博客作者:Dario Fresu
歡迎來(lái)到 “掌握 PCB 設(shè)計(jì)中的 EMI 控制” 系列的第四篇文章。在本文中,我們將探討電磁干擾(EMI)管理的高級(jí)要點(diǎn),這些要點(diǎn)對(duì)高效 PCB 設(shè)計(jì)至關(guān)重要。
設(shè)計(jì)印刷電路板(PCB)時(shí),核心挑戰(zhàn)之一是確保設(shè)計(jì)通過(guò)輻射和傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試。這不僅是滿(mǎn)足法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)的關(guān)鍵,也能確保 PCB 在目標(biāo)環(huán)境中正常運(yùn)行,避免對(duì)其他設(shè)備和系統(tǒng)產(chǎn)生干擾。
同樣重要的是實(shí)現(xiàn)對(duì)外部和內(nèi)部發(fā)射的抗擾性,這有助于確保最終產(chǎn)品的可靠性和性能。

圖 1:Altium Designer 中的 PCB 設(shè)計(jì)示例
設(shè)計(jì)抗 EMI 的 PCB時(shí),需明確一個(gè)關(guān)鍵概念:輻射主要由電路中的電流變化而非電壓引起。這意味著所有電路都會(huì)因固有電流變化而不可避免地產(chǎn)生一定程度的電磁輻射,設(shè)計(jì)師的核心挑戰(zhàn)在于管理和控制輻射強(qiáng)度。
為實(shí)現(xiàn)更好的電磁兼容性(EMC),我們需聚焦于設(shè)計(jì)能有效約束和最小化電磁輻射的 PCB,這涉及處理兩種主要輻射類(lèi)型:
差模電流輻射;
共模電流輻射。

圖 2:電路中的差模與共模電流(共模電流返回路徑未顯示)。參考:Dario Fresu
簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),差模電流可視為通過(guò)不同路徑 “反向流動(dòng)” 的電流,而共模電流則是沿電路路徑以相同 “公共” 方向流動(dòng)的電流。
如何最小化差模電流輻射
差模電流是電路正常運(yùn)行的基礎(chǔ),它們?cè)?a target="_blank">集成電路(IC)和元件之間流動(dòng),是 PCB 電路設(shè)計(jì)的一部分。
差模電流沿電路布局形成的環(huán)路流動(dòng),環(huán)路面積直接影響輻射水平:環(huán)路面積越大,輻射越強(qiáng),且頻率越高,輻射也越顯著。
降低差模輻射的策略包括:
1. 減少走線(xiàn)中的電流;
2. 降低電流頻率;
3. 最小化電流環(huán)路面積。
然而,減少電流或降低頻率(策略 1 和 2)通常不切實(shí)際,因?yàn)榭赡茱@著影響電路效率。最具實(shí)操性的方法是最小化電流環(huán)路面積,這也是 PCB 設(shè)計(jì)師可直接控制的關(guān)鍵因素。

圖 3:Altium Designer 中 PCB 電流環(huán)路示例
一種高效方法是在疊層結(jié)構(gòu)中為信號(hào)走線(xiàn)配置緊鄰的返回參考平面,這可使正向和返回電流形成的環(huán)路面積極小化,從而抑制輻射。結(jié)合盡可能縮短信號(hào)走線(xiàn)的設(shè)計(jì),能最大限度降低差模電流輻射。
當(dāng)然,元件布局、減少信號(hào)串?dāng)_以及管理可能將噪聲傳遞到附近電纜的耦合機(jī)制,對(duì)減少輻射也很重要,但這些均屬于次要因素,核心仍是最小化電流環(huán)路面積。
這一技術(shù)直接針對(duì)差模電流輻射的根源,效果尤為顯著。
如何最小化共模電流輻射
設(shè)計(jì)師需關(guān)注的另一類(lèi)重要電流是共模電流。與有意設(shè)計(jì)的差模電流不同,共模電流并非原理圖中的顯式設(shè)計(jì)元素,它們并非電路運(yùn)行必需,主要源于設(shè)計(jì)中的寄生效應(yīng)。
識(shí)別和控制這些寄生電流頗具挑戰(zhàn)性,因?yàn)槠鋪?lái)源往往并不明顯。共模電流通常在差模電流流經(jīng)電路中的寄生元件時(shí)產(chǎn)生。

圖 4:返回平面的間隙常為共模輻射的成因(Altium Designer)
這些寄生效應(yīng)尤其存在于返回參考導(dǎo)體(通常稱(chēng)為 “地” 或 “信號(hào)地” 導(dǎo)體)中。返回參考導(dǎo)體中出現(xiàn)寄生效應(yīng)的問(wèn)題,主要是因?yàn)樵趯?shí)際情況中,元件和導(dǎo)體并非完美無(wú)缺,與理想狀態(tài)相去甚遠(yuǎn)。
例如,電路中的銅質(zhì)走線(xiàn)不僅具有電阻,還表現(xiàn)出電感和電容特性,且這些寄生參數(shù)隨信號(hào)頻率升高而顯著影響電路。
與主要受環(huán)路面積影響的差模輻射不同,共模電流主要受導(dǎo)體長(zhǎng)度和噪聲頻率影響(導(dǎo)體長(zhǎng)度的影響在超過(guò)一定閾值后趨于穩(wěn)定,本文暫不深入探討)。
對(duì)于電長(zhǎng)度較短的電纜,共模電流輻射可建模為偶極子(或單極子)天線(xiàn)發(fā)射,而非環(huán)路天線(xiàn)發(fā)射,這一建模差異影響輻射的產(chǎn)生與控制方式。
從源頭有效降低共模電流輻射的策略包括:
減少共模電流;
降低共模電流頻率;
最小化導(dǎo)致共模輻射的導(dǎo)體長(zhǎng)度。
關(guān)鍵策略是縮短信號(hào)走線(xiàn)長(zhǎng)度。盡管受系統(tǒng)限制無(wú)法縮短所有導(dǎo)體,但設(shè)計(jì)師應(yīng)盡可能在可行范圍內(nèi)減小走線(xiàn)長(zhǎng)度,這對(duì)抑制 PCB 輻射(尤其是在信號(hào)頻率持續(xù)升高的趨勢(shì)下)至關(guān)重要。
使用實(shí)心銅平面作為返回和參考平面是另一有效技術(shù),可降低返回電流路徑的電感,從而減少驅(qū)動(dòng)共模輻射的電壓源。
完整的銅平面(無(wú)分割或切口)通過(guò)為返回電流提供低阻抗路徑,有助于維持信號(hào)完整性并降低 EMI。
如何通過(guò)縫合過(guò)孔最小化輻射
在具有多個(gè)返回參考平面的多層疊層結(jié)構(gòu)中,縫合過(guò)孔是減少共模輻射的推薦技術(shù)??p合過(guò)孔連接不同的返回參考層,確保其保持相同電位,從而減少驅(qū)動(dòng)偶極子(或單極子)天線(xiàn)模式輻射的共模電壓源,顯著降低雜散噪聲和 EMI。

圖 5:Altium Designer 中的縫合過(guò)孔示例
除減少共模輻射外,縫合過(guò)孔還為疊層中跨層傳輸?shù)男盘?hào)提供可靠的電流返回路徑和參考電位,防止平面間產(chǎn)生輻射 —— 這類(lèi)輻射不僅影響 EMI,還會(huì)損害信號(hào)完整性和 PCB 整體性能。
結(jié)論
設(shè)計(jì)有效控制 EMI 的 PCB 時(shí),工具選擇至關(guān)重要。先進(jìn)的 PCB 設(shè)計(jì)軟件可幫助管理各種設(shè)計(jì)參數(shù),確保電路板以高精度和效率完成設(shè)計(jì)。這些工具是應(yīng)對(duì)復(fù)雜設(shè)計(jì)要求、驗(yàn)證 EMI 抑制策略正確實(shí)施的關(guān)鍵,最終實(shí)現(xiàn)更可靠、高性能的 PCB。
Altium Designer 可無(wú)縫集成到設(shè)計(jì)工作流程中,提供充分發(fā)揮專(zhuān)業(yè)能力所需的靈活性和先進(jìn)功能,讓高效 EMI 控制策略的落地更加輕松。
在下一篇文章中,我們將探討電源分配網(wǎng)絡(luò)(PDN)的去耦策略,為設(shè)計(jì)實(shí)踐提供更多洞見(jiàn)。
關(guān)于A(yíng)ltium
Altium有限公司隸屬于瑞薩集團(tuán),總部位于美國(guó)加利福尼亞州圣迭戈,是一家致力于加速電子創(chuàng)新的全球軟件公司。Altium提供數(shù)字解決方案,以最大限度提高電子設(shè)計(jì)的生產(chǎn)力,連接整個(gè)設(shè)計(jì)過(guò)程中的所有利益相關(guān)者,提供對(duì)元器件資源和信息的無(wú)縫訪(fǎng)問(wèn),并管理整個(gè)電子產(chǎn)品生命周期。Altium生態(tài)系統(tǒng)加速了各行業(yè)及各規(guī)模企業(yè)的電子產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)進(jìn)程。
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