91欧美超碰AV自拍|国产成年人性爱视频免费看|亚洲 日韩 欧美一厂二区入|人人看人人爽人人操aV|丝袜美腿视频一区二区在线看|人人操人人爽人人爱|婷婷五月天超碰|97色色欧美亚州A√|另类A√无码精品一级av|欧美特级日韩特级

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

激光干涉儀與光刻機(jī)的緣分

中圖儀器 ? 2022-03-08 09:07 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

光刻機(jī)集成電路生產(chǎn)的關(guān)鍵設(shè)備之一,在整個(gè)生產(chǎn)過程中占據(jù)重要的地位。高精度的工作臺作為光刻機(jī)核心部件之一,其運(yùn)動性能和定位精度決定了光刻工藝所能實(shí)現(xiàn)的線寬和產(chǎn)率。

光刻機(jī)的工作臺是一個(gè)六自由度的運(yùn)動臺,其中X/Y向運(yùn)動臺是的核心基礎(chǔ)工序。管控XY軸角度Yaw和Pitch,直線度Horizontal Straightness和Vertical Straightness是獲得XY線性(重復(fù))精度(Linear Positioning)的關(guān)鍵,是后續(xù)實(shí)現(xiàn)六自由度的控制的基石,是多層曝光對準(zhǔn)精度的源頭。

本次利用SJ6000激光干涉儀檢測一臺光刻機(jī)XY軸的角擺和直線度,部分結(jié)果如下:

poYBAGF_juGATQydAAbbhBK8RhY084.pngY軸Vertical Straightness測量

poYBAGF_ju-AY9jIAAanx5eVadA795.pngX軸Pitch測量pYYBAGF_jyCAPKGbAAJE0pX5m7U707.png

X軸測量軸長225mm,其中垂直直線度測得結(jié)果0.58μm。

poYBAGF_jyyAf0nnAAIW2fVC2is455.png


Y軸測量軸長600mm,測得角度Yaw結(jié)果0.86″。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 激光干涉儀
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    83

    瀏覽量

    8719
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    激光干涉儀測量案例:醫(yī)療CT滑軌運(yùn)行精度及旋轉(zhuǎn)架定位精度檢測

    測量需求檢查床CT滑軌運(yùn)行的定位精度、重復(fù)精度、直線度,旋轉(zhuǎn)架的旋轉(zhuǎn)精度和旋轉(zhuǎn)定位精度。激光干涉儀測量方案SJ6000激光干涉儀搭配線性鏡組+角度鏡組+直線度鏡組+WR50自動精密轉(zhuǎn)臺
    發(fā)表于 12-24 16:44 ?0次下載

    電壓放大器:相位調(diào)制零差干涉儀性能評價(jià)實(shí)驗(yàn)的關(guān)鍵驅(qū)動力

    設(shè)備: ATA-2088高壓放大器、納米定位平臺、單頻激光干涉儀、光電探測器、Redpitaya信號處理板等。 實(shí)驗(yàn)過程: 圖1:相位調(diào)制零差干涉儀實(shí)物圖 相位調(diào)制零差干涉儀組裝調(diào)試主
    的頭像 發(fā)表于 09-22 13:43 ?474次閱讀
    電壓放大器:相位調(diào)制零差<b class='flag-5'>干涉儀</b>性能評價(jià)實(shí)驗(yàn)的關(guān)鍵驅(qū)動力

    白光干涉儀激光干涉儀的區(qū)別及應(yīng)用解析

    在精密測量領(lǐng)域,干涉儀作為基于光的干涉原理實(shí)現(xiàn)高精度檢測的儀器,被廣泛應(yīng)用于工業(yè)制造、科研實(shí)驗(yàn)等場景。其中,白光干涉儀激光干涉儀是兩類具有
    的頭像 發(fā)表于 09-20 11:16 ?1293次閱讀

    改善光刻圖形線寬變化的方法及白光干涉儀光刻圖形的測量

    引言 在半導(dǎo)體制造與微納加工領(lǐng)域,光刻圖形線寬變化直接影響器件性能與集成度。精確控制光刻圖形線寬是保障工藝精度的關(guān)鍵。本文將介紹改善光刻圖形線寬變化的方法,并探討白光干涉儀
    的頭像 發(fā)表于 06-30 15:24 ?969次閱讀
    改善<b class='flag-5'>光刻</b>圖形線寬變化的方法及白光<b class='flag-5'>干涉儀</b>在<b class='flag-5'>光刻</b>圖形的測量

    改善光刻圖形垂直度的方法及白光干涉儀光刻圖形的測量

    深入探討白光干涉儀光刻圖形測量中的應(yīng)用。 改善光刻圖形垂直度的方法 優(yōu)化光刻膠性能 光刻膠的特性直接影響圖形垂直度。選用高對比度、低膨脹系
    的頭像 發(fā)表于 06-30 09:59 ?668次閱讀
    改善<b class='flag-5'>光刻</b>圖形垂直度的方法及白光<b class='flag-5'>干涉儀</b>在<b class='flag-5'>光刻</b>圖形的測量

    用于 ARRAY 制程工藝的低銅腐蝕光刻膠剝離液及白光干涉儀光刻圖形的測量

    至關(guān)重要。本文將介紹用于 ARRAY 制程工藝的低銅腐蝕光刻膠剝離液,并探討白光干涉儀光刻圖形測量中的應(yīng)用。 用于 ARRAY 制程工藝的低銅腐蝕光刻膠剝離液 配方設(shè)計(jì) 低銅腐蝕
    的頭像 發(fā)表于 06-18 09:56 ?870次閱讀
    用于 ARRAY 制程工藝的低銅腐蝕<b class='flag-5'>光刻</b>膠剝離液及白光<b class='flag-5'>干涉儀</b>在<b class='flag-5'>光刻</b>圖形的測量

    減少光刻膠剝離工藝對器件性能影響的方法及白光干涉儀光刻圖形的測量

    干涉儀光刻圖形測量中的應(yīng)用。 ? 減少光刻膠剝離工藝對器件性能影響的方法 ? 優(yōu)化光刻膠材料選擇 ? 選擇與半導(dǎo)體襯底兼容性良好的光刻膠材
    的頭像 發(fā)表于 06-14 09:42 ?891次閱讀
    減少<b class='flag-5'>光刻</b>膠剝離工藝對器件性能影響的方法及白光<b class='flag-5'>干涉儀</b>在<b class='flag-5'>光刻</b>圖形的測量

    光刻膠剝離液及其制備方法及白光干涉儀光刻圖形的測量

    引言 在半導(dǎo)體制造與微納加工領(lǐng)域,光刻膠剝離液是光刻膠剝離環(huán)節(jié)的核心材料,其性能優(yōu)劣直接影響光刻膠去除效果與基片質(zhì)量。同時(shí),精準(zhǔn)測量光刻圖形對把控工藝質(zhì)量意義重大,白光
    的頭像 發(fā)表于 05-29 09:38 ?1347次閱讀
    <b class='flag-5'>光刻</b>膠剝離液及其制備方法及白光<b class='flag-5'>干涉儀</b>在<b class='flag-5'>光刻</b>圖形的測量

    VirtualLab Fusion:用于光學(xué)檢測的斐索干涉儀

    摘要 斐索干涉儀是工業(yè)上常見的光學(xué)計(jì)量設(shè)備,通常用于高精度測試光學(xué)表面的質(zhì)量。在VirtualLab Fusion中通道配置的幫助下,我們建立了一個(gè)Fizeau干涉儀,并將其用于測試不同的光學(xué)表面
    發(fā)表于 05-28 08:48

    Micro OLED 陽極像素定義層制備方法及白光干涉儀光刻圖形的測量

    ? 引言 ? Micro OLED 作為新型顯示技術(shù),在微型顯示領(lǐng)域極具潛力。其中,陽極像素定義層的制備直接影響器件性能與顯示效果,而光刻圖形的精準(zhǔn)測量是確保制備質(zhì)量的關(guān)鍵。白光干涉儀憑借獨(dú)特
    的頭像 發(fā)表于 05-23 09:39 ?762次閱讀
    Micro OLED 陽極像素定義層制備方法及白光<b class='flag-5'>干涉儀</b>在<b class='flag-5'>光刻</b>圖形的測量

    Aigtek電壓放大器在光纖干涉儀噪聲抑制研究中的應(yīng)用

    實(shí)驗(yàn)名稱: 基于光纖干涉儀的低頻段頻率噪聲抑制研究 實(shí)驗(yàn)內(nèi)容: 光纖干涉儀作為一種可以精細(xì)鑒別激光相位的結(jié)構(gòu)裝置,被廣泛地應(yīng)用于激光相位噪聲的測試測量工作。運(yùn)用逆向思維,利用光纖
    的頭像 發(fā)表于 05-15 11:49 ?743次閱讀
    Aigtek電壓放大器在光纖<b class='flag-5'>干涉儀</b>噪聲抑制研究中的應(yīng)用

    光學(xué)實(shí)驗(yàn)教具應(yīng)用:邁克爾遜干涉儀實(shí)驗(yàn)

    1. 實(shí)驗(yàn)概述 邁克爾遜干涉儀是光學(xué)干涉儀中最常見的一種,其原理是一束入射光分為兩束后各自被對應(yīng)的平面鏡反射回來,這兩束光從而能夠發(fā)生干涉。干涉中兩束光的不同光程可以通過調(diào)節(jié)
    發(fā)表于 05-08 08:51

    FRED應(yīng)用:天文光干涉儀

    簡介 天文光干涉儀能夠?qū)崿F(xiàn)恒星和星系的高角分辨率的測量。首次搭建的天文光干涉儀分別由菲索(1868)和邁克爾遜(1890)提出。邁克爾遜恒星干涉儀于1920年成功地測出參宿四的直徑?,F(xiàn)如今,恒星
    發(fā)表于 04-29 08:52

    X射線成像系統(tǒng):Kirkpatrick-Baez鏡和單光柵干涉儀

    來說明特殊的X射線成像原理。在本通訊中,我們展示了兩個(gè)X射線成像實(shí)驗(yàn):(1)使用Kirkpatrick-Baez鏡創(chuàng)建納米級X射線成像點(diǎn);(2)用單光柵干涉儀說明相襯X射線成像原理。 X射線束的掠入射
    發(fā)表于 03-21 09:22

    安泰電壓放大器在相位調(diào)制零差干涉儀性能評價(jià)實(shí)驗(yàn)中的應(yīng)用

    設(shè)備: ATA-2088高壓放大器、納米定位平臺、單頻激光干涉儀、光電探測器、Redpitaya信號處理板等。 實(shí)驗(yàn)過程: 圖1:相位調(diào)制零差干涉儀實(shí)物圖 相位調(diào)制零差干涉儀組裝調(diào)試主
    的頭像 發(fā)表于 03-12 11:42 ?706次閱讀
    安泰電壓放大器在相位調(diào)制零差<b class='flag-5'>干涉儀</b>性能評價(jià)實(shí)驗(yàn)中的應(yīng)用