1．模塊輸出電流極限測(cè)試

　　模塊輸出電流極限測(cè)試是測(cè)試模塊在輸出限流點(diǎn)放開（PFC的過流保護(hù)也要放開）之后所能輸出的最大電流，測(cè)試的目的是為了驗(yàn)證模塊的限流點(diǎn)設(shè)計(jì)是否適當(dāng)，模塊的器件選擇是否合適。如果模塊的輸入電流極限值偏小，表明模塊的輸出電流量不夠；如果模塊的輸出電流極限值設(shè)計(jì)過大，表明模塊的輸出電流裕量過高，模塊的成本還可以降低。

　　測(cè)試方法：

　　將模塊的輸出限流點(diǎn)放開，按額定輸出電流的5%逐步增加模塊的輸出電流，每個(gè)電流值保持10分鐘，直至模塊損壞（或輸出熔斷絲斷），記錄模塊損壞時(shí)的輸出電流值即為模塊的輸出電流極限值。為了防止在測(cè)試過程中模塊出現(xiàn)積熱損壞，每一個(gè)測(cè)試點(diǎn)測(cè)試完成之后，須將模塊冷卻到測(cè)試前的冷機(jī)狀態(tài)。測(cè)試的電流極限值為模塊額定電流的120％（也就是說，超過120％以后，無需進(jìn)行測(cè)試）。

　　判定標(biāo)準(zhǔn)：

　　模塊的電流極限必須滿足110％，合格，同時(shí)測(cè)試結(jié)果作為模塊設(shè)計(jì)的依據(jù)（參考數(shù)據(jù)）。否則不合格。

　　2.靜態(tài)高壓輸入

　　測(cè)試說明：

　　在靜態(tài)高壓時(shí)，PFC電路實(shí)現(xiàn)了過壓保護(hù)，此測(cè)試主要是評(píng)估一次電源模塊在靜態(tài)高壓情況下的可靠性。

　　測(cè)試方法：

　　A、按規(guī)格書要求將模塊輸入電壓調(diào)整為最大靜態(tài)耐壓點(diǎn)，運(yùn)行1小時(shí)。

　　B、從最大靜態(tài)耐壓點(diǎn)開始，以10V/10min的速率向上調(diào)高輸入電壓，直至模塊損壞，記錄模塊損壞時(shí)的輸入電壓值即為模塊的最高靜態(tài)極限輸入電壓。記錄器件損壞情況，分析原因。

　　判定標(biāo)準(zhǔn)：

　　在上述A情況下，一次電源模塊不出現(xiàn)損壞或其他不正?，F(xiàn)象，合格；否則不合格。在B類條件下，記錄模塊的最高靜態(tài)輸入電壓，作為模塊的資料參考，在B類條件下測(cè)試的結(jié)果只作為參考，不作為判斷是否合格的標(biāo)準(zhǔn)。

　　3 溫升極限測(cè)試

　　測(cè)試說明：

　　溫升極限測(cè)試是指在于模塊過溫保護(hù)失效的情況下，使模塊損壞的最高環(huán)境溫度，測(cè)試的目的在于考察模塊所能承受的最高環(huán)境溫度，從而為模塊的設(shè)計(jì)提供參考。

　　測(cè)試方法：

　　將模塊的溫度保護(hù)裝置去掉，然后將模塊置于溫箱中，模塊的輸入電壓為最低電壓，輸出為最大功率點(diǎn)，監(jiān)測(cè)模塊的溫度保護(hù)繼電器處的溫度，從模塊的最高環(huán)境溫度開始，以5oC/30min的速度逐漸升高環(huán)境溫度，直到模塊損壞為止。

　　記錄內(nèi)容：

　　記錄模塊損壞時(shí)，內(nèi)部各個(gè)關(guān)鍵器件的溫升，分析故障點(diǎn)；記錄溫度極限時(shí)的損壞情況（運(yùn)行時(shí)間、溫度、損壞器件等詳細(xì)情況），作為資料參考。

　　判定標(biāo)準(zhǔn)：

　　規(guī)格書定義的工作溫度上限，電源模塊屏蔽過溫保護(hù)，長(zhǎng)時(shí)間滿載工作模塊不損壞，合格；否則不合格。

　　此項(xiàng)測(cè)試結(jié)果可以作為模設(shè)計(jì)的參考，判定的標(biāo)準(zhǔn)是看模塊損壞時(shí)的最高溫度與模塊繼電器把保護(hù)處的溫度（或軟件保護(hù)點(diǎn)）的距離，如果兩者相差為負(fù)，則表示溫度繼電器保護(hù)功能（或軟件保護(hù)功能）沒有作用，如果兩者相差在6～10oC，則表示模塊的熱裕量太小，如果兩者相差大于40度，則表示裕量太大。

　　4 EFT抗擾性測(cè)試

　　測(cè)試說明：

　　測(cè)試電源所能承受的最高EFT抗擾性指標(biāo)，以確認(rèn)其裕量。測(cè)試產(chǎn)品在抵抗由于如高頻爐等設(shè)備產(chǎn)生的電網(wǎng)EFT發(fā)生的累積失效的能力。

　　測(cè)試方法：

　　A、將EFT可抗擾性開路電壓設(shè)為規(guī)定等級(jí)電壓+500V，進(jìn)行沖擊抗擾性測(cè)試。

　　B、以500V為一步進(jìn)電壓等級(jí)，重復(fù)A步驟，每一電壓等級(jí)試驗(yàn)按照標(biāo)準(zhǔn)的EFT測(cè)試方法進(jìn)行測(cè)試，記錄電源性能劣化及損壞的試驗(yàn)等級(jí)電壓值（試驗(yàn)最高電壓為EFT抗擾性設(shè)備最高電壓）。

　　C、確認(rèn)電源損壞部位，分析原因。

　　判定標(biāo)準(zhǔn)：

　　EFT極限值大于規(guī)格書要求的5％，合格；否則不合格。

　　5 溫度沖擊強(qiáng)化試驗(yàn)

　　測(cè)試說明：

　　驗(yàn)證產(chǎn)品在存儲(chǔ)和運(yùn)輸過程中所能承受的高低溫沖擊極限。

　?。?）試驗(yàn)前按照有關(guān)規(guī)范進(jìn)行電氣性能和機(jī)械性能（外觀和內(nèi)部結(jié)構(gòu)）檢查，確保受試驗(yàn)樣品在進(jìn)行溫度沖擊試驗(yàn)前的電氣性能和機(jī)械性能正常。

　　（2）試驗(yàn)過程中樣品不通電，不進(jìn)行功能監(jiān)測(cè)。

　?。?）試驗(yàn)結(jié)束后通過目測(cè)等手段檢查機(jī)械性能（外觀和內(nèi)部結(jié)構(gòu)）是否正常，同時(shí)按《通信電源模塊基本性能測(cè)試規(guī)范》對(duì)電氣性能進(jìn)行測(cè)試應(yīng)滿足要求。

　　測(cè)試方法：

　　溫度強(qiáng)化沖擊試驗(yàn)的方法見下圖：

　　HT：高溫箱溫度，取80度

　　LT低溫箱溫度，?。?5度

　　Ncyc：循環(huán)次數(shù)，取20T

　　Dt：樣品在保溫段的停留時(shí)間，取45～60min

　　Ct：高低溫之間的切換時(shí)間（由沖擊箱決定，不用選擇）

　　附表——溫度沖擊強(qiáng)化試驗(yàn)條件：

　　樣品種類 高溫箱溫度HT 低溫箱溫度LT 保溫時(shí)間Dt 轉(zhuǎn)換時(shí)間Ct 循環(huán)次數(shù)Ncyc

　　表貼元件制成板 130 -70 30min ≤5min 50T

　　普通元件制成板 100 -55 30min ≤5min 50T

　　整機(jī) 80 -45 45～65min ≤5min 20T

　　說明：

　　如果制成板上既有表貼元件，又有普通元件，按普通元件的要求執(zhí)行。2

　　2 整機(jī)保溫時(shí)間根據(jù)樣品體積的大小在45～65min之間選擇，體積小的短，體積大的長(zhǎng)。

　　溫度沖擊測(cè)試步驟：

　?。?）試驗(yàn)前對(duì)受試樣品進(jìn)行機(jī)械性能（外觀和內(nèi)部結(jié)構(gòu)）和電氣性能檢查，保證樣品機(jī)械性能和電氣性能正常。

　?。?）將樣品合理的布置于溫度沖擊箱中，樣品和溫度箱四壁間應(yīng)留有足夠大的空間，以便于空氣流通。

　?。?）按上表選擇溫度沖擊試驗(yàn)條件。

　?。?）選定溫度沖擊試驗(yàn)從高溫開始，按起動(dòng)鍵起動(dòng)溫度沖擊試驗(yàn)。

　　（5）試驗(yàn)進(jìn)行設(shè)定的循環(huán)次數(shù)后自動(dòng)停止。

　?。?）試驗(yàn)結(jié)束后將樣品從溫度沖擊箱中取出，在常溫小恢復(fù)直至樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定。

　?。?）觀察試驗(yàn)后的樣品有無機(jī)械損傷（如表面翹曲、破裂、元器件松動(dòng)、脫落等）并檢查電氣性能有無異常。

　?。?）如果樣品發(fā)生上述的機(jī)械損傷或電氣性能指標(biāo)不符合相關(guān)規(guī)范，即認(rèn)為樣品也損壞，詳細(xì)填寫試驗(yàn)記錄表。

　?。?）對(duì)試驗(yàn)暴露的薄弱環(huán)節(jié)進(jìn)行分析，提出改進(jìn)措施。

　?。?0）對(duì)樣品進(jìn)行修復(fù)或改進(jìn)，如沒有出現(xiàn)損傷，應(yīng)增加溫度沖擊量等級(jí)，取上表溫度沖擊試驗(yàn)條件中普通元件制成板等級(jí)或表貼元件制成板等級(jí)繼續(xù)試驗(yàn)，直至樣品損壞。

　　判定標(biāo)準(zhǔn)：

　　樣機(jī)外觀，機(jī)械性能和電氣性能都正常，合格；否則不合格。