蕩器相比受噪聲較小，這是因?yàn)椴ㄐ沃斜粨p壞的過(guò)零點(diǎn)在延遲線的末端就消失了，而在振蕩器電路中又會(huì)再循環(huán)，因而產(chǎn)生更多的損壞；其次，DLL中控制電壓的變化能迅速改變延遲時(shí)間?？傊?，PLL中用到的振蕩器存在不穩(wěn)定性和相位偏移的積累，因而在補(bǔ)償時(shí)鐘分別造成的時(shí)間延遲時(shí)，會(huì)降低PLL的性能。因此DLL的穩(wěn)定性和穩(wěn)定速度等問(wèn)題比PLL要好。

2 電路設(shè)計(jì)

2．1 電路原理圖

圖4中，虛框a中的電路為鑒相器（PD），S為鑒相器的控制端，只有為低電平時(shí)，鑒相器才起作用。壓控延遲線的輸出端VCDLout為鑒相器的輸入端，這個(gè)信號(hào)與時(shí)鐘信號(hào)CLK進(jìn)行比較，得出輸出信號(hào)A。由于S端低電平有效，CLK信號(hào)就是與它的反相延遲信號(hào)與非進(jìn)入后面的鎖存結(jié)構(gòu)。其實(shí)就是檢測(cè)下沿與另一個(gè)下沿組成一個(gè)占空比接近50％的時(shí)鐘信號(hào)。A信號(hào)經(jīng)過(guò)一個(gè)電阻R傳入電荷泵中（其實(shí)在鑒相器的輸出端可以加一個(gè)反相器再加一個(gè)電容濾波）。虛框b為電荷泵，由一個(gè)運(yùn)算放大器組成。其中F端接一個(gè)電壓值為基準(zhǔn)的一半的電壓，即為1．65 V。

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由m0、ml、m2、m3組成的鏡像是運(yùn)算放大器的啟動(dòng)電路，在運(yùn)算放大器不工作時(shí)對(duì)電容C1充電。電阻R1和電容C1構(gòu)成一個(gè)RC濾波器，對(duì)信號(hào)起到濾波的作用。m4、m5、m6三個(gè)晶體管構(gòu)成DLL的延遲線（VCDL）。在這個(gè)電路中只需要一級(jí)延遲就足夠了。在這個(gè)延遲線旁邊的電容C2的值越大，則延遲越多。C2旁邊三個(gè)反相器構(gòu)成一個(gè)鎖存結(jié)構(gòu)，它的主要作用就是輸出一個(gè)比較理想的方波。

2. 2電路仿真與分析

對(duì)圖4的電路，在Cadence spectre環(huán)境下進(jìn)行了仿真。輸入電平的周期為4 ns，時(shí)鐘占空比為45％，基準(zhǔn)電壓為3．3 V。運(yùn)算放大器與電容c．組成電荷泵。電荷泵的輸出見(jiàn)圖5。時(shí)鐘穩(wěn)定電路穩(wěn)定工作，Vout有30 mV的波動(dòng)，Vout波動(dòng)越小表示壓控延遲線時(shí)鐘輸出的抖動(dòng)越小。

此外，還可以得到，運(yùn)算放大器的閉環(huán)增益為75．074 9 dB。0 dB對(duì)應(yīng)的相位為一109．818°，所以它的相位裕度為70．182°。顯然，該運(yùn)算放大器的參數(shù)是比較好的。

圖6為時(shí)鐘占空比調(diào)整情況。從圖中可以看出該DLL能調(diào)整占空比到49．4％（1．977 4／4≈49．5％）。實(shí)際上該時(shí)鐘穩(wěn)定電路在時(shí)鐘周期4 ns時(shí)，能調(diào)節(jié)25％~75％的占空比接近于50％左右；而在時(shí)鐘周期10 ns時(shí)，可調(diào)節(jié)的范圍達(dá)到10％~90％。

圖7為延遲鎖相環(huán)的輸出眼圖。其實(shí)在A、B之間有幾百條上升沿。從圖中可以看出，峰．峰值抖動(dòng)為341．8l fs。對(duì)于250 M這個(gè)抖動(dòng)值已經(jīng)相當(dāng)小了。

3 版圖設(shè)計(jì)

利用JAZZ提供的PDK進(jìn)行工藝接口，版圖設(shè)計(jì)由該公司提供相應(yīng)規(guī)則，具體針對(duì)線寬、接觸孔、通孔、線距等作了相關(guān)規(guī)定，并且設(shè)計(jì)過(guò)程中充分利用該公司提供的Pcell作相應(yīng)的版圖設(shè)計(jì)，這樣相應(yīng)工作得到了很多的簡(jiǎn)化。具體的設(shè)計(jì)規(guī)則涉及IP問(wèn)題，故略去。本文給出時(shí)鐘穩(wěn)定電路的整個(gè)版圖，如圖8所示。

該芯片總面積為0．74 mm×1．44 mm。其中，最左邊的CLK一，CLK+為輸入端，本文只用到CLK一一端作為輸入端就足夠了；右上角的CHKl、CHK2為輸出的大管子；最中間為運(yùn)算放大器。

4 結(jié)語(yǔ)

本文介紹了用一個(gè)簡(jiǎn)單的延遲鎖相環(huán)來(lái)實(shí)現(xiàn)高速A／D轉(zhuǎn)換器中的時(shí)鐘穩(wěn)定電路。該延遲鎖相環(huán)具有兩個(gè)作用：（1）調(diào)節(jié)采樣時(shí)鐘占空比；（2）控制采樣時(shí)鐘的抖動(dòng)。本文以一些典型的基奉模擬IC為設(shè)計(jì)基礎(chǔ)，著重對(duì)延遲鎖相環(huán)電路的各個(gè)單元電路設(shè)計(jì)逐一進(jìn)行了分析和研究，并對(duì)總體電路進(jìn)行了功能和參數(shù)的模擬分析，其結(jié)果較為滿意。在此基礎(chǔ)上進(jìn)行了工藝及版圖設(shè)計(jì)和分析，在完成工藝版圖設(shè)計(jì)后，采用DRC、ERC、Calibre、Extract和LVS等CAD工具對(duì)版圖進(jìn)行了參數(shù)提取及驗(yàn)證工作，保證了電路和版圖的一致性。

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