基于Cortex—M3的電池內(nèi)阻檢測系統(tǒng)設計與實現(xiàn)

　　電源是電子、電器設備的重要組成部分，而電池則是移動電子產(chǎn)品中不可或缺的電源部件。電子產(chǎn)品中的電源或電池模塊直接影響電子產(chǎn)品的工作狀況。對于移動電子、電器產(chǎn)品，大到工業(yè)設備，如電動汽車、礦山設備，中到家用電動摩托車，小至手機、Ipad等手持設備，無一不與電池設備有關，電池性能對電子、電器設備性能具有舉足輕重的作用。電池的性能指標包括：電池容量、能比、負載特性、壽命等多項參數(shù)，而電池性能的評估，一般是通過對電池內(nèi)阻參數(shù)的測量得到，因為電池內(nèi)阻直接影響電池的負載能力，也是間接評估電池性能的依據(jù)。

　　目前國內(nèi)外測量電池內(nèi)阻的常見方法有密度法、開路電壓法、直流放電法和交流注入法等多種測量方法。上述方法，適用于小容量電池或?qū)嶒炇覝y量，對于大容量或超大容量電池測量，存在測量精度差、發(fā)熱、易損電池等致命問題，是工業(yè)應用中亟待解決的問題，大容量電池性能測量難以通過直流放電法精確測量。

　　在實驗室精密測量實驗中，常采用電位差原理測量精密表頭或小容量電池內(nèi)阻。該原理的測量精度，取決于測量儀器精度、測量方法、被測對象內(nèi)阻的大小、測量過程、與

　　內(nèi)阻等效串聯(lián)的連線電阻等多種因素。例如：小容量疊層電池，由于內(nèi)阻較大，且對測量過程無特殊要求，用電位差原理，可得到很高的測量精度，也不會對電源造成不良影響但該原理不能用于大容量電池的內(nèi)阻測量，原因在于：1）長時間（秒級）大電流放電易損電池;2）線路電阻嚴重影響測量精度。

　　根據(jù)上述測量原理存在的問題，綜合開路電壓法和直流放電法原理，設計了基于位差原理和CORTEX—M3微處理器控制的電池內(nèi)阻測試設備，即分別測量電池的空載電壓Ue和負載電壓UL，利用測量參數(shù)Ue、UL和已知負載電阻RL，通過計算間接測量電池內(nèi)阻Ri，其優(yōu)點在于：1）勿需大電流放電，避免電池及觸頭發(fā)熱現(xiàn)象;2）瞬間（微秒級）放電和快速測量，無損電池;3）線路電阻與測量結果無關，測量精度極高。該原理在工業(yè)檢測應用中得到了驗證。

　　1 測量原理

　　1.1 測量電路

　　考慮到Cortex—M3微處理器（STM32F103）數(shù)據(jù)采集的電平要求及原理驗證測試的方便，采用標稱3.6 V的大容量鋰電池及分壓電路作為測試電路，如圖1所示。

　　1. 2 元件作用及參數(shù)選擇

　　E：等效的理想電壓源，待測參量;Ri：串聯(lián)等效的電池內(nèi)阻，待測參量;

　　負載測量支路：包括K2開關和分壓電阻Rl1、Rl2。Rl1和R2組成負載分壓器，電阻參數(shù)選擇，應滿足數(shù)據(jù)采集端口的電平要求和重負載放電的要求，本支路選擇R1=1 Ω，R2= 2Ω。

　　空載測量支路：包括開關K1和分壓電阻Re1、Re2。Re1和Re2組成空載分壓器，分壓同比RL支路，但其參數(shù)選擇應遠大于RL支路，以不影響空載電壓的測量精度。本支路選擇R1=1 kΩ，R2=2 kΩ，分壓比相同，支路電流相差1 000倍，滿足上述測量條件。

　　UE0、UL0：分別是空載和負載電壓測量端，利用測量數(shù)據(jù)，計算并間接測量電池的空載及負載狀態(tài)的電池端電壓U0，并根據(jù)位差間接測量電源內(nèi)阻Ri。

　　K1和K2是用于測量控制的電子開關，其通態(tài)電阻僅為12 mΩ左右，可忽略其對電路的影響。

　　1.3 測量原理

　　圖1電路中，兩條支路的工作分別由K1、K2電子開關控制，且不同步。空載電壓測量時，斷開K2，閉合K1，根據(jù)電阻分壓原理，得到空載分壓輸出為：

　　2 仿真測試

　　利用電路仿真軟件對上述公式進行仿真驗證。仿真測試中：仿真軟件為TINA V8.0工業(yè)版;空載測試支路參數(shù)選擇：（Re1+Re2）》》（Rl1+Rl2）;內(nèi)阻Ri：變參數(shù)測試驗證;仿真測試電路：參照圖1。

　　2.1 仿真測試電路

　　分別接通和斷開圖1電路中的K1和K2測試開關，則空載電壓和負載電壓仿真測試等效電路如圖2所示，圖2（a）表示空載仿真測試圖，圖2（b）表示負載仿真測試圖。

　　2.2 仿真測試驗證

　　根據(jù)上述參數(shù)選取原則，選擇圖2所示元件參數(shù)，利用公式（5）計算不同Ri時的仿真測量值及誤差分析，如表1所示。

　　表1的測試結果驗證了利用位差原理測量電源或電池內(nèi)阻的原理正確，具有極高的精度。

　　3 硬件設計

　　實際測試系統(tǒng)的實現(xiàn)是基于Cortex—M3架構的32位微處理器，利用片上內(nèi)置的自校準、高速、高性能12位ADC數(shù)據(jù)采集模塊，并采用分時邏輯控制原理實現(xiàn)空載電壓和負載

　　電壓的測試，以消除由于測量過程引起的電池發(fā)熱、損壞等問題。

　　測試系統(tǒng)結構圖及原理圖如圖3所示。

　　電路圖說明：R1～R3、T1、M1——空載測量控制開關。R4～R6、T2、M2——負載測量控制開關。其他元器件作用及功能同前。

　　4 軟件設計

　　在實際應用中，僅測量靜態(tài)內(nèi)阻（即單點測量）可以滿足一般的工業(yè)應用要求，但在電池或電源性能研究應用中，則同時要求跟蹤電源特性，即電源內(nèi)阻的動態(tài)性能測量。本

　　系統(tǒng)設計具有靜態(tài)內(nèi)阻和動態(tài)內(nèi)阻測量功能。如圖5和圖6所示。

　　圖5表示靜態(tài)（單點）數(shù)據(jù)采集流程圖，靜態(tài)（單點）測試邏輯輯是根據(jù)單點數(shù)據(jù)采集而進行的。圖6表示動態(tài)（多點）數(shù)據(jù)采集流程圖，動態(tài)監(jiān)測要求連續(xù)曲線輸出，以實現(xiàn)精密、直觀測量。

　　5 測試結果

　　5.1 負載單點測量數(shù)據(jù)

　　下表列出了3種低效手機電池、單點、重復（4次）測試的內(nèi)阻數(shù)據(jù)。