本篇文章將針對 USB3.2 框架及標(biāo)準(zhǔn)測試做介紹，這兩部分屬于協(xié)議層(Protocol Layer)及 Function 的測試。

USB3.2 框架(Framework)測試

? ? ? ?Framework 測試因為主要的測試項目皆為 TD9.X 開頭，所以我們說的Chapter9 或 CV 測試也是在指 Framework 測試。使用的軟件工具是 USB-IF 協(xié)會提供的Command Verifier，目前 CV 工具有 USB30CV、USB20CV、HUB30CV、 XHCICV、EHCICV 和 MHU3CV。一個待測物需要測試其最高速及 High Speed、Full Speed的 Chapter9，另外還需測試該待測物的Device Class Test，接著我們將對最常見的Chapter9 測試做介紹。USB 裝置狀態(tài)被分類為以下幾種， 見表(一)：

表(一)

連接USB3.2主機(jī)(Host)和裝置(Device)后會互相向?qū)Ψ秸埱笤S多描述(Descriptor)，在請求這些Descriptor時會用 到 Setup Packet，Setup Packet的組成整理如表(二)：

表(二)

bRequest的標(biāo)準(zhǔn)裝置請求(Standard Device Requests)整理如下表(三)：

表(三)

在Framework 測試中，測試目的為待測物的固件宣告是否正確及小部分的Function測試(如：Function Remote Wakeup 和 Enumeration 測試)，測試軟件會對我們的待測物發(fā)送不同的bRequest及Function的測試，即可比對待測物的宣告是否如實際狀況相同。當(dāng)中幾個常見的測試失敗有：U1及 U2沒開啟、Self-Power 或 Bus-Power宣告錯誤、bcdUSB 的版本命名宣告錯誤。

USB3.2 Interoperability 測試

在USB3.2產(chǎn)品拿認(rèn)證的測試當(dāng)中，一定會需要測試產(chǎn)品的功能性，這是 IOP(Interoperability)測試的目的。測試 原理就是將我們的待測物與Gold Tree連接起來之后，進(jìn)行我們整個Gold Tree及待測物的功能性驗證，若整個Gold Tree及待測物的功能性都能夠正常運作，則代表通過此測試。因USB接口最多可以接5層Hub，所以Gold Tree的設(shè)計都是在這樣的環(huán)境下做測試。這邊提供范例為USB3.2 Gen2 Peripheral的Modified IOP測試環(huán)境如圖 (一)：

圖(一) 來源 : xHCI Interoperability Test Procedures

接著就可利用IOP環(huán)境圖來測試待測物的功能性，測試步驟整理如下表(四)：

表(四)

以USB3.2 Gen2 Peripheral 測試為例子，測試完待測物在其最高速 SuperSpeedPlus 的 IOP 環(huán)境之后，還需將待測物分別降速到 SuperSpeed、High Speed 及 Full Speed 的 IOP 環(huán)境去做測試，測試步驟整理如表(五)：

表(五)

若今天USB3.2 產(chǎn)品可能是Compound Device甚至是要過 Silicon 測試時，所需要測試的 Gold Tree 環(huán)境也更為多樣，因測試目的及原理皆大同小異，所以我們就舉一個例子為代表。

另外在 IOP 的 CTS 之中，除了與 Gold Tree 的功能性測試之外，還有與省電狀態(tài)相關(guān)的 U1/U2 測試及 L1/LPM 測試，針對不同 USB3.2 產(chǎn)品所需測項也整理如表(六)：

表(六)

U1/U2 測試、LPM 測試及L1測試的測試標(biāo)準(zhǔn)也整理如表(七)：

表(七)

最后則是我們Current Measurement的部分，用于 Upstream Port 測試，測試目的為待測物在不同狀態(tài)時的電流拉載不可超過規(guī)范值，以確保待測物的功耗不會過高且在安全的范圍值之內(nèi)。Current Measurement 測試會搭配 CV 測試工具，SuperSpeedPlus/High Speed 和SuperSpeed/High Speed的Current Measurement 使用到 USB30CV， High Speed/Full Speed的 Current Measurement 使用到 USB20CV。在USB3.2產(chǎn)品最大電流拉載宣告分有High Power及 Low Power 兩種定義整理如表(八)：

表(八)

High/Full Speed的Current Measurement測試在EHCI Controller下，規(guī)范整理如表(九)：

表(九)

SuperSpeed/High Speed 的 Current Measurement 測試在 xHCI Controller 下，規(guī)范整理如表(十)：

表(十)

SuperSpeedPlus/High Speed 的 Current Measurement 測試在 ASMedia Add-in Card(ASM3142)下，規(guī)范整理如表(十一)：

表(十一)

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