低功耗設(shè)計是指在設(shè)計過程中充分考慮減少電子設(shè)備的功耗，以延長電池壽命或減少能源消耗。對于低功耗MCU（微控制器單元）評估低功耗性能時，可以進行一系列實驗來驗證，并記錄相應(yīng)的數(shù)據(jù)結(jié)果。這些實驗包括低功耗芯片概述、低功耗芯片特性、評估板及原理圖介紹，以及具體的外部中斷喚醒實驗、串口中斷喚醒實驗、不同主頻功耗實驗和不同外設(shè)功耗實驗等。

評估其性能主要涉及以下方面：

供電電流：評估板上的供電電流測量可以反映MCU在不同工作模式下的功耗開銷，例如待機模式、睡眠模式等。

響應(yīng)時間：測試不同喚醒方式的響應(yīng)時間，包括外部中斷喚醒和串口中斷喚醒等。

運行模式下LED1指示燈滅時的功耗為2.955MA。運行模式下LED1指示燈亮時的功耗為3.849MA。

進入超低功耗模式下功耗為0.64uA。

進入超低功耗時的電流消耗為1.7UA；

運行模式下LED2指示燈亮，功耗為3.849mA。

主頻功耗：通過改變MCU的主頻，觀察功耗的變化情況，以確定最佳主頻設(shè)置。

不同主頻（未進入低功耗模式）實驗數(shù)據(jù)如下：

外設(shè)功耗：測試不同外設(shè)的功耗開銷，例如串口、ADC、定時器等。

不同外設(shè)實驗結(jié)果如下：

通過這些實驗，可以全面評估CW32L083VXTX評估板的低功耗性能，并為后續(xù)的應(yīng)用和設(shè)計提供參考。

審核編輯：湯梓紅