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集成氮化鎵改變了傳統(tǒng)的智慧嗎

電子設計 ? 來源:電子設計 ? 作者:電子設計 ? 2021-11-10 09:38 ? 次閱讀
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作為電源電子工程師,有一個說法是沒有成功不基于電源設備爆炸的教訓。這在我多年調(diào)試基于硅的MOSFET的開關模式電源的經(jīng)驗中似乎是真的。正是通過嘗試、錯誤和研究設備故障,才學會了如何設計可靠工作的轉(zhuǎn)換器

氮化鎵(GaN)功率FET的早期階段,故障很常見。更嚴格的柵極環(huán)路設計要求,更高的dv/dt和共源電感的影響使得電路對寄生和噪聲更敏感。當TI推出第一個600V GaN功率級樣品時,我驚嘆于該產(chǎn)品的可靠性和其自我保護功能的有效性。即使功率級已經(jīng)通過嚴格的測試驗證,我以前的硅器件經(jīng)驗讓我對其在實際使用中的可靠性也感到好奇。更重要的是,這些功能會改變電路原型和調(diào)試的傳統(tǒng)智慧嗎?

在最近的交錯式轉(zhuǎn)換器設計中,我使用了兩個具有一些基本直流總線設計的TI半橋LMG3410-HB-EVM評估模塊(EVM),由UCD3138數(shù)字脈寬調(diào)制(PWM)控制器控制。當兩個交錯的半橋結合在一起時,我看到PWM信號反復受到高dv/dt(100V /ns)的影響,在480V引起擊穿FET,觸發(fā)集成過流保護(圖1)。

與大多數(shù)FET——在這種情況下會失效——不同,LMG3410集成功率級使我能夠在不發(fā)生損壞的情況下重復故障條件,快速調(diào)試到根本原因。這可能會非常辛苦的,而且傳統(tǒng)器件可能會不安全。

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1:擊穿事件之后功率級自動關閉(藍色:上部FET PWM;黃色:下部FET PWM;綠色:電感器電流

通過RDRV改變轉(zhuǎn)換速率,我發(fā)現(xiàn)單相操作的50V/ns或100V/ns工作穩(wěn)定,而使用兩相操作的100V/ns則不然。根本原因是共模(CM)噪聲污染和控制器外圍電路的非優(yōu)化布局,導致不同PWM通道之間的時鐘同步不匹配(圖2)。

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2PWM不同步導致電感電流浪涌(藍色:上部FET PWM;黃色:下部FET PWM;綠色:電感電流;紅色:故障信號觸發(fā))

TI的ISO7831數(shù)字信號隔離器提供了足夠高的CM瞬態(tài)抗擾度(CMTI)速率(>100V/ns),但隔離電源(通常具有高得多的CM電容)很容易以高dv/dt將噪聲從開關節(jié)點電壓耦合到控制側(cè)(圖3)。隨著多個相位同時操作,更多的CM噪聲會被注入到控制側(cè)。

電源設計人員有時忽視了這個問題,因為硅器件和一些帶有外部驅(qū)動器的GaN FET不會實現(xiàn)這么高的轉(zhuǎn)換速率。我成功地解決了這個問題,通過在上部FET的隔離電源上增加額外的CM扼流圈,改善了數(shù)字控制器的去耦環(huán)路,降低了控制器的接地彈跳和噪聲耦合。由于LMG3410的集成保護功能,在整個調(diào)試過程中,盡管多次出現(xiàn)CM噪聲引起的故障,我沒有遇到任何災難性故障。

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3:隔離電源和數(shù)字隔離器之間的CM電容

除了過流故障,過熱事件是電源轉(zhuǎn)換器中常見的情況。雖然有經(jīng)驗的工程師具有良好的散熱設計技能,但保持器件結點的冷卻仍然具有挑戰(zhàn)性,而且沒有太大的錯誤余地。隨著時間的推移,風扇故障或散熱器損壞等事件可能導致災難性故障。‘幸運的是,LMG3410集成了過熱保護,當我的風扇電源意外關閉時,LMG341就會起到保護作用。熱脫扣點設置為165°C,為短暫的溫度漂移留出足夠的空間,但防止器件因與冷卻相關的系統(tǒng)故障而遭受永久性損壞。

盡管GaN在系統(tǒng)效率、尺寸和冷卻方面具有優(yōu)勢,但其高開關速度和頻率也呈現(xiàn)出越來越大的挑戰(zhàn)。TI GaN產(chǎn)品的保護和其他集成功能正在改變使用分立Si MOSFET了解高速開關轉(zhuǎn)換器設計復雜性的傳統(tǒng)智慧。這些產(chǎn)品不僅在我們調(diào)試新設計時保護器件免受永久性損壞,還通過防止長期工作時的柵極過應力來提高可靠性,因為集成驅(qū)動器設計減少了柵極振蕩。

依據(jù)摩爾定律,全世界電子產(chǎn)品的尺寸已大幅降低,系統(tǒng)密度得到改善。由于GaN技術的發(fā)展和推出易于使用的GaN功率級(如具有自我保護功能的LMG3410),這一趨勢現(xiàn)在將發(fā)展到電源電子產(chǎn)品。

了解TI的GaN解決方案。

其他信息:

了解更多關于GaN的信息:

審核編輯:符乾江
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