一、ESD放電分析：

在ESD放電的過(guò)程中，會(huì)產(chǎn)生瞬間的高電壓，大電流和寬帶的電磁干擾，以至于電子組件失效、損壞、降低可靠度，大至電子系統(tǒng)設(shè)備誤動(dòng)作、損毀，甚至?xí)劤芍卮鬄?zāi)難。

二、整改前實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象：

    此次實(shí)驗(yàn)對(duì)象是一款多功能藍(lán)牙音箱，其有AUX、藍(lán)牙、USB、TF卡等模式。在藍(lán)牙模式充電的情況下，設(shè)備在進(jìn)行空氣±8KV放電的時(shí)候，機(jī)器會(huì)出現(xiàn)斷藍(lán)牙，復(fù)位的現(xiàn)象。

三、整改過(guò)程：

由于對(duì)音箱進(jìn)行接觸放電的時(shí)候，發(fā)現(xiàn)音箱不會(huì)出現(xiàn)類似現(xiàn)象；于是先將PCB板的地定義為完整地；只要將靜電導(dǎo)到地上就行；所以第一步措施為：將AUX信號(hào)線上串上磁珠（ASIM型號(hào)：CVB1005C152T)并且對(duì)地并聯(lián)ESD器件（ASIM型號(hào)：CV0402VT6201T),如下圖：

其基本原理為：

整改好后，重新對(duì)音箱進(jìn)行空氣±8KV測(cè)試，發(fā)現(xiàn)現(xiàn)象有所改善，但是還是沒(méi)有徹底根除。于是查看PCB原理圖，發(fā)現(xiàn)機(jī)器MCU并沒(méi)有復(fù)位腳。根據(jù)實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象，模擬出現(xiàn)這種現(xiàn)象的狀態(tài)；最終確認(rèn)，此狀態(tài)與將電池插拔一樣；于是將目光定與電源上，其中就包括了MCU供電，USB充電口和電池。并且我們發(fā)現(xiàn)只有是將USB充電線連接上，才會(huì)出現(xiàn)這種現(xiàn)象。所以我們就在MCU  VCC上對(duì)地并聯(lián)ESD器件（型號(hào)：CV0402VT6201T)并串聯(lián)磁珠（ASIM型號(hào)：CVB1608E152T),并且在USB充電口對(duì)地并聯(lián)ESD器件（ASIM型號(hào)：CV0402VT6201T),如下圖：

再次進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，進(jìn)行空氣±8KV放電，放電次數(shù)為10次，樣機(jī)無(wú)明顯異常現(xiàn)象。整改結(jié)束！

四、整改心得：

從ESD測(cè)試配置描述可以看出，再進(jìn)行ESD測(cè)試時(shí)，需要將靜電槍的接地線接至參考接地板，EUT放置于參考接地板之上，靜電槍放電槍頭指向EUT中各種可能會(huì)被手觸摸到的部位或水平耦合板和垂直耦合板，這就決定了ESD測(cè)試是一種以共模為主的抗擾度測(cè)試，因?yàn)镋SD電流最終總要流向參考接地板。

從靜電放電波形分析，其上升沿時(shí)間為0.7ns到1ns，根據(jù)傅里葉變換可知其頻譜寬度能達(dá)到300MHZ。ESD器件的響應(yīng)時(shí)間一般為PS級(jí)別，所以用ESD器件去防護(hù)靜電是一種有效的措施。

從靜電的脈沖寬度看出，靜電的脈沖持續(xù)時(shí)間很短，其能量比浪涌小很多，所以絕大多數(shù)的小功率的ESD器件足以滿足對(duì)其的泄放。

ESD器件其主要是并聯(lián)在線路上，當(dāng)靜電事件發(fā)生的時(shí)候，ESD器件能夠瞬間導(dǎo)通，給靜電提供一條低阻抗的回路。這里需要注意幾點(diǎn)：

一、ESD器件的泄放地一定要完整，完整地的定義為長(zhǎng)寬比小于3的（沒(méi)有縫隙、沒(méi)有開(kāi)孔）二、ESD器件必須要放在信號(hào)線的主路上，不能放在支路上，不然會(huì)使得ESD器件的效果大大降低。

三、如果ESD器件是放在高速信號(hào)上，一定要考慮ESD結(jié)電容對(duì)信號(hào)的影響程度，信號(hào)速率越高，對(duì)ESD器件的結(jié)電容大小要求越低（即信號(hào)速率越高，ESD結(jié)電容越低）。