與一般的ADC轉(zhuǎn)換程序相比，帶校正的ADC轉(zhuǎn)換程序需要另外增加兩個程序段：校正值的計算以及利用校正值對ADC進行處理。為了方便操作及轉(zhuǎn)換結(jié)果獲取，實現(xiàn)中定義了結(jié)構(gòu)體變量ADC?CALIBRATION?VARS，用來保存ADC轉(zhuǎn)換后的各種數(shù)據(jù)。另外,提高程序的通用性，采樣的方式、參考電壓值及高低電壓理想的轉(zhuǎn)換值均在ADC轉(zhuǎn)換頭文件ADCCalibration.h中定義。ADC?CALIBRATION?VARS定義如下：

　　typedefstruct{

　　Uint*RefHighChAddr;//參考高電壓所連通道地址

　　Uint*RefHighChAddr;//參考低電壓所連通道地址

　　Uint*ChoAddr;//0通道地址

　　UintAvg_RefHighActualCount;//參考高電壓實際轉(zhuǎn)換值

　　UintAvg_RefHighActualCount;//參考低電壓實際轉(zhuǎn)換值

　　UintRefHighIdealCount;//參考高電壓理想轉(zhuǎn)換值

　　UintRefLowCount;//參考低電壓實際轉(zhuǎn)換值

　　UintCalGain;//校正增益

　　UintCalOffset;//校正失調(diào)

　　//校正通道的轉(zhuǎn)換值

　　UintCh0;

　　UintCh16;

　　}ADC?CALIBRATION?VARS;

　　整個A/D轉(zhuǎn)換任務(wù)由中斷函數(shù)intADC()和主函數(shù)ADCCalibration()構(gòu)成。中斷函數(shù)主要用于轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)的讀取，而校正參數(shù)計算及各通道轉(zhuǎn)換結(jié)果的修正在主函數(shù)完成。校正完后，將結(jié)果保存到所定義的結(jié)構(gòu)體變量中。此處，對ADC的校正采用單采樣單校正的處理方法，當然也可以采用多采樣單校正的處理方法，但是為了提高精度，如果設(shè)計系統(tǒng)開支允許，建議最好使用單采樣單校正的方法，以提高ADC精度。

　　2.3實驗結(jié)果

　　筆者在自己所使用的F2812系統(tǒng)上進行了實驗，選用1 V和2 V作為參考電壓，選用通道A6和A7作為參考通道，通過對0 V、0.5 V、1.5 V、2.5 V校正前后的數(shù)據(jù)進行比較，發(fā)現(xiàn)采用上述校正方法后，ADC的轉(zhuǎn)換準確度明顯得到改善，比較結(jié)果如表2所列。

?

　　注：由參考電壓計算得：CalGain=0.965;CalOffset=6.757。

　　表2中所給出的數(shù)據(jù)只是筆者進行大量實驗后所得數(shù)據(jù)的一組，實驗證明通過校正后ADC的誤差能被控制在0.5%以內(nèi)，這對大多數(shù)測控系統(tǒng)來說已滿足要求，對于轉(zhuǎn)換精度要求更高的系統(tǒng)，可以采用外擴A/D轉(zhuǎn)換器。

　　結(jié)語

　　TMS320F2812ADC模塊精度的提高，將進一步提高其在控制領(lǐng)域中的應(yīng)用。本文提出的用于提高ADC模塊精度的校正算法，經(jīng)實際應(yīng)用證明實用可行。