介紹

在多個(gè)大趨勢(shì)的推動(dòng)下，推動(dòng)世界對(duì)半導(dǎo)體需求的技術(shù)繁榮依然強(qiáng)勁。無(wú)線基礎(chǔ)設(shè)施、物聯(lián)網(wǎng)、人工智能、數(shù)據(jù)中心和電動(dòng)汽車是推動(dòng)對(duì)先進(jìn)半導(dǎo)體 IC 需求增加的應(yīng)用示例。隨著每個(gè)單獨(dú)的 IC 中包含更多功能，測(cè)試要求也會(huì)增加，降低成本變得更具挑戰(zhàn)性。半導(dǎo)體制造商如何提高其最終產(chǎn)品的復(fù)雜性，同時(shí)降低測(cè)試成本？

測(cè)試系統(tǒng)未標(biāo)準(zhǔn)化

從廣義上講，半導(dǎo)體開發(fā)過(guò)程包括設(shè)計(jì)、制造和測(cè)試。今天，IC 設(shè)計(jì)人員使用 EDA（電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化）軟件工具。這些工具是標(biāo)準(zhǔn)化的，大大簡(jiǎn)化了設(shè)計(jì)過(guò)程。晶圓的制造設(shè)備在一定程度上也是標(biāo)準(zhǔn)化的，因?yàn)樵S多工藝和設(shè)備是代代相傳的。ATE 系統(tǒng)不能這樣說(shuō)。缺乏標(biāo)準(zhǔn)和 IC 復(fù)雜性的增加導(dǎo)致測(cè)試成本上升。研究表明，封裝和測(cè)試占產(chǎn)品總成本的 50% 到 70% 之間。

降低測(cè)試成本

降低測(cè)試成本的一個(gè)明顯方法是采用更高的并行度并同時(shí)測(cè)試多個(gè)部分。每當(dāng) ATE 系統(tǒng)并行測(cè)試更多部件時(shí)，吞吐量就會(huì)提高。例如，如果之前的測(cè)試平臺(tái)可以并行測(cè)試四個(gè)設(shè)備，總測(cè)試時(shí)間為 10 秒，那么每個(gè)設(shè)備測(cè)試是 2.5 秒。使用每秒 0.02 美元的假設(shè)成本，那么每個(gè)設(shè)備都有 0.05 美元的測(cè)試成本。通過(guò)將 ATE 系統(tǒng)升級(jí)到八進(jìn)制站點(diǎn)甚至 16 個(gè)站點(diǎn)的測(cè)試儀，測(cè)試成本顯著下降，分別為 0.025 美元和 0.0125 美元。與 16 個(gè)站點(diǎn)的測(cè)試設(shè)置相比，這項(xiàng) 75% 的測(cè)試成本節(jié)省比原始測(cè)試成本節(jié)省了 0.0375 美元。

接下來(lái)，想象一下總測(cè)試時(shí)間是否可以減少一半。由于 ATE 生產(chǎn)車間測(cè)試工程師將最大限度地利用資源來(lái)測(cè)試器件，因此減少測(cè)試時(shí)間的方法是提高驅(qū)動(dòng)信號(hào)到被測(cè)器件 （DUT） 和比較器信號(hào)返回到 FPGA 的速度。驅(qū)動(dòng)器和比較器 IC 所在的引腳電子速度提高了 2 倍，將測(cè)試時(shí)間縮短了一半。計(jì)算測(cè)試成本的數(shù)學(xué)與前面的示例一樣簡(jiǎn)單。測(cè)試 16 臺(tái)設(shè)備需要 5 秒，而不是 10 秒。這意味著每臺(tái)設(shè)備的測(cè)試成本為 0.00625 美元，是 0.0125 美元的一半。雖然實(shí)際測(cè)試時(shí)間各不相同，但這個(gè)假設(shè)示例清楚地展示了更快系統(tǒng)和更高密度卡的潛在節(jié)省。

更高的密度和速度

前面提到的引腳電子驅(qū)動(dòng)板具有驅(qū)動(dòng)器和比較器 IC。圖 1中的 ATE 框圖顯示了MAX32007所在的位置（DCL + DAC + SWITCHES 盒）。MAX32007 是 ADI 最新發(fā)布的 8 通道 3Gbps 引腳驅(qū)動(dòng)器。

圖 1. 通用 ATE 系統(tǒng)框圖。

高密度、八通道、高速 3Gbps MAX32007 具有集成的 14 位電平設(shè)置 DAC、電纜下垂補(bǔ)償和壓擺率控制，可優(yōu)化 DUT 的波形。

電纜下垂補(bǔ)償

由于 PCB 上的長(zhǎng)跡線和/或長(zhǎng)或有損耗的同軸電纜，驅(qū)動(dòng)到 DUT 的波形和返回信號(hào)可能會(huì)衰減或退化。當(dāng)波形受到這種影響時(shí)，有效數(shù)據(jù)速率會(huì)降低，或者更糟的是，數(shù)據(jù)無(wú)法使用，從而影響測(cè)試的吞吐量和成本。MAX32007 在輸出波形中加入了長(zhǎng) （CDRPL） 和短 （CDRPS） 雙時(shí)間常數(shù)，通過(guò)受控量的過(guò)沖和下沖來(lái)恢復(fù)圓潤(rùn)邊沿。

圖 2. 驅(qū)動(dòng)器電纜下垂補(bǔ)償?shù)母拍畋硎尽?/p>

補(bǔ)償量可以通過(guò)一個(gè) 3 位內(nèi)部寄存器從 0 到 10% 進(jìn)行編程。圖 3中的示波器顯示了電纜下垂補(bǔ)償如何幫助信號(hào)保真度克服 24 英寸 50Ω 同軸電纜上的劣化波形的示例。外部綠色跡線表示應(yīng)用到波形的 10% 補(bǔ)償，內(nèi)部跡線顯示 0% 補(bǔ)償。

圖 3. 電纜下垂補(bǔ)償?shù)姆秶臄z。

結(jié)論

隨著半導(dǎo)體 IC 不斷跟上最新的技術(shù)需求，測(cè)試它們所需的自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備也必須如此。Pin 電子驅(qū)動(dòng)器在處理這種技術(shù)激增方面發(fā)揮著關(guān)鍵作用，更高密度和更高數(shù)據(jù)速率可實(shí)現(xiàn)下一代設(shè)備的高吞吐量和更低的測(cè)試成本。

審核編輯：郭婷