源測(cè)量單元(SMU)可同時(shí)輸出和測(cè)量電壓、電流,廣泛用于器件與材料的I-V特性表征,尤其擅長(zhǎng)低電流測(cè)量。在測(cè)試系統(tǒng)中存在長(zhǎng)電纜或高寄生電容的情況下,部分SMU可能因無(wú)法容忍負(fù)載電容而產(chǎn)生讀數(shù)噪聲或振蕩。
2025-06-04 10:19:37
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使用TSP Toolkit腳本開(kāi)發(fā)插件(Visual Studio Code擴(kuò)展程序)可降低對(duì)多種被測(cè)器件,例如如多端半導(dǎo)體元件、太陽(yáng)能電池等,進(jìn)行電流-電壓(I-V特性)測(cè)試的開(kāi)發(fā)時(shí)間與復(fù)雜度
2025-11-24 13:53:55
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可以通過(guò)很多方式在bioFETs上進(jìn)行DC I-V測(cè)試。最簡(jiǎn)便的方式是使用多個(gè)源測(cè)量單元(SMUs),SMU是一種同時(shí)提供和測(cè)量電流和電壓的儀器。
2021-04-28 09:47:57
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,最大限度地減少誤差的外部來(lái)源,而且需要有快的測(cè)試速度和高的測(cè)試可靠性做保證。氣敏電阻/壓敏電阻I-V特性測(cè)試傳統(tǒng)需要幾臺(tái)儀器完成,如數(shù)字表、電壓源、電流源等。然而,由數(shù)臺(tái)儀器組成的系統(tǒng)需要分別進(jìn)行編程、
2024-06-06 15:43:31
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。Keithley TSP Toolkit程控開(kāi)發(fā)輔助工具,是一種新的腳本開(kāi)發(fā)環(huán)境,采用Keithley的TSP 指令并利用設(shè)備端可內(nèi)置腳本能力,使得程控軟件開(kāi)發(fā)變得比以往更加簡(jiǎn)單和高效。
2025-01-03 15:53:28
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曲線追蹤儀是一種基礎(chǔ)電子測(cè)試設(shè)備,通過(guò)分析半導(dǎo)體器件(如二極管、晶體管、晶閘管等)的特點(diǎn),用來(lái)執(zhí)行I-V曲線追蹤。它們通常用于器件可靠性應(yīng)用中,如故障分析和參數(shù)表征。
2021-09-14 10:51:52
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源表型產(chǎn)品介紹2600A系列數(shù)字源表 吉時(shí)利新的I-V源-測(cè)量?jī)x器,既可以用作桌面級(jí)I-V特性分析工具,也可以成為多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)的組 成部分。對(duì)于桌面級(jí)的應(yīng)用,2600A系列提供一款嵌入式TSP
2021-12-11 12:39:35
內(nèi)置的基于 Java 的測(cè)試軟件可通過(guò)任何瀏覽器實(shí)現(xiàn)真正的即插即用 I/V 表征和測(cè)試。TSP(測(cè)試腳本處理)技術(shù)在儀器內(nèi)嵌入完整的測(cè)試程序,以實(shí)現(xiàn)一流的系統(tǒng)級(jí)吞吐量無(wú)需主機(jī)的多通道并行測(cè)試
2021-09-13 08:40:23
瀏覽器支持真正的即插即用I/V特性分析和測(cè)試?利用TSP (測(cè)試腳本處理)技術(shù),在儀器內(nèi)嵌入完整的測(cè)試程序,實(shí)現(xiàn)業(yè)界最佳的系統(tǒng)級(jí)吞吐量?TSP-Link擴(kuò)展技術(shù),在無(wú)需主機(jī)情況下,實(shí)現(xiàn)多通道并行測(cè)試
2020-06-06 11:47:36
,其次為pFA。eFA通常為非破壞性的,包括I-V Curve測(cè)試,Bitmap,失效定位(Thermal/EMMI/OBIRCH)。pFA通常為破壞性的,包括wire cutting
2016-07-22 12:49:00
labview measure I-V是自帶的嗎?為什么我在文件夾里找不到?
2015-12-14 10:18:24
如何進(jìn)行超快I-V測(cè)量?下一代超快I-V測(cè)試系統(tǒng)關(guān)鍵的技術(shù)挑戰(zhàn)有哪些?
2021-04-15 06:33:03
辨率 - 電流最大值/最小值:1.5A直流、10A脈沖/100fA - 電壓最大值/最小值:200V/100nV 一般特性 - 內(nèi)建“即插即用”基于Java的I-V特性分析和測(cè)試軟件 - TSP?(測(cè)試腳本
2020-03-12 16:05:51
辨率 - 電流最大值/最小值:1.5A直流、10A脈沖/100fA - 電壓最大值/最小值:200V/100nV 一般特性 - 內(nèi)建“即插即用”基于Java的I-V特性分析和測(cè)試軟件 - TSP?(測(cè)試腳本
2020-03-12 16:06:07
2.0、LXI-C、GPIB、RS-232以及數(shù)字I/O接口?免費(fèi)軟件驅(qū)動(dòng)與開(kāi)發(fā)/調(diào)試工具?可選配ACS-Basic版本半導(dǎo)體器件特性分析軟件典型應(yīng)用:各種器件的I-V功能測(cè)試和特征分析,包括:?分立
2020-09-07 15:38:36
-測(cè)量?jī)x器,既可以用作桌面級(jí)I-V特性分析工具,也可以成為多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)的組成部分。對(duì)于桌面級(jí)的應(yīng)用,2600A系列提供一款嵌入式TSP? Express測(cè)試軟件,允許用戶快速、方便地進(jìn)行常用
2021-11-19 11:58:20
。? * ?一個(gè)緊湊的單元中綜合了如下功能:精密電壓源、高精度電流源、數(shù)字多用表、任意波形發(fā)生器、電壓或電流脈沖發(fā)生器、電子負(fù)載以及觸發(fā)控制器 代碼后向兼容2 6 0 0系列數(shù)字源表,便于更換 TSP? Express軟件工具實(shí)現(xiàn)快速、便捷的I-V測(cè)試 精密定時(shí)和信道同步(
2021-11-29 10:38:11
TSPExpress軟件工具使用戶無(wú)需編程或者安裝軟件即可快速而方便地進(jìn)√行常見(jiàn)的I-V測(cè)試。對(duì)于系統(tǒng)級(jí)應(yīng)用,2600A系列的測(cè)試腳本處理器(TSP)架構(gòu)以及√并行測(cè)執(zhí)行、精確定時(shí)等新功能實(shí)現(xiàn)了業(yè)界高的測(cè)試產(chǎn)能,而且
2018-11-09 11:30:30
脈沖/100fA~電壓大值/小值:200V/100nV一般特性~內(nèi)建“即插即用”基于Java的I-V特性分析和測(cè)試軟件~TSP?(測(cè)試腳本處理)技術(shù)在測(cè)量?jī)x器內(nèi)嵌入了完整測(cè)試程序~TSP-Link?擴(kuò)展
2021-12-15 16:44:18
控制器 代碼后向兼容2600系列數(shù)字源表,便于更換TSP? Express軟件工具實(shí)現(xiàn)快速、便捷的I-V測(cè)試 精密定時(shí)和信道同步(
2018-09-04 10:49:34
光電測(cè)試技術(shù)分析有源的光電器件是一個(gè)基本的半導(dǎo)體結(jié),為了更全面的測(cè)試,不僅要求對(duì)其做正向的I-V特性測(cè)試,也要求監(jiān)測(cè)反向的I-V特性。傳統(tǒng)的激光二極管電流驅(qū)動(dòng)在實(shí)驗(yàn)室級(jí)別是合適的,但是對(duì)于開(kāi)發(fā)半導(dǎo)體
2009-12-09 10:47:38
我的程序是基于labview的I-V測(cè)試系統(tǒng),利用串口接收數(shù)據(jù),怎么將數(shù)據(jù)中的電流、電壓用I-V曲線波形 顯示出來(lái)??求高手給個(gè)例程。
2012-05-31 12:37:48
半導(dǎo)體二極管的I-V特性
2019-10-16 17:32:16
控制器代碼后向兼容2600系列數(shù)字源表,便于更換TSP?Express軟件工具實(shí)現(xiàn)快速、便捷的I-V測(cè)試精密定時(shí)和信道同步(
2018-08-23 10:07:49
用作桌面級(jí)I-V特性分析工具,也可以成為多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)的組成部分。對(duì)于桌面級(jí)的應(yīng)用,2600A系列提供一款嵌入式TSP? Express測(cè)試軟件,允許用戶快速、方便地進(jìn)行常用的I-V測(cè)試,無(wú)需編程或
2021-06-21 16:02:05
。通常使用I-V特性分析,或I-V曲線,來(lái)決定器件的基本參數(shù)。微電子器件種類(lèi)繁多,引腳數(shù)量和待測(cè)參數(shù)各不相同,除此以外,新材料和新器件對(duì)測(cè)試設(shè)備提出了更高的要求,要求測(cè)試設(shè)備具備更高的低電流測(cè)試能力,且
2019-10-08 15:41:37
工廠閑置/倒閉電子儀器,個(gè)人處理儀器,歡迎來(lái)電. Keithley 2651A與2657A大電流源表單元主要用于對(duì)高功率半導(dǎo)體器件進(jìn)行I-V參數(shù)測(cè)試和特性分析,應(yīng)用領(lǐng)域包括高功率器件的研發(fā),可靠性測(cè)試
2016-07-20 14:19:44
來(lái)電.回收工廠閑置/倒閉電子儀器,個(gè)人處理儀器,歡迎來(lái)電. Keithley 2651A與2657A大電流源表單元主要用于對(duì)高功率半導(dǎo)體器件進(jìn)行I-V參數(shù)測(cè)試和特性分析,應(yīng)用領(lǐng)域包括高功率器件的研發(fā),可靠性
2016-07-27 16:28:56
一款嵌入式TSP Express測(cè)試軟件,允許用戶快速、方便地進(jìn)行常 用的I-V測(cè)試,無(wú)需編程或安裝軟件。對(duì)于系統(tǒng)級(jí)應(yīng)用,2600A的TSP架構(gòu)和新增功能,例如,并行測(cè)試能力和精 密時(shí)鐘同步,提供了
2016-07-27 18:35:30
TSPExpress軟件工具使用戶無(wú)需編程或者安裝軟件即可快速而方便地進(jìn)√行常見(jiàn)的I-V測(cè)試。對(duì)于系統(tǒng)級(jí)應(yīng)用,2600A系列的測(cè)試腳本處理器(TSP)架構(gòu)以及√并行測(cè)執(zhí)行、精確定時(shí)等新功能實(shí)現(xiàn)了業(yè)界高的測(cè)試
2018-11-18 10:38:08
小值:1.5A直流、10A脈沖/100fA- 電壓zui大值/zui小值:200V/100nV 一般特性回收吉時(shí)利2612B- 內(nèi)建“即插即用”基于Java的I-V特性分析和測(cè)試軟件- TSP?(測(cè)試
2020-03-13 09:10:25
網(wǎng)絡(luò)分析儀。該儀器符合LXI C類(lèi)。 另外,如果人們需要某種遠(yuǎn)程訪問(wèn)形式,或者必須覆蓋長(zhǎng)距離,那么事實(shí)能夠證明LXI是首選技術(shù)。例如,如果人們需要對(duì)雷達(dá)工作距離開(kāi)展測(cè)試,其中的信號(hào)源和接收器相隔數(shù)百
2019-04-26 09:40:01
及導(dǎo)體組件特性量測(cè)、電性失效分析量測(cè)(EFA, Electrical Failure Analysis)、測(cè)I-V、量曲線及曲線繪圖(IV Curve),其特點(diǎn)是可一次量測(cè)樣品各腳位的阻値差異,腳
2018-08-24 09:02:36
GaN PA 設(shè)計(jì)?)后,了解I-V 曲線(亦稱(chēng)為電流-電壓特性曲線)是一個(gè)很好的起點(diǎn)。本篇文章探討I-V 曲線的重要性,及其在非線性GaN 模型(如Modelithics Qorvo GaN 庫(kù)里的模型)中的表示如何精確高效的完成GaN PA中的I-V曲線設(shè)計(jì)?
2019-07-31 06:44:26
大家好:我正在使用E5270B儀器對(duì)MOS器件進(jìn)行基本的I-V測(cè)量(改變漏極電壓和監(jiān)測(cè)一個(gè)柵極電壓下的漏極電流)。與設(shè)定合規(guī)性不同,我想知道一旦測(cè)量的漏極電流值達(dá)到特定點(diǎn),是否有任何方法可以停止測(cè)量
2019-08-21 06:06:43
如何利用2420型高電流源表去測(cè)量光電池I-V特性?有哪些步驟?
2021-05-11 06:12:00
-------------------------------------2600B系列數(shù)字源表是吉時(shí)利最新的I-V源-測(cè)量?jī)x器,既可以用作桌面級(jí)I-V特性分析工具,也可以成為多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)的組成部分。對(duì)于桌面級(jí)的應(yīng)用,2600B系列提供一款嵌入式TSP
2018-11-07 17:26:38
, 可提高臺(tái)式I-V表征, 高度自動(dòng)化生產(chǎn)測(cè)試應(yīng)用的生產(chǎn)率. 具有100mV至40V電壓, 100nA至10A電流測(cè)量范圍 (源). 該器件是緊密集成, 四象限電壓/電流源和測(cè)量?jī)x器, 6 1/2分辨率
2021-06-09 10:13:47
脈沖CH基本精度I 0.02% 0.02%基本精度V 0.015% 0.015%典型應(yīng)用 I-V功能測(cè)試和特性分析,晶圓級(jí)可靠性測(cè)試,測(cè)試集成電路如RFIC、ASIC、SOC,測(cè)試光電器件如LED
2020-04-08 15:17:52
2400型數(shù)字源表源測(cè)量單元(SMU)儀表測(cè)試代碼兼容·USB 2.0、LXI-C、GPIB、RS-232以及數(shù)字I/O接口·免費(fèi)軟件驅(qū)動(dòng)與開(kāi)發(fā)/調(diào)試工具·可選配ACS-Basic版本半導(dǎo)體器件特性分析
2020-04-24 15:52:21
銷(xiāo)售、維修、回收 高頻 二手儀器。 Keithley 2651A與2657A大電流源表單元主要用于對(duì)高功率半導(dǎo)體器件進(jìn)行I-V參數(shù)測(cè)試和特性分析,應(yīng)用領(lǐng)域包括高功率器件的研發(fā),可靠性測(cè)試,生產(chǎn)測(cè)試,針對(duì)
2021-12-08 15:56:19
精確的光伏 I-V 特性分析用于 PV 電池板模塊的 I-V 掃描測(cè)試電路
2021-01-21 07:26:08
源、電壓/電流表、掃描分析儀、函數(shù)發(fā)生器,為這類(lèi)測(cè)試提供了完美的解決方案。源表還包括可編程負(fù)載,可以測(cè)量元器件上的I-V特點(diǎn),從幾μV到3KV,從幾fA到100A。一個(gè)很好的插件是IVy應(yīng)用,可以從
2016-08-18 16:23:38
最新的I-V源測(cè)量?jī)x器,可用作臺(tái)式I-V特征分析工具或者構(gòu)成多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)的組成模塊。作為臺(tái)式儀器使用時(shí),2600A系列儀器提供了一個(gè)嵌入式TSP Express軟件工具,使用戶無(wú)需編程或者安裝
2020-06-03 17:52:05
先進(jìn)的自動(dòng)化特性及軟件工具使得吉時(shí)利2600系列數(shù)字源表系列成為廣泛用于多種器件I-V測(cè)試的理想方案。長(zhǎng)期回收 吉時(shí)利2611A 二手?jǐn)?shù)字源表-二手吉時(shí)利2611A吉時(shí)利2611型單通道系統(tǒng)源表
2021-06-01 15:32:52
晶體硅光伏(PV)方陣I-V特性的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量:本標(biāo)準(zhǔn)描述晶體硅光伏方陣特性的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量及將測(cè)得的數(shù)據(jù)外推到標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件或其他選定的溫度和輻照度條件下的程序.
2009-02-23 22:01:14
17 2600A系列數(shù)字源表:吉時(shí)利新的I-V源-測(cè)量?jī)x器,既可以用作桌面級(jí)I-V特性分析工具,也可以成為多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)的組成部分。對(duì)于桌面級(jí)的應(yīng)用,2600A系列提供一款嵌入式TSP
2022-08-03 15:51:16
本文簡(jiǎn)述了測(cè)試儀器總線的發(fā)展歷程,分析了新一代測(cè)試總線-LXI技術(shù)的起因,介紹LXI的各項(xiàng)特點(diǎn)以及基于LXI總線的測(cè)試系統(tǒng)的組建技術(shù),最后展望了LXI總線測(cè)試平臺(tái)在未來(lái)自動(dòng)測(cè)
2009-07-09 15:19:21
14 吉時(shí)利最新的I-V源-測(cè)量?jī)x器,既可以用作桌面級(jí)I-V特性分析工具,也可以成為多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)的組成部分。對(duì)于桌面級(jí)的應(yīng)用,吉時(shí)利2600A系列提供一款嵌入式TSP Express測(cè)試軟件,允許
2023-04-07 13:57:42
數(shù)字源表用于光電I-V測(cè)試使用手冊(cè)
吉時(shí)利數(shù)字源表系列是專(zhuān)為緊密結(jié)合精密電壓源和電流源以及同時(shí)測(cè)量(包括源回讀)的測(cè)試應(yīng)用要求開(kāi)發(fā)的。在特性分析過(guò)
2010-03-13 09:21:57
19 的組成部分。對(duì)于桌面級(jí)的應(yīng)用,2600A系列提供一款嵌入式TSP? Express測(cè)試軟件,允許用戶快速、方便地進(jìn)行常用的I-V測(cè)試,無(wú)需編程或安裝軟件。對(duì)于系統(tǒng)級(jí)應(yīng)用,
2023-08-08 14:21:06
2600A系列數(shù)字源表是吉時(shí)利最新的I-V源-測(cè)量?jī)x器,既可以用作桌面級(jí)I-V特性分析工具,也可以成為多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)的組成部分。對(duì)于桌面級(jí)的應(yīng)用,2600A系列提供一款嵌入式TSP
2024-04-29 09:04:31
產(chǎn)品概述Keithley 2602A源表既可用作臺(tái)式I-V特性工具,也可用作多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)的構(gòu)建模塊組件。對(duì)于臺(tái)式使用,Keithley 2602A源表具有嵌入式TSP Express軟件工具
2024-06-04 15:38:06
圖文詳情2600B系列數(shù)字源表是吉時(shí)利的I-V源-測(cè)量?jī)x器,既可以用作桌面級(jí)I-V特性分析工具,也可以成為多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)的組成部分。對(duì)于桌面級(jí)的應(yīng)用,2600B系列提供一款嵌入式TSP
2024-06-20 09:53:37
2600B系列數(shù)字源表是吉時(shí)利的I-V源-測(cè)量?jī)x器,既可以用作桌面級(jí)I-V特性分析工具,也可以成為多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)的組成部分。對(duì)于桌面級(jí)的應(yīng)用,2600B系列提供一款嵌入式TSP
2024-06-25 16:22:27
嵌入式TSP Express軟件工具,使用戶無(wú)需編程或者安裝軟件即可快速而方便地進(jìn)行常見(jiàn)的I-V測(cè)試。對(duì)于系統(tǒng)級(jí)應(yīng)用,2600A系列的測(cè)試腳本處理器(TSP)架構(gòu)以
2024-07-22 11:41:30
描述:2600A系列數(shù)字源表是吉時(shí)利新的I-V源-測(cè)量?jī)x器,既可以用作桌面級(jí)I-V特性分析工具,也可以成為多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)的組成部分。對(duì)于桌面級(jí)的應(yīng)用,2600A系列提供一款嵌入式TSP
2024-08-09 14:29:07
通道I-V測(cè)試系統(tǒng)的組成部分。對(duì)于桌面級(jí)的應(yīng)用,2600A系列提供一款嵌入式TSP? Express測(cè)試軟件,允許用戶快速、方便地進(jìn)行常用的I-V測(cè)試,無(wú)需編程或
2024-09-03 16:44:50
多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)的組成部分。對(duì)于桌面級(jí)的應(yīng)用,2600A系列提供一款嵌入式TSP? Express測(cè)試軟件,允許用戶快速、方便地進(jìn)行常用的I-V測(cè)試,無(wú)需編程
2025-08-18 17:15:59
力科推出用于PCI-Express 3.0協(xié)議測(cè)試的分析工具
力科今天宣布推出新的分析工具顯著擴(kuò)展PCI-Express 3.0協(xié)議測(cè)試。新的軟件工具叫SimPASS,針對(duì)硅前期的仿真和設(shè)
2010-02-05 10:16:31
949 吉時(shí)利宣布推出了最新的4225-PMU超快I-V測(cè)試模塊
吉時(shí)利儀器公司今日宣布推出了最新的4225-PMU超快I-V測(cè)試模塊,進(jìn)一步豐富了4200-SCS半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)的可選儀器系
2010-02-24 10:12:24
1247 與直流電流-電壓(I-V)和電容-電壓(C-V)測(cè)量一樣,是否能夠進(jìn)行超快I-V測(cè)量對(duì)于從事新材料、器件或工藝研發(fā)特征
2010-12-27 08:56:48
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Ultra-fast I-V tests (pulsed I-V, transient I-V, and pulsed sourcing ) have become increasingly
2011-03-28 17:15:14
0 脈沖測(cè)試為人們和研究納米材料、納米電子和目前的半導(dǎo)體器件提供了一種重要手段。在加電壓脈沖的同時(shí)測(cè)量直流電流是電荷泵的基本原理
2011-05-11 11:49:24
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,為太陽(yáng)電池灌電流。對(duì)太陽(yáng)能電池進(jìn)行電流-電壓(I-V)特性分析對(duì)推導(dǎo)有關(guān)其性能的重要參數(shù)至關(guān)重要,包括最大電流(Imax)和電壓(Vmax)、開(kāi)路電壓(Voc)、短路電流(Isc)以及效率(η)。
2015-05-28 11:23:47
125 本文提出了一種基于拉格朗日插值多項(xiàng)式的光伏電池I-V特性的新的建模方法。該方法利用桑迪亞(Sandia)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室I-V特性曲線上的五個(gè)點(diǎn)的值作為節(jié)點(diǎn)進(jìn)行拉格朗日插值,最終得到 特性顯式表達(dá)
2016-01-04 17:13:49
22 MAX478 PC打印口控制的I-V曲線示蹤儀
2016-08-18 18:24:01
0 MAX663_664 PC打印口控制的I-V曲線示蹤儀
2016-08-18 18:28:55
0 本文詳細(xì)介紹了用4225-PRM遠(yuǎn)程放大器_開(kāi)關(guān)模型實(shí)現(xiàn)對(duì)DC I-V、C-V、脈沖I-V測(cè)量的自動(dòng)轉(zhuǎn)換。
2017-11-15 15:29:05
15 虛斷指在理想情況下,流入集成運(yùn)算放大器輸入端電流為零。虛短是指在分析運(yùn)算放大器處于線性狀態(tài)時(shí),可把兩輸入端視為等電位,這一特性稱(chēng)為虛假短路。本文主要介紹了I-V轉(zhuǎn)化電路中運(yùn)放的虛短虛斷電路分析。
2017-12-26 17:19:38
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而且對(duì)于高電導(dǎo)率材料的電阻測(cè)量都非常重要。利于研究人員和電子行業(yè)測(cè)試工程師而言,這一功耗限制對(duì)當(dāng)前的器件與材料以及今后器件的特征分析提出了巨大的挑戰(zhàn)。 與微米級(jí)元件與材料的I-V曲線生成不同的是,對(duì)納米材料與器件的測(cè)量需
2018-01-21 16:43:01
1326 如何使用免費(fèi)軟件TSP Express 。將兩臺(tái)2651A高功率元表連接在一起輸出100A脈沖電流,同時(shí)還會(huì)向大家介紹如何使用18bit快速ADC異步輸出電壓及100A脈沖電流波形。
2018-06-25 16:49:00
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以6種常見(jiàn)的DC測(cè)試作為接入點(diǎn),為大家介紹如何更高效的進(jìn)行直流I-V特性分析。海報(bào)內(nèi)容包括:電阻測(cè)試,兩端子器件測(cè)量,記錄測(cè)量器件數(shù)據(jù),分析三端子器件的I-V參數(shù),計(jì)算器件功率和效率,捕獲瞬態(tài)測(cè)量。
2018-08-31 10:41:08
43 探測(cè)器的I-V特性可以為讀出電路設(shè)計(jì)提供重要依據(jù),為此在光電測(cè)試平臺(tái)采用keithley 4200-SCS半導(dǎo)體特性測(cè)試儀測(cè)試探測(cè)器特性。探測(cè)器陣列為2×8元,單元探測(cè)器面積為80×80μm.測(cè)試過(guò)程中作為公共電極的襯底電位固定,掃描單元探測(cè)器一端的電壓。
2018-11-20 09:03:00
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的電氣特性成為研究開(kāi)發(fā)和制造過(guò)程中的一部分。對(duì)太陽(yáng)能電池進(jìn)行 I-V 特性分析對(duì)推導(dǎo)有關(guān)其性能的重要參數(shù)至關(guān)重要,包括最大電流Imax和電壓Vmax、開(kāi)路電壓Voc、短路電流Isc以及效率η。
2020-09-29 09:11:43
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二極管是兩端口電子器件,支持電流沿著一個(gè)方向流動(dòng)(正向壓),并阻礙電流從反方向流動(dòng)(反向偏壓)。無(wú)論在研究實(shí)驗(yàn)室還是生產(chǎn)線,都要對(duì)封裝器件或在晶圓上進(jìn)行二極管I-V測(cè)試。
2020-09-29 15:19:47
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半導(dǎo)體分立器件是組成集成電路的基礎(chǔ),包含大量的雙端口或三端口器件,如二極管,晶體管,場(chǎng)效應(yīng)管等。 直流 I-V 測(cè)試則是表征微電子器件、工藝及材料特性的基石。通常使用 I-V 特性分析,或 I-V
2021-01-14 16:47:24
896 院校、研究所及研發(fā)型企業(yè)的“新寵“,今天安泰測(cè)試Agitek就給大家分享一下吉時(shí)利源表熱門(mén)應(yīng)用之在I-V二極管特性分析的應(yīng)用。
2021-04-29 15:00:39
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近期有很多用戶在網(wǎng)上咨詢(xún)I-V特性測(cè)試, I-V特性測(cè)試是很多研發(fā)型企業(yè)和高校研究的對(duì)象,分立器件I-V特性測(cè)試可以幫助工程師提取半導(dǎo)體器件的基本I-V特性參數(shù),并在整個(gè)工藝流程結(jié)束后評(píng)估器件的優(yōu)劣
2021-05-19 10:50:25
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I-V測(cè)試是二級(jí)管測(cè)試必不可少的項(xiàng)目。二極管I-V特性分析通常需要高靈敏電流表、電壓表、電壓源和電流源。吉時(shí)利源表2450是二極管特性分析的理想選擇,提供四象限精密電壓和電流源/負(fù)載,可精確地發(fā)起電壓或電流以及同時(shí)測(cè)量電壓和/或電流,其電壓和電流測(cè)量分辨率分別達(dá)到10 nV和10 fA。
2021-08-27 15:14:50
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TVS的雙極性和單極性區(qū)別的I-V圖
2022-06-21 15:03:44
5 精密型數(shù)字源表(SMU)是對(duì)太陽(yáng)能電池和各種其他器件的I-V特性進(jìn)行表征的最佳解決方案。其寬廣的電流和電壓測(cè)量范圍,可以為科研及生產(chǎn)制造提供卓越的測(cè)量性能。結(jié)合太陽(yáng)光模擬器以及專(zhuān)用的上位機(jī)軟件,支持
2022-11-11 15:25:24
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2600B系列數(shù)字源表是吉時(shí)利的I-V源-測(cè)量?jī)x器,既可以用作桌面級(jí)I-V特性分析工具,也
可以成為多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)的組成部分。對(duì)于桌面級(jí)的應(yīng)用,2600B系列提供一款嵌入式
TSP
2022-12-07 17:30:15
2045 600A系列數(shù)字源表是吉時(shí)利**新的I-V源-測(cè)量?jī)x器,既可以用作桌面級(jí)I-V特性分析工具,也可以成為多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)的組成部分。對(duì)于桌面級(jí)的應(yīng)用,2600A系列提供一款嵌入式TSP
2022-12-08 15:55:47
2027 器件的I-V功能測(cè)試和特征分析是實(shí)驗(yàn)過(guò)程中經(jīng)常需要測(cè)試的參數(shù)之一,一般我們用到源表進(jìn)行IV參數(shù)的測(cè)試,如果需要對(duì)測(cè)試的數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)IV曲線圖顯示及保存,可以用到源表測(cè)試軟件
2023-02-02 10:50:59
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IV曲線測(cè)試是一種常用的電源表測(cè)試方法,它可以測(cè)量電源表的輸出電壓和電流之間的關(guān)系,以及電源表的負(fù)載特性。在測(cè)試測(cè)量實(shí)驗(yàn)中,可以借助源表測(cè)試軟件來(lái)測(cè)試I-V曲線、I-P曲線、恒定輸出等。下面納米軟件Namisoft小編給大家分享一下:用源表測(cè)試軟件如何輸出I-V曲線、I-P曲線、恒定輸出。
2023-03-28 16:28:08
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的組成部分。對(duì)于桌面級(jí)的應(yīng)用,2600A系列提供一款嵌入式TSP? Express測(cè)試軟件,允許用戶快速、方便地進(jìn)行常用的I-V測(cè)試,無(wú)需編程或安裝軟件。對(duì)于系統(tǒng)級(jí)應(yīng)用,2600A的TSP架構(gòu)和新增功能,例如,并行測(cè)試能力和精密時(shí)鐘同步,提供了業(yè)界最高吞吐量,從而降低了測(cè)試成本。 2600A系列數(shù)字源表
2023-05-26 14:30:02
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吉時(shí)利2635A數(shù)字源表2635A單通道系統(tǒng)數(shù)字源表 2600A系列數(shù)字源表 2600A系列數(shù)字源表是吉時(shí)利*新的I-V源-測(cè)量?jī)x器,既可以用作桌面級(jí)I-V特性分析工具,也可以成為多通道I-V測(cè)試
2023-06-01 10:33:02
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開(kāi)啟高效準(zhǔn)確地光伏系統(tǒng)安裝與運(yùn)維 2023 年 8 月3日,福祿克公司重磅推出SMFT-1000系列多功能光伏I-V曲線測(cè)試儀,它擁有Fluke一貫的堅(jiān)固品質(zhì),滿足光伏現(xiàn)場(chǎng)對(duì)運(yùn)維工具簡(jiǎn)單輕便、智能
2023-08-24 14:40:19
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電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《由運(yùn)放組成的V-I、I-V轉(zhuǎn)換電路.zip》資料免費(fèi)下載
2023-11-21 09:38:25
9 SPA6100型半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測(cè)試系統(tǒng),具有高精度、寬測(cè)量范圍、快速靈活、兼容性強(qiáng)等優(yōu)勢(shì)。產(chǎn)品可以同時(shí)支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式
2023-12-01 14:00:36
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發(fā)生器和自動(dòng)電流-電壓(I-V)特性分析系統(tǒng),支持四象限工作。解決了傳統(tǒng)多臺(tái)測(cè)試儀表之間編程、同步、接線繁雜及總線傳輸慢等問(wèn)題。常見(jiàn)測(cè)試 半導(dǎo)體分立器件包含大
2024-06-06 16:07:15
0 在現(xiàn)代材料研究與光伏組件測(cè)試中,I-V曲線(電流-電壓特性曲線)是評(píng)估器件性能的關(guān)鍵指標(biāo)。吉時(shí)利數(shù)字源表憑借其高精度、多功能集成與自動(dòng)化特性,顯著提升了測(cè)試效率,為科研與工業(yè)應(yīng)用提供了高效解決方案
2025-11-13 11:47:01
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在半導(dǎo)體器件分析、光伏電池研究及材料科學(xué)領(lǐng)域,對(duì)多個(gè)器件或同一器件的不同端口進(jìn)行同步、精確的電流-電壓(I-V)特性測(cè)量是至關(guān)重要的。 吉時(shí)利(Keithley,現(xiàn)為是德科技旗下品牌)2612B
2025-12-18 11:09:15
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評(píng)論