近日，杭州廣立微電子股份有限公司正式推出了新一代通用型高性能半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)T4000。該系列產(chǎn)品是對公司現(xiàn)有并行perpin測試設(shè)備T4100S的重要補(bǔ)充，能夠覆蓋不同用戶的使用需求。T4000的上市進(jìn)一步拓展了公司的產(chǎn)品線，標(biāo)志著廣立微在晶圓級電性測試設(shè)備領(lǐng)域取得了又一重大突破。

T4000通用型高性能半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)可覆蓋LOGIC，CIS,DRAM, SRAM, FLASH, BCD等所有產(chǎn)品的測試需求，支持第三代化合物半導(dǎo)體（SiC/GaN）的參數(shù)測試。

該系統(tǒng)擁有豐富的WAT、WLR測試算法庫，適配各類主流WAT探針卡，支持國際上各主要型號的探針臺，能夠高效完成所有常規(guī)WAT參數(shù)、常規(guī)WLR 參數(shù)以及addressable等先進(jìn)測試芯片的測試，可廣泛應(yīng)用于WAT, WLR及SPICE等領(lǐng)域。

相比市場上同類設(shè)備，T4000系列測試每片晶圓所需的時間大幅度縮短，提升幅度達(dá)20%至200%，具有很高的性價比，更適合對成本較為敏感的8英寸及以下產(chǎn)線。因其功能全面、穩(wěn)定性高、兼容性好，不僅可以用于新的產(chǎn)線，還可用于替代原有晶圓廠老舊的測試設(shè)備。 T4000系列主要優(yōu)勢

作為廣立微自主研發(fā)的通用型半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)，T4000系列采用了新一代超低漏電可擴(kuò)展矩陣開關(guān)，具有精度高、速度快、靈活配置的特點(diǎn)，最高支持100 個測量引腳，實(shí)現(xiàn)多個module并行測試。由于其結(jié)構(gòu)設(shè)計先進(jìn)，具備完善的自檢和自校準(zhǔn)功能，因此系統(tǒng)的穩(wěn)定性和一致性均得到顯著提升。T4000系列根據(jù)不同需求和使用場景，提供了三個主要型號，方便客戶選擇。

自2010年開始投入研發(fā)以來，廣立微一直致力于開發(fā)和提供技術(shù)領(lǐng)先、具有國際競爭力的半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)，現(xiàn)已發(fā)展成為國內(nèi)唯一能夠向集成電路量產(chǎn)線供應(yīng)WAT測試設(shè)備的企業(yè)。經(jīng)過20多條客戶產(chǎn)線上百臺設(shè)備的長期驗證，廣立微的WAT測試設(shè)備具有質(zhì)量可靠、功能齊全、一致性強(qiáng)、測量精度高、測試效率快、交貨周期短、服務(wù)保障好等特點(diǎn)。此次廣立微推出T4000系列通用型高性能半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)，必將為公司的業(yè)務(wù)拓展注入新的動能。

未來，廣立微將繼續(xù)打造更多具有國際競爭力的技術(shù)創(chuàng)新與差異化產(chǎn)品，為客戶和市場提供性能優(yōu)越、生產(chǎn)效率高和性價比高的測試設(shè)備解決方案，為客戶創(chuàng)造更大價值。