MCU芯片設(shè)計(jì)添加mbist、scan chain之后仿真失敗如何解決

MCU芯片設(shè)計(jì)添加了mbist、scan chain之后，仿真失敗怎么辦？首先diff代碼，看代碼改動了什么，是否改正確，然后做2-3個(gè)formal/lec檢查，保證DFT實(shí)現(xiàn)過程不改變function 功能。此外還要注意頂層的dft端口控制信號是否在testbench中正確例化等等，比如注意jtag端口可做cpu debug，可做mbist測試，注意tdo輸出選擇控制。???

回到正題，DFT插入后，由于增加了大量的mux來完成時(shí)鐘、復(fù)位可控，導(dǎo)致中端網(wǎng)標(biāo)中的cell有工藝庫文件指定的delay參數(shù)，默認(rèn)是1ns，那么會造成clk delay，比如插入兩級mux就會形成2ns延時(shí)，而我們的mcu運(yùn)行時(shí)鐘是250mhz，時(shí)鐘周期4ns，sram時(shí)鐘再取個(gè)反，剛好易造成sram timing問題，sram輸出x態(tài)，cpu取指令失敗。

如下，cs／we等sram控制信號剛好和sram的時(shí)鐘對齊，造成sram model輸出x態(tài)，cpu去取指令失敗，mcu boot失敗。???????

可以先強(qiáng)行force時(shí)鐘，選一個(gè)可以采樣cs／we等sram控制信號的時(shí)鐘給sram，好巧不好，cpu執(zhí)行了一部分指令，又停止了，繼續(xù)定位。???????

查看risc-v 匯編指令是否正確讀寫：?????????

發(fā)現(xiàn)程序末尾有x態(tài)哦，發(fā)現(xiàn)x態(tài)，同學(xué)們會問，指令為什么會有x態(tài)，肯定是bug或timing問題造成的吧，我們接著看：???

而上面x態(tài)是由于cpu有16位指令，并且程序有跳轉(zhuǎn)，那么為什么cpu執(zhí)行指令一部分后就停止了呢？是我把cpu取指令模塊改錯了？于是開始看cpu代碼。。。??

實(shí)際上x態(tài)后程序依然能正確執(zhí)行，本質(zhì)上是16位指令及程序調(diào)轉(zhuǎn)的原因。接著debug。??

接著定位，發(fā)現(xiàn)是取指令握手卡住，解決辦法？后仿真怎么確保時(shí)鐘對齊的問題？答案參見全棧芯片工程師【知識星球】。

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實(shí)戰(zhàn)MCU+ISP圖像處理芯片版圖

編輯：黃飛

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Scan(3895) Scan(3895)
MCU芯片(12646) MCU芯片(12646)

scan測試的基本原理 scan測試的基本過程

如下圖所示：左邊是普通寄存器，右邊是可掃描寄存器，D端前面加一個(gè)二選一的MUX，選擇端是scan_enable，為1時(shí)選擇SI端，為0時(shí)選擇D端。

2023-09-15 10:10:37

9584

DFT中的Scan Chain掃描鏈測試過程

隨著現(xiàn)代集成電路工藝的發(fā)展，芯片制成越來越來精密，出現(xiàn)缺陷的可能性也越來越高，有時(shí)候一個(gè)微不足道的影響就可能導(dǎo)致芯片報(bào)廢

2023-09-15 11:29:25

8013

28377D將仿真器拔掉之后就無法啟動是為什么？

編寫好的程序下載之后，在帶有仿真器的情況下是可以正確運(yùn)行的，但是將仿真器拔掉之后就無法啟動了。我將程序下到controlCard上面，程序可以脫離仿真器運(yùn)行，但是到自己的板子上就不行了默認(rèn)的引導(dǎo)

2020-05-14 09:01:58

51單片機(jī)仿真器驅(qū)動安裝失敗的原因是什么？如何解決？

2021-10-27 08:00:13

MBIST測試期間的總線錯誤怎么解決？

我在測試 MBIST 時(shí)觀察到總線錯誤。為了測試所有SRAM，我使用 ECCMAP 寄存器觸發(fā)故障，但這導(dǎo)致了帶有陷阱4 和 2類的總線錯誤。我還觀察到，訪問損壞的內(nèi)存時(shí)會報(bào)告 ALM7

2025-07-25 06:49:15

mcu上移植freertos的問題如何解決

求助各位大佬，本人需要在手頭一個(gè)公司已做出來的m0內(nèi)核的mcu上移植freertos，但是一直有問題。我進(jìn)行移植的時(shí)候（使用工具為keil mdk），先是有一個(gè)已經(jīng)成功的裸機(jī)程序，然后將內(nèi)核相關(guān)

2020-07-13 10:36:06

ARM L210 MBIST控制器技術(shù)參考手冊

MBIST是測試嵌入式存儲器的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法。MBIST通過根據(jù)測試算法執(zhí)行對存儲器的讀取和寫入序列來工作。存在許多行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的測試算法。MBIST控制器生成正確的讀取和寫入序列。ARM L210 MBIST控制器用于與ARM L210一起執(zhí)行二級高速緩存RAM的內(nèi)存測試。

2023-08-02 08:07:10

Arm PMC-100可編程MBIST控制器技術(shù)參考手冊

執(zhí)行模式將嵌入式內(nèi)存內(nèi)容轉(zhuǎn)儲到調(diào)試器，使其適用于芯片啟動和調(diào)查軟件故障，如高速緩存一致性錯誤。它允許快速測試內(nèi)存和內(nèi)存保護(hù)邏輯。因此，MBIST事務(wù)是使用IP核時(shí)鐘連續(xù)執(zhí)行的，因此，可以通過以全功能

2023-08-17 07:10:53

CoreLink 2級MBIST控制器L2C-310技術(shù)參考手冊

MBIST是測試嵌入式存儲器的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法。MBIST通過根據(jù)測試算法執(zhí)行對存儲器的讀取和寫入序列來工作。存在許多行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的測試算法。 MBIST控制器生成對RAM的所有位置的正確讀取和寫入序列，以

2023-08-02 17:33:52

DAP仿真器

DAP仿真器 BURNER

2023-03-28 13:06:20

DLPNIRSCANEVM掃描時(shí)出現(xiàn)‘scan failed\'.如何解決？

點(diǎn)擊紅色error status - scan顯示’scan pattern streaming error‘。用的scan config是hadamard 1, 通常掃描時(shí)間是1.3秒左右，發(fā)生錯誤前是2.7秒。請問如何解決？謝謝

2025-02-21 06:49:41

FPGA Quartus Ⅱ 15.0中進(jìn)行Test JTAG Chain時(shí)無法識別出芯片型號

FPGA中進(jìn)行Test JTAG Chain時(shí)無法識別出芯片型號

2018-12-19 14:52:31

FPGA焊接調(diào)試之下載程序失敗

自己畫焊接的FPGA板子（各個(gè)電源部分正確），芯片EP4CE6E22C8，用Quartus II 編寫仿真好程序后，下載錯誤FaiLED；（ Can't scan JTAG chain. Do

2020-06-12 21:12:01

HUMMINGBIRD Debugger Kit驅(qū)動安裝異常是什么原因造成的？

() failed with LIBUSB_ERROR_NOT_SUPPORTED Info : clock speed 1000 kHz Error: JTAG scan chain interrogation

2023-08-16 06:35:44

L220 MBIST控制器技術(shù)參考手冊

2023-08-02 14:47:18

RT1052芯片啟動失敗的原因？怎么解決？

最近遇到RT1052芯片啟動失敗問題，10次里有5次啟動失敗，但接上示波器觀察RT1052電源時(shí)序波形后，啟動失敗問題被修復(fù)，請問根本問題點(diǎn)是什么，如何解決

2025-03-27 07:00:45

RVSTAR MCU板子下載程序報(bào)錯怎么解決？

kHz Error: JTAG scan chain interrogation failed: all ones Error: Check JTAG interface, timings

2024-01-10 06:04:07

STC燒錄程序失敗是為什么？如何解決？

2022-02-09 07:47:31

STM32 軟件仿真失敗的解決方法

在使用STM32進(jìn)行軟件仿真時(shí)，可能會遇到很多問題，最常見的當(dāng)然如標(biāo)題所示：STM32 軟件仿真失敗： “****no *‘read’ ，permission****“ 還有其他很多問題比如

2015-10-16 18:32:43

STM32F10xxx JTAG TAP問題求助！

of the boundary scan TAP.2. Then, for each IR shift, the scan chain contains 9 bits (=5+4) and the unused TAP

2018-08-31 12:38:45

USB Blaster仿真器

USB Blaster仿真器 BURNER 5V

2023-03-28 13:06:20

Vivado仿真之后沒有出現(xiàn)仿真結(jié)果的解決方法

一般，在添加好工程所需要的design sources和simulation sources之后，會進(jìn)行仿真來驗(yàn)證工程是否有達(dá)到預(yù)期的效果，但是在Run Simulation-&gt

2025-10-31 06:24:20

esp-ali-smartliving SDK功能OTA升級失敗如何解決？

物聯(lián)網(wǎng)平臺OTA升級失敗，提示：Not digestSign key in json doc of OTA，如下圖請問如何解決呢？

2023-03-13 07:07:19

gcc編譯失敗該如何解決呢

編譯失敗，如何解決

2022-01-11 07:29:19

keil ch552添加mcu到keil釋放資源失敗怎么解決？

你好求助keil ch552 添加mcu到keil 釋放資源失敗。。

2022-07-19 06:24:30

labview生成exe之后call DLL失敗是為什么？請問如何解決？

寫了一個(gè)VI 控制儀器，需要call一個(gè)廠商自己寫的DLL，如果使用管理員權(quán)限打開labview，call這個(gè)DLL可以成功，但如果把這個(gè)VI build 成exe之后即使是使用管理員權(quán)限打開，call這個(gè)DLL依然失敗，報(bào)錯

2018-07-12 01:14:09

rt-thread如何解決添加虛擬網(wǎng)卡？

rt-thread在初始化一個(gè)（物理網(wǎng)卡只有一個(gè)）網(wǎng)卡之后，還想要再次添加一張?zhí)摂M網(wǎng)卡，調(diào)用netif_add沒有效果，應(yīng)該如何解決添加虛擬網(wǎng)卡的問題？求大神幫助

2024-07-10 08:18:46

為什么USMART調(diào)試485send失敗但添加正常？

利用USMART調(diào)試實(shí)驗(yàn)55網(wǎng)絡(luò)通信中485_send_data失敗(步驟應(yīng)該沒問題，沿用的也是原子的485程序沒自己寫），沒反應(yīng)也沒報(bào)錯，同樣的在usmart中添加了一個(gè)蜂鳴器的調(diào)用函數(shù),可以調(diào)用起作用，想問是不是在這個(gè)例程中485被占用了，如何解決？

2019-10-30 04:35:31

為什么diable dcache能讓mcu恢復(fù)正常？

通過 3 次測試注釋掉了 gang1 并且只運(yùn)行了 gang0 測試時(shí)，出現(xiàn)了一個(gè)問題。通過 WinIdea 調(diào)試發(fā)現(xiàn)，在 gang0 的 mbist 測試完成并啟用 dcache 之后，mcu 在恢復(fù)

2024-01-23 07:18:50

為什么立宇泰板子2440的openjtag不能連接？

anyway...Error:jtag.c:1444 jtag_validate_chain(): Error validating JTAG scan chain, IR mismatch, scan

2019-10-27 22:26:47

什么是MBIST看了就知道

MBIST概述MBIST的架構(gòu)

2020-12-10 07:00:27

以HC32L136K8TA芯片為例來說明如何解決程序編譯的問題

向MCU下載程序的時(shí)候沒有找到相關(guān)MCU的FLASH文件，只要把正確的MCU的FLASH描述文件路徑加載給MDK即可解決問題。現(xiàn)在以HC32L136K8TA芯片為例來說明如何解決。在HC...

2021-12-06 07:36:11

基于外部SRAM的MCU在線仿真器

的狀態(tài)。這種非商用芯片專用于構(gòu)成在線仿真器，當(dāng)用戶程序在仿真器中調(diào)試完成后，編程到商用MCU芯片中，應(yīng)用到用戶系統(tǒng)。在商用MCU中，這些仿真接口信號不會出現(xiàn)在芯片封裝的管腳上。在Flash MCU沒有被

2012-03-29 16:09:50

基于外部SRAM的MCU在線仿真器

2012-03-29 16:14:23

如何解決仿真這個(gè)問題

本帖最后由 yong_759 于 2017-9-13 22:59 編輯如何解決仿真這個(gè)問題

2017-09-13 22:56:47

如何解決PWM關(guān)閉之后電平不一的問題？

2022-02-16 06:04:36

如何處理由電源引起的MCU啟動失敗？

關(guān)閉時(shí)MCU能繼續(xù)完成相應(yīng)操作，而如果此時(shí)重新上電，卻經(jīng)常遇到系統(tǒng)無法啟動的問題。那么這到底是怎么回事呢?遇到這種情況又該如何處理呢? 一、上電失敗問題分析 1. 上電緩慢引起的啟動失敗對于

2018-05-31 11:33:04

如何處理由電源引起的MCU啟動失敗？

關(guān)閉時(shí)MCU能繼續(xù)完成相應(yīng)操作，而如果此時(shí)重新上電，卻經(jīng)常遇到系統(tǒng)無法啟動的問題。那么這到底是怎么回事呢?遇到這種情況又該如何處理呢?　　一、上電失敗問題分析　　1.上電緩慢引起的啟動失敗　　對于需要進(jìn)行掉電

2018-11-21 15:56:36

幫你理解DFT中的scan technology

。Scan stitching 是把上一步中得到的SDFF的Q和SI連接在一起形成scan chain。在芯片的頂層有全局的SE信號，以及scan chain的輸入輸出信號：SI 和 SO。通過scan

2016-06-14 14:20:20

掃描失敗并顯示消息無法列出外部加載程序如何解決

\com.st.stm32cube.ide.mcu.externaltools.cubeprogrammer.win32_2.0.100.202110141430\tools\bin\ExternalLoader在調(diào)試配置中，選中 ExternalLodaer，然后按 Scan

2022-12-08 06:33:09

招聘數(shù)字ic設(shè)計(jì)工程師/數(shù)字集成電路工程師/DFT負(fù)責(zé)人/高級DFT工程師

招聘三個(gè)人1、專做ic設(shè)計(jì)流程的高級工程師2、主要做pcie開發(fā)的高級工程師3、dft負(fù)責(zé)人，全模塊都負(fù)責(zé)過的高級工程師（ATPG，MBIST，SCAN 等）招聘2-5年的數(shù)字ic設(shè)計(jì)工程師3人，主要是RTL代碼編寫能力，再加上后期的仿真驗(yàn)證求推薦，***@qq.com

2016-09-07 17:04:19

求助，關(guān)于S32k322 BIST問題求解

S32k342 的預(yù)期值？因?yàn)檫@意味著 LBIST_Test 是失敗的。執(zhí)行函數(shù)后：Bist_GetExecStatus（）在 Bist_Run（）之后，我得到了值

2025-03-21 06:29:59

用JLINK下載程序點(diǎn)了secure chip之后，如何解鎖芯片的保護(hù)狀態(tài)？

如果用JLINK下載程序，不小心點(diǎn)了一下secure chip之后，芯片就處于保護(hù)狀態(tài)下，不能連接到JLINK，也不能用jlink下載程序，擦程序也不行。請問該如何解鎖芯片，才能再次下載程序

2024-01-11 07:24:21

用vivado仿真添加rtl時(shí)導(dǎo)致編譯不通過如何解決？

用VCS仿真沒問題，用vivado仿真時(shí)添加rtl時(shí)就出現(xiàn)錯誤；出錯在rtl里斷言語法上（assert property），這會導(dǎo)致編譯不通過；該如何解決？

2023-08-16 07:47:06

電源引起的MCU啟動失敗原因以及解決方案推薦

的延長，下電時(shí)由于電容放電緩慢，下電時(shí)間也會更長。而上下電時(shí)間的延長，對于MCU來說，往往會帶來意外的致命缺點(diǎn)。比如某系列的MCU，就經(jīng)常能遇到客戶反饋說系統(tǒng)在掉電后重新上電，系統(tǒng)啟動失敗的問題，一開始

2019-05-23 08:30:00

請教Chipscope和boundary chain問題

新手請教：virtex5中有4條boundary scan chain(USER1,USER2,USER3,USER4)，創(chuàng)建chipscope ICON時(shí)只能使用一條chain。那么做了4條為什么只能用一條，4條chain有什么區(qū)別？若是我的理解有問題，請大牛指點(diǎn)，非常感謝！

2014-02-13 09:21:58

請教不同DSP使用JTAG daisy chain級聯(lián)的相關(guān)問題

5.5仿真器件：Wintech XDS560v2仿真工程：操作連接各自芯片GPIO引腳的LED燈小程序問題描述：在ccxmlconfiguration配置文件中，按照上述芯片的順序建立仿真

2018-07-31 10:09:25

請問仿真中MCU器件很少，怎么添加其他的MCU？怎么找？

本帖最后由一只耳朵怪于 2018-5-25 09:14 編輯仿真中 MCU器件只有很少的幾個(gè)，其他的怎么添加，在哪里找？

2018-05-24 23:05:47

請問如何解決AD程序下載失敗的問題？

2021-10-13 09:15:57

高速DAP仿真器

高速DAP仿真器 BURNER

2023-03-28 13:06:20

TXLink泰芯半導(dǎo)體MCU單片機(jī)開發(fā)工具仿真器

泰芯TXLink調(diào)試器MCU單片機(jī)開發(fā)工具仿真器 TXLink是珠海泰芯半導(dǎo)體有限公司基于Keil在8051開發(fā)平臺的調(diào)試器，目前支持泰芯

2022-10-27 18:53:09

SCAN921260,pdf datasheet (X6 1

The SCAN921260 integrates six deserializer devices into asingle chip. The SCAN921260 can

2009-10-13 10:01:52

SCAN921821,pdf datasheet (Dual

The SCAN921821 is a dual channel 18-bit serializer featuringsignal conditioning, boundary SCAN

2009-10-13 10:03:30

SCAN928028,pdf datasheet (8 Ch

The SCAN928028 integrates eight serializer devices into asingle chip. The SCAN928028 can

2009-10-13 10:07:10

DS26522 JTAG Scan Chain Mappin

Abstract: This application note describes the JTAG hardware boundary scan chain for the DS26522

2009-04-18 11:45:52

1078

DS21Qx5y BSDL Scan Chain Mappi

Abstract: This application note describes the JTAG hardware boundary scan functions of the quad

2009-04-20 09:12:39

804

protel99se在win7下安裝無法添加原理圖庫和元件庫如何解決

本文通過圖文講解protel99se在win7下安裝無法添加原理圖庫和元件庫如何解決，經(jīng)過小編測試，此解決方法是很有效的。

2013-05-03 23:25:00

56907

從一顆MCU芯片開始，降低抗干擾成本 ——MCU抗干擾實(shí)驗(yàn)系列專題（11）#MCU #芯片 #單片機(jī)

芯片mcu

MCU研究實(shí)驗(yàn)室發(fā)布于 2023-02-08 09:56:21

#國產(chǎn)8位芯片芯片OTP ADC型MCU：SQ2711L

芯片mcu

上海芯圣電子股份有限公司發(fā)布于 2023-09-15 10:27:24

英銳恩科技MCU科普：點(diǎn)沙成金的芯片技術(shù)究竟有多難？# MCU# 芯片

芯片mcu

英銳恩科技發(fā)布于 2024-01-11 17:25:55

GD32 MCU上電跌落導(dǎo)致啟動異常如何解決？#MCU #電路知識 #電路知識

電路mcu

聚沃科技發(fā)布于 2024-01-30 09:52:54

分析引起較高時(shí)鐘頻率仿真失敗的原因

通常如果你的設(shè)計(jì)在較低時(shí)鐘頻率時(shí)通過了仿真，但是在較高時(shí)鐘頻率時(shí)卻失敗了，你的第一個(gè)問題應(yīng)該是你的設(shè)計(jì)在某個(gè)較高時(shí)鐘頻率時(shí)是否達(dá)到了時(shí)序約束的要求。

2017-01-04 13:08:12

3126

英銳恩MCU芯片科普：單片機(jī)芯片選型指南

MCU芯片

英銳恩科技發(fā)布于 2025-01-17 18:10:05

Cortex-A9 MBIST ControllerTechnical Reference

Cortex-A9 MBIST ControllerTechnical Reference

2017-10-26 08:59:46

一文讀懂DC/AC SCAN測試技術(shù)

1 讀入沒有插入scan的網(wǎng)表 2 使用Design compiler 插入scan chain和OCC （on chipclocking）模塊，同時(shí)插入mux， fix DRC 3

2017-10-26 16:01:36

40148

高通收購失敗之后，恩智浦的未來在哪？

耗時(shí)19個(gè)月，總金額高達(dá)380億美元的高通并購恩智浦大案宣告失敗，兩家芯片豪門并未如愿攜手共進(jìn)，合巹之歡如夢幻泡影。一方面，高通平靜地接受現(xiàn)實(shí)；另一方面，恩智浦繼續(xù)前行。

2018-09-07 09:13:15

5304

Proteus軟件仿真失敗的原因有哪些

Proteus 因其強(qiáng)大的仿真能力，在單片機(jī)項(xiàng)目數(shù)學(xué)中得到了廣泛的使用。然而即使Proteus 仿真電路模型完全正確，也會引起仿真的失敗。本文通過兩個(gè)仿真失敗實(shí)例進(jìn)行了分析，并提出了相應(yīng)解決方法。

2019-10-17 16:56:26

ADIsimRF Signal Chain Calculator

ADIsimRF Signal Chain Calculator

2021-01-28 14:39:27

靈動微電子MM32 MCU燒錄經(jīng)驗(yàn)分享

大家有碰到這種情況請不要著急，此篇文章靈動微總代理英尚微電子專門來講解如何解決燒寫失敗的情況及有可能出現(xiàn)該類問題的原因。MM32無法進(jìn)行燒寫原因有多種情況，我們從硬件和軟件兩個(gè)方面分析：硬件原因：1、使用的調(diào)試器不支持調(diào)試下載MM32 MCU，IAR/KEIL上仿真器選擇/配置不正確，MM32 MCU已經(jīng)獲

2021-10-26 12:06:07

【MCU】MDK錯誤：error in include chain (cmsis_armcc.h):expected identifier or ‘(‘

【MCU】MDK錯誤：error in include chain (cmsis_armcc.h):expected identifier or ‘(‘

2021-11-30 19:51:06

MM32 MCU燒錄經(jīng)驗(yàn)分享

今天這篇文章專門來講解如何解決燒寫失敗的情況及有可能出現(xiàn)該類問題的原因。

2022-02-10 10:30:22

J2Chain Java開源區(qū)塊鏈項(xiàng)目

gitee-J2Chain.zip

2022-04-22 09:30:52

arp-scan ARP查詢工具

arp-scan.zip

2022-05-05 09:51:25

MCU芯片設(shè)計(jì)了mbist、scan chain之后，功能仿真失敗？

接著上文，MCU芯片設(shè)計(jì)了mbist、scan chain之后，功能仿真失敗？

2023-02-20 09:35:15

2351

怎么配置DFT中常見的MBIST以及SCAN CHAIN

今天這期小編將繼續(xù)與大家一起學(xué)習(xí)DFT的相關(guān)知識和流程代碼，在開始之前，先解決一下上期DFT學(xué)習(xí)的章節(jié)最后留下的問題—DFT工程師在收斂時(shí)序timing的時(shí)候經(jīng)常遇到的hold的問題，即不同時(shí)鐘域的兩個(gè)SDFF(掃描單元的SI端hold違例問題。

2023-04-16 11:34:59

10040

是否需要補(bǔ)插scan chain的isolation cell？怎么插呢？

當(dāng)然最顯而易見的辦法就是vclp檢查哪兒需要補(bǔ)插isolation cell，那么是否需要補(bǔ)插scan chain的isolation cell, 怎么插呢？

2023-05-10 09:18:00

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T-Scan 系統(tǒng)的特點(diǎn)及其臨床應(yīng)用

[摘要] T-Scan系統(tǒng)能精確記錄咬合接觸的時(shí)間、力量、面積和動態(tài)分析咬合接觸情況，自問世以來通過產(chǎn)品的不斷更新與發(fā)展，使其更好地運(yùn)用于口腔臨床和科研工作中。本文就 T-Scan 系統(tǒng)的特點(diǎn)和臨床應(yīng)用作一綜述。 [關(guān)鍵詞] T-Scan 系統(tǒng)；咬合接觸；咬合分析；臨床應(yīng)用

2022-04-01 15:59:51

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J-Link連接MCU失敗解決辦法

J-Link連接MCU失敗解決辦法

2023-10-18 17:43:00

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芯片設(shè)計(jì)測試中scan和bist的區(qū)別

Scan stitching 是把上一步中得到的Scan DFF的Q和SI連接在一起形成scan chain。在芯片的頂層有全局的SE信號，以及scan chain的輸入輸出信號：SI 和 SO。通過scan chain的連續(xù)動作，就可以把問題從對復(fù)雜時(shí)序電路的測試轉(zhuǎn)化成測試組合電路。

2023-10-09 16:53:17

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