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R&S?ZNA67矢量網(wǎng)絡分析儀在MPI探針臺上進行晶圓上差分射頻測量

agitek2021 ? 來源:agitek2021 ? 作者:agitek2021 ? 2026-03-10 16:07 ? 次閱讀
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在高頻下進行準確測量,對于表征放大器、混頻器和差分線等有源和無源器件的特性至關重要。

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由探針臺和R&S?ZNA矢量網(wǎng)絡分析儀組成的測量裝置
您的任務
5G、6G 和毫米波器件的研發(fā)、驗證與生產(chǎn)過程中,在晶圓上測量設備的電氣特性非常重要。這些測量是通信、國防和航天等前沿技術發(fā)展的關鍵支撐。
準確表征放大器、混頻器和傳輸線,是確保其順利集成到模塊與產(chǎn)品中的關鍵環(huán)節(jié)。同時,為了實現(xiàn)最大產(chǎn)能,需要精確快速地進行晶圓上樣品測試。

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與探針臺的機械集成
羅德與施瓦茨解決方案
為應對高達110 GHz的晶圓上差分測量挑戰(zhàn),R&S?ZNA67EXT矢量網(wǎng)絡分析儀(VNA)提供了一套完整的單次掃描解決方案。
測量裝置由 R&S?ZNA67 主機和外部變頻器組成,可實現(xiàn)最高 110 GHz 的精確且可重復的測量。
該裝置的一個關鍵優(yōu)勢在于其與 MPI Corporation 探針臺的機械集成。變頻器安裝在側面,有效縮短了與射頻探針之間的距離。通過減少電纜彎折和縮短信號傳輸路徑,該設計顯著增強了機械穩(wěn)定性與整體射頻性能。
測量裝置兼容虛擬差分與真實差分配置,為各種被測設備 (DUT) 場景提供高度靈活的解決方案。VNA 架構包含多個相位相參信號源和并行測量接收機,實現(xiàn)全毫米波頻段的多端口和真實差分混合模式 S 參數(shù)高精度分析。

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QAlibria? 晶圓級射頻校準軟件
射頻探測的集成與穩(wěn)定性
測量裝置采用 MPI 高性能探針臺,支持手動和自動化配置,并可選配熱臺和振動隔離功能,確保探測的穩(wěn)定性。該裝置的射頻接口采用 GSGSG 配置的 MPI TITAN? 毫米波雙探針,專為高達 120 GHz 的差分測量優(yōu)化了設計。這些探針在毫米波頻段具有卓越的耐用性、回波和插入損耗性能以及端口隔離度,同時優(yōu)化了尖端的可視性設計,確保精準接觸焊盤。
為了確保測量的可重復性和相位穩(wěn)定性,MPI 開發(fā)了專用的機械集成夾具,可以將頻率擴展器穩(wěn)固地安裝在探針臺上。該夾具有效減少了電纜彎折與移動,保持穩(wěn)定的電纜路徑,并縮短了射頻信號傳輸距離。由此可實現(xiàn)更高的指向性、更低的損耗,并在重復扎針后提供高度穩(wěn)定的測量結果。MPI 獨有的射頻探針臂嵌入式機械傳輸結構,可實現(xiàn)光密封測量,同時不影響探針定位精度。
校準使用專為 GSGSG 配置設計的 MPI TCS 雙校準片,與探針間距精確匹配。
MPI TCS 系列代表了新一代校準片,集成晶圓級射頻校準技術的最新成果與推薦方法。憑借獨特的對端端接標準件,可以在超過 110 GHz 的頻率下實現(xiàn)卓越的校準精度。
MPI QAlibria? 和 SENTIO? 軟件提供全面支持,不僅可在探針前端實現(xiàn)快速、精確、可靠的全自動校準,還能使用晶圓上校準標準件和在寬溫度范圍下完成校準。
總結
通過將尖端射頻性能、智能化機械集成和先進的校準工具相結合,測量裝置為復雜的毫米波測試簡化了可靠高效的工作流程。
該裝置最大限度地降低了設置復雜度并提高了測量完整性,為高頻率和高精度應用提供支持。
羅德與施瓦茨的R&S?ZNA67EXT與MPI公司的探針臺相結合,可為高達110 GHz的晶圓上差分測量提供穩(wěn)固精確的解決方案,滿足先進半導體測試與表征的嚴格要求。

審核編輯 黃宇

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