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影響第三代半導(dǎo)體SiC MOS閾值電壓不穩(wěn)定的因素有哪些?如何應(yīng)對?

pss2019 ? 來源:pss2019 ? 作者:pss2019 ? 2023-05-09 14:59 ? 次閱讀
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碳化硅(SiC)之所以被電動車大量采用,因具有“高耐壓”、“低導(dǎo)通電阻”、“高頻”這三個特性,相較硅基半導(dǎo)體更適合車用。從硅基(Si)到碳化硅(SiC)MOS的技術(shù)發(fā)展與進步進程來看,面臨的最大挑戰(zhàn)是解決產(chǎn)品可靠性問題,而在諸多可靠性問題中尤以器件閾值電壓(Vth)的漂移最為關(guān)鍵,是近年來眾多科研工作關(guān)注的焦點,也是評價各家 SiC MOSFET 產(chǎn)品技術(shù)可靠性水平的核心參數(shù)。

由于SiC MOSFET與Si MOSFET特性的不同,SiC MOSFET的閾值電壓具有不穩(wěn)定性,在器件測試過程中閾值電壓會有明顯漂移,導(dǎo)致其電性能測試以及高溫柵偏試驗后的電測試結(jié)果嚴重依賴于測試條件。因此SiC MOSFET閾值電壓的準確測試,對于指導(dǎo)用戶應(yīng)用,評價SiC MOSFET技術(shù)狀態(tài)具有重要意義。

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根據(jù)第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)戰(zhàn)略聯(lián)盟目前的研究表明,導(dǎo)致SiC MOSFET的閾值電壓不穩(wěn)定的因素有以下幾種:

01柵壓偏置

通常情況下,負柵極偏置應(yīng)力會增加正電性氧化層陷阱的數(shù)量,導(dǎo)致器件閾值電壓的負向漂移,而正柵極偏置應(yīng)力使得電子被氧化層陷阱俘獲、界面陷阱密度增加,導(dǎo)致器件閾值電壓的正向漂移。

02測試時間

高溫柵偏試驗中采用閾值電壓快速測試方法,能夠觀測到更大比例受柵偏置影響改變電荷狀態(tài)的氧化層陷阱。反之,越慢的測試速度,測試過程越可能抵消之前偏置應(yīng)力的效果。

03柵壓掃描方式

SiC MOSFET高溫柵偏閾值漂移機理分析表明,偏置應(yīng)力施加時間決定了哪些氧化層陷阱可能會改變電荷狀態(tài),應(yīng)力施加時間越長,影響到氧化層中陷阱的深度越深,應(yīng)力施加時間越短,氧化層中就有越多的陷阱未受到柵偏置應(yīng)力的影響。

04測試時間間隔

國際上有很多相關(guān)研究表明,SiC MOSFET閾值電壓的穩(wěn)定性與測試延遲時間是強相關(guān)的,研究結(jié)果顯示,用時100μs的快速測試方法得到的器件閾值電壓變化量以及轉(zhuǎn)移特性曲線回滯量比耗時1s的測試方法大4倍。

05溫度條件

在高溫條件下,熱載流子效應(yīng)也會引起有效氧化層陷阱數(shù)量波動,或使SiC MOSFET氧化層陷阱數(shù)量增加,最終引起器件多項電性能參數(shù)的不穩(wěn)定和退化,例如平帶電壓VFB和VT漂移等。

根據(jù)JEDEC JEP183:2021《測量SiC MOSFETs閾值電壓(VT)的指南》、T_CITIIA 109-2022《電動車輛用碳化硅金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管(SiC MOSFET)模塊技術(shù)規(guī)范》、T/CASA 006-2020 《碳化硅金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管通用技術(shù)規(guī)范》等要求,目前,武漢普賽斯儀表自主開發(fā)出適用于碳化硅(SiC)功率器件閾值電壓測試及其它靜態(tài)參數(shù)測試的系列源表產(chǎn)品,覆蓋了現(xiàn)行所有可靠性測試方法。

針對硅基(Si)以及碳化硅(SiC)等功率器件靜態(tài)參數(shù)低壓模式的測量,建議選用P系列高精度臺式脈沖源表。P系列脈沖源表是在S系列直流源表的基礎(chǔ)上打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表,匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能,最大輸出電壓達300V,最大脈沖輸出電流達10A,支持四象限工作,被廣泛應(yīng)用于各種電氣特性測試中。

P300高精度脈沖源表

poYBAGRZ7deAC5nRAABoG88oOoc110.png

- 脈沖直流,簡單易用

- 范圍廣,高至300V低至1pA

- 最小脈沖寬度200μs

- 準確度為0.1%

針對高壓模式的測量,E系列高壓程控電源具有輸出及測量電壓高(3500V)、能輸出及測量微弱電流信號(1nA)、輸出及測量電流0-100mA等特點。產(chǎn)品可以同步電流測量,支持恒壓恒流工作模式,同時支持豐富的IV掃描模式。E系列高壓程控電源可應(yīng)用于IGBT擊穿電壓測試、IGBT動態(tài)測試母線電容充電電源、IGBT老化電源、防雷二極管耐壓測試等場合。其恒流模式對于快速測量擊穿點具有重大意義。

E系列高電壓源測單元

pYYBAGRZ7e2ATLswAABPpaRwG3g131.png

- ms級上升沿和下降沿

- 單臺最大3500V電壓輸出(可擴展10kV)

- 測量電流低至1nA

- 準確度為0.1%

針對二極管、IGBT器件、IPM模塊等需要高電流的測試場合,HCPL100型高電流脈沖電源,具有輸出電流大(1000A)、脈沖邊沿陡(15μs)、支持兩路脈沖電壓測量(峰值采樣)以及支持輸出極性切換等特點。

HCPL 100高電流脈沖電源

pYYBAGRZ7hCAFkEgAACvxu279As527.png

- 輸出電流達1000A

- 多臺并聯(lián)可達6000A

- 50μs-500μs的脈沖寬度可調(diào)

- 脈沖邊沿陡(典型時間15us)

- 兩路同步測量電壓(0.3mV-18V)


審核編輯黃宇

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