EMI測試過程中LISN作用是什么？

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電磁兼容(100111) 電磁兼容(100111)
測試系統(tǒng)(63680) 測試系統(tǒng)(63680)
LISN(13967) LISN(13967)

蘋果對外展示iPhone6測試工廠，測試過程堪稱嚴苛

針對近期iPhone6容易變彎的事實，蘋果罕有的向外媒開放了測試工廠，展示了整個測試環(huán)節(jié)。繼此前發(fā)布聲明之后再向外媒展示測試環(huán)節(jié)的時候蘋果再次強調(diào)iPhone6是非常堅固的產(chǎn)品。##蘋果罕見地向外媒開放測試工廠。##iPhone6測試過程圖解。

2014-09-28 10:43:13

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4G LTE和LTE-Advanced設(shè)備在制造和測試過程中的挑戰(zhàn)分析

本文旨在對4G LTE和LTE-Advanced設(shè)備在制造和測試過程中會遇到的一些挑戰(zhàn)進行分析。這些挑戰(zhàn)既有技術(shù)方面的，也有經(jīng)濟方面的。了解哪些缺陷需要檢測有助于我們在實際的生產(chǎn)環(huán)境中采用更好的測試

2019-07-18 06:22:43

EMI知識連載第一期----規(guī)范與測量

僅為 159nA。三、傳導(dǎo)EMI測試LISN 測量 EUT 產(chǎn)生的傳導(dǎo)發(fā)射。它是插入 EMI 源和電源之間測量點的接口，確保 EMI 測量結(jié)果的可重復(fù)性和可比較性。圖 3 所示為根據(jù) CISPR

2021-09-16 07:00:00

LISN阻抗

電磁干擾（EMI）的測試工作電路的一個熟悉的位。人們會使用各種LISN之間存在差異，但僅僅采用其中一種并實際計算出被測單元UUT與實際電力線的阻抗可能是有益的，而實際電力線的線路阻抗是假定的。變量

2018-07-25 18:07:47

lisn中的電子被動元件的數(shù)值選?。ň哂兄笇?dǎo)意義）實際工作時的lisn電路lisn的作用作用解釋提供50Ω標(biāo)準(zhǔn)阻抗在相線和安全地線（綠線）之間、中線和安全地線之間提供一個穩(wěn)定的阻抗（50Ω）防止電網(wǎng)上的外部傳導(dǎo)噪聲干擾測量在傳導(dǎo)發(fā)射測量頻率（150kHz~30MHz）被滿足。

2021-10-29 07:48:56

測試過程中芯片表面打火？？？

在雙極測試過程中經(jīng)常出現(xiàn)表面打火，將芯片表面的雙極擊穿了，測試電壓在600--800v.請問哪位大俠有解決的方法嗎？

2012-09-12 21:41:51

ADS1216芯片調(diào)試過程中數(shù)據(jù)采集一直不對

有誰用過ADS1216這顆芯片啊，在調(diào)試過程中數(shù)據(jù)采集一直不對，不知道該如何配置它寄存器，具體怎么操作的，誰有demo或相關(guān)的例子程序?。?/div>

2019-02-27 14:42:20

AD芯片在調(diào)試過程中遇到的問題，應(yīng)該怎么解決？

AD芯片在調(diào)試過程中遇到的問題，應(yīng)該怎么解決？一款TI/國半的超高速ADC調(diào)試經(jīng)驗分享

2021-04-09 06:41:24

ASEMI三相整流模塊MDS50HB160的原理和作用是什么

性阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)（LISN）。測試中使用的LISN結(jié)構(gòu)的主要作用是減少電網(wǎng)阻抗對測量結(jié)果的影響，隔離電網(wǎng)側(cè)的干擾。由于LISN的隔離作用，電網(wǎng)可以看作是只有基波電位和內(nèi)部阻抗的電源。

2021-08-19 15:33:53

CUBEIDE調(diào)試過程中，如何將數(shù)組仲的數(shù)據(jù)拷貝到電腦？

請問，有什么辦法可以在CUBEIDE 調(diào)試過程中，將數(shù)組的數(shù)據(jù)拷貝到電腦上去？

2025-09-09 07:20:49

INA321測試過程中，發(fā)現(xiàn)阻抗變化比較大，為什么?

測試過程中，發(fā)現(xiàn)阻抗變化比較大，有時候是40mΩ，有的時候顯示70mΩ，感覺差別比較大，不知道是什么原因

2024-08-20 06:56:02

NFC設(shè)備生產(chǎn)測試過程中應(yīng)考慮的因素

正確。在開發(fā)測試過程中，我們可以降低測試儀的磁場強度等級和調(diào)制深度，以確保任何與靈敏度、發(fā)送電平或損耗有關(guān)的缺陷都能被發(fā)現(xiàn)。當(dāng)然，我們也可以在生產(chǎn)測試中(上述連通性測試期間) 采用同樣的方法。此外

2014-05-19 19:25:45

NRF51822在調(diào)試過程中遇到哪些問題呢

NRF51822在調(diào)試過程中遇到哪些問題呢？如何去解決這些問題呢？

2022-01-26 07:02:59

OBC與DC-DC開發(fā)測試過程

Converter單件開發(fā)及整車開發(fā)測試過程中，都需要對其進行功能和性能方面進行全面的測試。目前，很多客戶將OBC充電、OBC放電、DC-DC Converter（以下簡稱DCDC）功能集成到一起，暫且將

2021-09-17 08:09:36

PCB設(shè)計過程中的EMC和EMI模擬仿真

，不可避免地會引入EMC（電磁兼容）和EMI（電磁干擾）的問題，所以對電子產(chǎn)品的電磁兼容分析顯得特別重要。與IC設(shè)計相比，PCB設(shè)計過程中的EMC分析和模擬仿真是一個薄弱環(huán)節(jié)。　

2019-07-22 06:45:44

RS預(yù)兼容EMI測試解決方案

，和設(shè)備制造商提供有效的幫助，使研發(fā)人員可以提前采取相應(yīng)的措施避免以后重復(fù)進行昂貴的認證測試。多樣的測試能力，高精度和快速的自動測量模式使得這些解決方案成為研發(fā)實驗室的首選。一、主要特點1、產(chǎn)品研發(fā)過程中

2019-10-15 14:29:54

SRIO高速大量數(shù)據(jù)傳輸測試，在測試過程中若發(fā)生錯誤，請問可以通過那些寄存器來讀取錯誤狀態(tài)？

現(xiàn)在對SRIO進行長時間連續(xù)數(shù)據(jù)傳輸測試：時間：40小時、速率：2.5G模式：x4一般來說，多大的誤碼率是業(yè)界正常范圍？在測試過程中若發(fā)生錯誤，可以通過那些寄存器來讀取錯誤狀態(tài)？在C6657芯片內(nèi)部的SRIO模塊對于傳輸錯誤有硬件校驗機制嗎？若有，那些相關(guān)寄存器進行控制和狀態(tài)讀??？

2018-08-06 08:46:18

STM32F103VET6芯片重復(fù)上電測試過程中電流異常

我這邊測試出現(xiàn)這個情況：采用STM32F103VET6芯片，整個板子正常工作時電流為20mA; 在重復(fù)上電測試過程中，出現(xiàn)過整個板子工作電流在40-50mA,不等情況，在這個情況下，有部分功能不能正常工作。出現(xiàn)頻率大約在30次中出現(xiàn)個一二次的樣子。

2019-02-27 09:47:25

STM32F4使用了rt Thread創(chuàng)建了F4的工程，測試過程中出現(xiàn)死機情況怎么解決？

前段時間工作中，使用了rt Thread創(chuàng)建了F4的工程，待所有板級驅(qū)動和業(yè)務(wù)寫完后開始測試產(chǎn)品。其中F4芯片一路串口接GPS模塊，進行7*24h長期測試，測試過程中出現(xiàn)死機情況。再次測試仍會復(fù)現(xiàn)。

2024-04-02 06:26:56

STM32在調(diào)試過程中頭哪些常見的問題

STM32在調(diào)試過程中頭哪些常見的問題？怎樣去解決這些問題呢？

2021-11-03 06:42:46

STM32的CAN總線調(diào)試過程中的一些小總結(jié)

調(diào)試過程中的一些小總結(jié)

2021-08-19 06:06:42

STM32調(diào)試過程中常見的問題有哪些

STM32調(diào)試過程中常見的問題及解決方法一、在“Debug選項卡”下設(shè)置好仿真器的類型后，下載程序時卻提示“No ULINK Device found.” 解決辦法： Keil MDK默認

2021-08-06 06:12:27

TLV320AIC3254EVM-U開發(fā)板測試過程中突然不能使用，總是燒錄失敗的原因？

我用的TLV320AIC3254EVM-U開發(fā)板，測試過程中突然不能使用，然后我重新刷一下固件，發(fā)現(xiàn)總是燒錄失敗，求解！！

2024-10-17 06:50:49

bootloader文件的作用是什么？

啟動文件的作用是什么?bootloader文件的作用是什么？stm32的啟動方式有哪些？stm32啟動過程是怎樣的？

2022-01-27 07:42:54

tlv320aic3254evm-m評估板進行測試，測試過程中燒錄了內(nèi)部程序后就無法識別了，為什么？

我用的tlv320aic3254evm-m評估板進行測試，測試過程中燒錄了內(nèi)部程序，然后我就無法識別這個評估板了，折騰了一整天也不知道怎么回事？如果我想重新刷一下里面固件，需要怎么做呢？

2024-10-18 07:26:58

一文讀懂EMI的傳播過程.

EMI是電子電路設(shè)計過程中普遍的問題，一直在尋找能夠完全消除或降低電磁干擾方法。想要完全的消除EMI的干擾，首先需要的就是了解EMI是什么，它的傳播過程是怎么樣的，下面對EMI的傳播過程進行一個大

2020-10-21 11:36:41

為什么nulink會在調(diào)試過程中時不時的中斷？

為啥nulink 會在調(diào)試過程中時不時的中斷？是不是要設(shè)置什么？

2024-01-17 06:52:23

為什么你的示波器抓不到調(diào)試過程中的異常信號呢？

如何讓您在調(diào)試中異常信號一覽無余呢？為什么你的示波器抓不到調(diào)試過程中的異常信號呢？

2021-04-29 06:27:18

使用CCS的過程中,延時不起作用

在使用CCS的過程中,我發(fā)現(xiàn)在有關(guān)于有軟件延時的程序中會出現(xiàn)問題,感覺延時沒起到作用

2018-10-18 11:25:27

使用keil調(diào)試過程中開啟看門狗就報錯怎么解決？

1.使用keil調(diào)試過程中，不可以開啟看門狗，不然會報錯：nu_Link ice:cmderror-get register data error2.官方方法，沒有深入嘗試，目前的解決方法

2021-11-22 07:29:48

單片機中斷的作用是什么？處理過程是怎樣的？

單片機中斷的作用是什么？處理過程是怎樣的？

2021-11-01 07:07:57

在繪制原理圖過程中，發(fā)現(xiàn)了三個電阻相互連接的電路，請問一下它們的作用是分流嗎？

在繪制原理圖過程中，發(fā)現(xiàn)了三個電阻相互連接的電路，請問一下它們的作用是分流吧，基礎(chǔ)薄弱，請莫見笑

2016-10-11 15:41:39

基于示波器的EMI輻射干擾測試

的頻率，方向，波長。而且因為電磁場無法進入密閉的空間，在抗擾室測試的汽車部件在測試過程中能夠接收精確且高度可控的電磁波。同時，電磁波也無法離開干擾室，用于測試的測量儀器以及在抗擾室外操控的工程師能夠免于

2019-06-10 08:23:39

安泰測試分享~R&S預(yù)兼容EMI測試解決方案

，使研發(fā)人員可以提前采取相應(yīng)的措施避免以后重復(fù)進行昂貴的認證測試。多樣的測試能力，高精度和快速的自動測量模式使得這些解決方案成為研發(fā)實驗室的首選。主要特點l 產(chǎn)品研發(fā)過程中理想的EMI診斷工具l 可靠

2019-11-19 09:18:21

我用KEIL2編程調(diào)試過程中輸入SMOD無法編譯

本帖最后由 eehome 于 2013-1-5 09:55 編輯大家好，我今天在做51單片機串口調(diào)試過程中，遇到一個問題，設(shè)置串口波特率那里，本來輸入SMOD=0；表示串口波特率不加倍，可惜我輸入這條指令無法編譯，請問這是怎么回事？

2012-12-12 18:37:15

晶振的作用是什么？

能夠出現(xiàn)機械力的。我們在了解晶振的時候，需要根據(jù)其材質(zhì)與性狀進行對比，對于機電設(shè)備來說，在運作的過程中，往往是會出現(xiàn)機電效應(yīng)的。晶振作用是什么？大家也可以根據(jù)重要的特征進行分析，比如其熱膨脹系數(shù)、石英

2016-08-08 11:29:48

靈動微MCU測試過程中確保頻率校準(zhǔn)方法分享

靈動微MCU測試過程中確保頻率校準(zhǔn)方法

2020-12-31 06:55:28

燒錄過程中如何解決.out文件的問題

用的是MSP430G2553，為了測試LED程序。燒錄過程中發(fā)現(xiàn)無法實現(xiàn)，由于對話框中所示：.out couldn't open. 請問各位：1，如何解決.out文件的問題2，.ccxml目標(biāo)文件是不是必須設(shè)置？它的作用是什么？初學(xué)者，時間較緊，有些信息可能自己沒有認真去找，麻煩各位解答多謝

2019-06-12 12:43:47

用vca821做測試，發(fā)現(xiàn)測試過程中芯片會發(fā)燙，這是什么原因呢？

我最近在用vca821做測試，發(fā)現(xiàn)測試過程中芯片會發(fā)燙，但是工作狀態(tài)似乎有是正常的。請問這是什么原因呢？

2024-08-23 08:18:03

用示波器測試過程中探頭電阻在故障分析中的影響

我們的電路板出現(xiàn)了問題，在定位問題的過程中通常會用到萬用表、示波器等測試工具，這些設(shè)備在測試過程中自身的阻抗是需要考慮的，比如在測電流的時候要考慮萬用表自身的電阻，示波器探頭自身的電阻，下面就是一個

2022-01-11 07:52:05

記錄一次STM32H743 CANFD調(diào)試過程中的一次BUG

記錄一次STM32H743 CANFD調(diào)試過程中的一次BUG

2021-08-13 06:30:35

請問nrf24l01傳輸過程中結(jié)束符有什么作用？

nrf24l01傳輸過程中結(jié)束符有什么作用？

2023-10-23 07:31:57

附加相位噪聲的測試過程是怎樣的？有什么注意事項？

本文簡單介紹了相位噪聲的定義，詳細介紹了附加相位噪聲的測試過程，給出了實際的測試結(jié)果，指出了附加相位噪聲測試過程中的一些注意事項，希望對附加相位噪聲測試人員有一定的借鑒意義。

2021-05-11 06:50:14

動態(tài)模型在軟件系統(tǒng)測試過程中的應(yīng)用研究

系統(tǒng)測試是軟件開發(fā)過程中的重要環(huán)節(jié)，系統(tǒng)測試過程的動態(tài)模型有助于更好地理解和分析系統(tǒng)行為，做出正確的判斷和決策；相對于已有的軟件測試模型，通過對錯誤發(fā)現(xiàn)效率的

2009-07-16 11:58:55

電源設(shè)計調(diào)試過程中的異?，F(xiàn)象分析

調(diào)試過程中所看到的一些異?，F(xiàn)象，以及后來的解決辦法。其實很多工程師認為設(shè)計電源是非常重經(jīng)驗的一門技術(shù)，要見多識廣。這種經(jīng)

2010-10-09 10:49:18

1955

LED測量過程中光學(xué)和熱學(xué)問題解決方法

LED測試過程中所遇到的幾個問題 LED測試隨方向性變化的問題 LED光學(xué)特性隨溫度變化的問題

2011-11-23 14:21:18

TDR測試過程靜電危害及其預(yù)防

文章簡要介紹靜電產(chǎn)生原理及其危害，詳細分析TDR儀器主體結(jié)構(gòu)及測試過程靜電危害，針對靜電產(chǎn)生環(huán)節(jié)采取預(yù)防措施，并初步取得成效。

2011-12-16 11:24:43

4181

LISN在電力電子設(shè)備EMI測試中的應(yīng)用

電力電子設(shè)備產(chǎn)生的電磁發(fā)射通常在較低頻率范圍內(nèi)，根據(jù)GB/T6133.1 中關(guān)于電氣設(shè)備性能的測試要求，通常只需要測量其傳導(dǎo)干擾。本文詳述了在電力設(shè)備EMI 測試中的重要輔助設(shè)備電源

2011-12-22 15:58:10

219

電腦電源中，光耦的作用是什么？

電腦電源中，光耦的作用是什么？

2012-06-25 11:47:07

3846

變頻器調(diào)試過程中的注意事項及其5個因素的介紹

變頻器的調(diào)試工作相對較復(fù)雜，一般設(shè)備使用廠家很難獨立完成，基本上都會要求變頻器生產(chǎn)廠家來協(xié)助其配合完成整個設(shè)備的調(diào)試工作。所以在變頻器的調(diào)試過程中，不論是使用廠家還是生產(chǎn)廠家都要考慮和注意這些

2017-11-01 09:00:03

工業(yè)軟件現(xiàn)場測試過程及其測試數(shù)據(jù)生成方法

在工業(yè)軟件的用戶生產(chǎn)現(xiàn)場測試中，可能由于操作風(fēng)險、用戶生產(chǎn)限制等約束而導(dǎo)致測試不充分，針對實踐中的難點提出新的現(xiàn)場測試過程及其測試數(shù)據(jù)生成方法。定義了測試拆分子集及相關(guān)屬性概念，根據(jù)現(xiàn)場因素

2017-11-30 10:08:53

壓力傳感器測試過程的可靠性概念概述[圖]

根據(jù)壓力傳感器的實際測試過程中的各個環(huán)節(jié)已經(jīng)或可能產(chǎn)生的影響，獲取壓力傳感器真實性能輸出數(shù)據(jù)的因素，采用可靠性的分析方法對其進行分析；提示了測試過程中影響傳感器輸出的規(guī)律，減小傳感器因在測試過程中產(chǎn)生的誤差；并為深入研究壓力傳感器提供一條新的思路，為研究新的壓力傳感器提供一定的理論依據(jù)。

2018-01-18 11:21:59

4360

關(guān)于PCB設(shè)計過程中的EMC/EMI仿真淺析

應(yīng)用就非常重要了。但目前國內(nèi)國際的普遍情況是，與IC設(shè)計相比，PCB設(shè)計過程中的EMC分析和模擬仿真是一個薄弱環(huán)節(jié)。同時，EMC仿真分析目前在PCB設(shè)計中逐漸占據(jù)越來越重要的角色。

2018-09-16 11:35:25

6513

單片機調(diào)試過程中的調(diào)試組件導(dǎo)致的問題

單片機調(diào)試過程中，經(jīng)常會遇到類似第3只眼的問題。何謂第3只眼呢？

2018-12-30 17:12:00

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淺析STM32調(diào)試過程中的幾個相關(guān)問題

總的來講，單片機調(diào)試是單片機開發(fā)工作必不可少的環(huán)節(jié)。不管你愿不愿意，調(diào)試過程中總會有各種不期而遇的問題出現(xiàn)在我們面前來磨礪我們。這里分享幾點STM32調(diào)試過程中與開發(fā)工具及IDE有關(guān)的幾個常見問題，以供參考。

2019-01-21 13:50:58

6078

自動測量模式將成為預(yù)兼容EMI測試研發(fā)的首選

的措施避免以后重復(fù)進行昂貴的認證測試。多樣的測試能力，高精度和快速的自動測量模式使得這些解決方案成為研發(fā)實驗室的首選。傳導(dǎo)EMI測試所需的線性阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)(LISN) LISN將干擾信號從被測設(shè)備耦合到測試設(shè)備，同時，在所要求的頻帶內(nèi)提

2020-07-23 16:48:17

741

鋰離子電池測試過程的誤差分析

部分動力電池企業(yè)將電池送外檢測，不同結(jié)構(gòu)給出的結(jié)果往往也存在差異，更別提測試過程出現(xiàn)的各種數(shù)據(jù)波動等異常。

2019-12-02 17:19:26

7250

如何在電磁干擾室中進行EMI干擾測試

輻射抗擾室是一個完全密封的傳導(dǎo)空間，是一個理想的EMI測試環(huán)境，因為它能夠完全控制空間中產(chǎn)生的電磁場的頻率，方向，波長。而且因為電磁場無法進入密閉的空間，在抗擾室測試的汽車部件在測試過程中能夠接收精確且高度可控的電磁波。

2020-05-04 17:27:00

3387

光纖溫度傳感器在微波食品測試過程中的應(yīng)用

不僅快捷還可以最大限度地保留食物中的營養(yǎng)成分。于是有了微波食品。國家科學(xué)研究委員會的研究人員測量了用蒸、高壓鍋、煮或微波爐烹煮的椰菜中的抗氧化劑含量。通過測試發(fā)現(xiàn)，在蒸的過程中，蔬菜中的抗氧化劑幾乎沒有被

2020-04-21 09:01:38

2651

六線制稱重傳感器在測試過程中的注意事項都有哪些

六線制稱重傳感器在測試過程中的需要注意的地方，六線制稱重傳感器實際上是一種將質(zhì)量信號轉(zhuǎn)變?yōu)榭蓽y量的電信號輸出的裝置。用傳感器應(yīng)先要考慮傳感器所處的實際工作環(huán)境，這點對正確選用稱重傳感器至關(guān)重要

2020-08-25 15:50:49

1598

電源設(shè)計過程中器件和材料的測試和分析

電源資料：電源設(shè)計過程中器件和材料的測試和分析資料

2020-12-15 15:18:20

鎖具套裝在使用過程中它起到的作用是什么

現(xiàn)在的工業(yè)經(jīng)濟時代發(fā)展之下，對于企業(yè)安全管理生產(chǎn)能力自然環(huán)境會有一個更高的要求，而在中國這樣的情況下，也就需要使用到鎖具套裝，在這種鎖具的使用教學(xué)過程中，也有我們自己的具體實際作用，那么它都是有

2020-12-25 11:22:49

1070

EMI濾波電路的作用是什么

EMI濾波器主要作用是濾除外界電網(wǎng)的高頻脈沖對電源的干擾，同時也起到減少開關(guān)電源本身對外界的電磁干擾。實際上它是利電感和電容的特性，使頻率為50Hz左右的交流電可以順利通過濾波器，但高于50Hz以上

2021-05-18 10:09:23

8746

EMI濾波電路的作用是什么

2021-08-10 17:44:04

7538

DCDC開關(guān)電源電磁兼容（二）什么是LISN（有內(nèi)部電路詳細解釋）

lisn中的電子被動元件的數(shù)值選取（具有指導(dǎo)意義）實際工作時的lisn電路lisn的作用作用解釋提供50Ω標(biāo)準(zhǔn)阻抗在相線和安全地線（綠線）之間、中線和安全地線之間提供一個穩(wěn)定的阻抗（50Ω）防止電網(wǎng)上的外部傳導(dǎo)噪聲干擾測量在傳導(dǎo)發(fā)射測量頻率（150kHz~30MHz）被滿足。

2021-10-22 21:06:05

工程編譯和OAD測試過程中的注意事項

, 由于很多細節(jié)沒有說明, 用戶使用過程可能出錯. 這里將結(jié)合TI CC1310 SDK 1.60.00.21 版本(http://www.ti.com.cn/tool/cn/simplelink-cc13x0-sdk), 講解在工程編譯和OAD測試過程中的注意事項…

2021-12-14 15:36:27

1720

線束測試儀在聲吶設(shè)備生產(chǎn)過程中的應(yīng)用

與電纜的其他芯線依次接觸并測試絕緣情況(每條芯線測試需要保壓 3~5 s)。由于電纜數(shù)量多，且需反復(fù)測試，以 37 芯電纜為例，僅一次絕緣就需測試 600 余次，測試過程中不允許出現(xiàn)漏測，600 余次

2022-02-10 11:49:57

767

RT-Thread上的單元測試：什么是單元測試？單元測試的作用是什么？

RT-Thread上的單元測試：什么是單元測試？單元測試的作用是什么？ ? ? ? ? ? 審核編輯：彭靜

2022-05-27 16:06:20

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電磁流量計調(diào)試過程中存在的問題以及解決措施

對流量計內(nèi)部設(shè)置參數(shù)進行仔細檢查，還需要調(diào)試顯示數(shù)據(jù)情況和信號反饋情況，查看它們是否處于正常運行狀態(tài)下。接下來就詳細介紹電磁流量計調(diào)試過程中存在的問題以及解決措施。

2022-10-27 09:08:49

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滲透測試過程中所使用的抓包方法

本篇只是簡單分享平常筆者滲透測試過程中所使用的抓包方法，后面會繼續(xù)更新其他以及安卓端的抓包方法，比較適合沒理解過這方面的新手作參考。

2023-02-01 15:41:51

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解決測試過程中多路供電的難題

■?■ 通信、人工智能、云計算、智能終端等產(chǎn)品功能越來越強大、電路也越來越復(fù)雜，在這些產(chǎn)品的測試過程中，往往需要多路的供電。與此同時，每個供電通道的電壓和電流規(guī)格各異，上電或下電過程電壓斜率、時序

2023-02-15 16:25:04

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EMI測試中電流探頭如何校準(zhǔn)

EMI(電磁干擾)測試是為了確保電子產(chǎn)品在使用過程中，不會對周圍其他設(shè)備造成電磁波干擾并影響正常使用的測試。在此測試中，電流探頭是非常重要的工具，其準(zhǔn)確性直接影響到測試結(jié)果的可靠性。電流探頭的校準(zhǔn)

2023-05-30 09:17:50

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防靜電ESD測試過程展示

點擊上方藍字關(guān)注我們防靜電ESD測試過程展示本期內(nèi)容為ESD的測試過程，先來看一下規(guī)格書中有哪些參數(shù)VRWM和IT是固定的，可用作設(shè)置參考，所以我們要測試的就是VBIPPVCIRC和VESD。測試前

2021-09-30 17:18:58

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淺析EMC認證過程中的整改方法

何為EMC整改？EMC整改就是指產(chǎn)品在功能調(diào)試或EMC測試過程中出現(xiàn)問題后所采取的彌補手段。首先我們從EMC認證測試項目說起，EMC認證測試主要包含兩大項：EMI（干擾）和EMS（產(chǎn)品抗干擾和敏感度

2023-02-13 11:50:37

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STMCU應(yīng)用過程中與電源相關(guān)的案例分享

我們在從事STM32單片機的應(yīng)用開發(fā)及調(diào)試過程中，往往會碰到各類異常。其中有不少比例的問題跟電源有關(guān)。

2023-08-04 14:52:00

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如何避免直線模組在加工過程中的變形

直線模組在加工過程中，模組底座會比較容易變形，這是主要是因為力的作用是相互的，任何物體在受力的狀態(tài)下都會產(chǎn)生應(yīng)力，直線模組變形會影響模組的直線度和平行度等，長度越長的模組造成的影響就越大，不僅影響裝配，而且還會影響整個模組的正常運行。

2023-03-20 18:35:47

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如何解決車載部品測試過程中峰值電流不足的問題？

如何解決車載部品測試過程中峰值電流不足的問題？隨著汽車電子系統(tǒng)的不斷發(fā)展和普及，車載部品的測試過程變得更加復(fù)雜和嚴峻。其中一個常見的問題是峰值電流不足。峰值電流不足可能導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確、設(shè)備損壞

2023-11-23 10:33:05

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為什么需要 EMI 預(yù)認證測試？

EMI是英文ElectroMagneticlnterference的縮寫，是電磁干擾的意思。電源是發(fā)生EMI的重要來源。電源電路中EMI電路的作用是濾除由電網(wǎng)進來的各種干擾信號，防止電源開關(guān)電路形成

2024-04-08 12:00:37

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CTI/PTI漏電起痕測試深度解析

測試過程中，電極對試樣的表面作用力為（1.0±0.05）N，也可以換算成等效質(zhì)量，即為（96.94-107.14）g。這個壓力的主要作用是使得電極與樣品穩(wěn)定接觸。

2024-04-15 12:20:34

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SMT生產(chǎn)過程中錫膏檢查(SPI)的作用是什么

一站式PCBA智造廠家今天為大家講講SMT生產(chǎn)過程中SPI的作用是什么?SPI在SMT貼片加工過程中起到的作用。在電子制造領(lǐng)域，SPI是指Solder Paste Inspection，即焊膏檢測

2024-07-10 09:26:40

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RIGOL產(chǎn)品在材料應(yīng)力測試過程中的應(yīng)用

、強度、剛度、穩(wěn)定性等，可以精確地控制產(chǎn)品質(zhì)量。本篇解決方案將介紹RIGOL產(chǎn)品在材料應(yīng)力測試過程中的應(yīng)用。

2024-07-12 17:01:42

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emi濾波器的主要作用是濾除多少頻率的干擾

EMI（Electromagnetic Interference，電磁干擾）濾波器的主要作用是濾除電路中不必要的電磁干擾信號，以保護設(shè)備正常運行并滿足電磁兼容性（EMC）標(biāo)準(zhǔn)。關(guān)于EMI濾波器濾除

2024-08-25 14:33:18

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物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)品在生產(chǎn)測試過程中快速讀取貼片SIM卡號的方案

卡號，讀卡表產(chǎn)品可以解決在研發(fā)測試過程中，方便讀取物聯(lián)網(wǎng)貼片卡卡號的問題。二、該問題帶來的危害及影響如果不讀出設(shè)備的SIM卡卡號，無法將設(shè)備與SIM卡對應(yīng)起來。當(dāng)設(shè)備的SIM卡狀態(tài)異常時，比如：欠費，卡停機，無法查詢設(shè)備對應(yīng)的SIM卡的狀態(tài)，

2024-09-23 16:14:37

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CP測試和WAT測試有什么區(qū)別

和測試過程中，CP測試（Chip Probing）和WAT測試（Wafer Acceptance Test）是兩個非常重要的測試環(huán)節(jié)。盡管它們都在晶圓（Wafer）階段進行，但二者的目的、測試對象、測試內(nèi)容和作用是有顯著不同的。

2024-11-22 10:52:20

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開關(guān)電源之EMI等效分析

（人工電源網(wǎng)絡(luò)）。 LISN 是電力系統(tǒng)中電磁兼容中的一項重要輔助設(shè)備。它可以隔離電網(wǎng)干擾，提供穩(wěn)定的測試阻抗，并起到濾波的作用。 LISN 是在進行傳導(dǎo)干擾發(fā)射測試中，為了客觀地考核受試設(shè)備（DUT

2024-12-06 10:32:29

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在測試過程中，如何防止電池擠壓試驗機的故障率？

在測試過程中，防止電池擠壓試驗機故障率的關(guān)鍵在于設(shè)備的使用、維護和保養(yǎng)。以下是一些具體的方法和建議：一、正確使用設(shè)備熟悉操作規(guī)程 · 操作人員必須熟讀并理解電池擠壓試驗機的操作規(guī)程和使用說明

2025-01-10 08:55:34

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使用EMI掃描儀和EMI測試接收機進行EMI可視化分析

隨著電子設(shè)備的復(fù)雜性日益增長，EMC（電磁兼容）測試在產(chǎn)品設(shè)計與3C認證過程中的作用愈發(fā)顯著。為通過3C認證，企業(yè)在產(chǎn)品研發(fā)初期便積極引入EMI測試環(huán)節(jié)，旨在先行識別并解決潛在的電磁干擾難題，從而

2025-02-08 10:01:20

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EMI測試過程中LISN作用是什么？

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