在LabVIEW中，您可以使用“E系列校準(zhǔn)VI(E-Series Calibrate VI)”來對(duì)數(shù)據(jù)采集設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)(圖2)。一旦板卡處于工作環(huán)境，經(jīng)常校準(zhǔn)能確保最精確、最穩(wěn)定及可重復(fù)的測(cè)量結(jié)果，在自校準(zhǔn)過程中可對(duì)模擬輸入和模擬輸出都能完成自校準(zhǔn)。

　　由于有增益前偏差、增益后偏差和增益誤差校準(zhǔn)，自校準(zhǔn)會(huì)建立一個(gè)校準(zhǔn)常數(shù)集合。完成一次校準(zhǔn)之后，新的校準(zhǔn)常數(shù)將被加載到板卡的存儲(chǔ)器上。舊的校準(zhǔn)常數(shù)可以保存到EEPROM中，這樣在必要時(shí)可以重新加載。一旦板卡停止供電，如果還需要校準(zhǔn)常數(shù)，那保存工作則是非常重要的。如果沒有把校準(zhǔn)常數(shù)保存到EEPROM中，關(guān)閉計(jì)算機(jī)之后這些數(shù)據(jù)就丟失了。

　　放大器的缺陷或者模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換會(huì)產(chǎn)生非線性誤差。在輸入范圍內(nèi)，增益系數(shù)的微小變化就會(huì)產(chǎn)生非線性誤差，這種誤差一般表示為滿量程的百分?jǐn)?shù)。到現(xiàn)在還沒有一種簡單的校準(zhǔn)方法能夠補(bǔ)償這種非線性誤差。因此仔細(xì)挑選數(shù)據(jù)采集卡是非常關(guān)鍵的。設(shè)備的相關(guān)精度表示非線性誤差的總值，相關(guān)精度定義為數(shù)據(jù)采集設(shè)備測(cè)量精度的最低有效位數(shù)。它包括所有非線性誤差和量化誤差，不包括偏差和增益誤差。知道了數(shù)據(jù)采集卡的相關(guān)精度就可以為所有讀數(shù)建立容限。

　　為進(jìn)一步提高測(cè)試結(jié)果的精度，還必須補(bǔ)償任何偏移誤差。偏移誤差在輸入范圍內(nèi)是不變的，因此，糾正起來相對(duì)容易些。您可以先測(cè)量短路通道的偏移誤差，然后用以后的讀數(shù)減去這個(gè)值。

　　采用優(yōu)秀的軟件技術(shù)

　　提高讀數(shù)精度的一種很好的軟件技術(shù)就是求平均值。求平均值的前提是噪聲和測(cè)量誤差是隨機(jī)的，因此，根據(jù)中心極限定理，誤差服從正態(tài)分布(高斯分布)。選取多個(gè)點(diǎn)后呈高斯分布，計(jì)算出平均值，平均值在統(tǒng)計(jì)上非常接近真實(shí)值。因此，所選取的要平均的點(diǎn)越多，平均值的標(biāo)準(zhǔn)偏差就越小。因?yàn)闃?biāo)準(zhǔn)偏差會(huì)隨著樣本數(shù)量增加而減小，所以應(yīng)當(dāng)盡可能提高用于平均的采樣點(diǎn)數(shù)。

　　定期的自校準(zhǔn)也是一種好方法，它能夠在任何時(shí)候保持測(cè)量精度。執(zhí)行定期內(nèi)部校準(zhǔn)(建議每天進(jìn)行)可以補(bǔ)償溫度和環(huán)境變化引起的誤差。