一. 光電二極管探測(cè)器

光電二極管的結(jié)構(gòu)通常是1個(gè)PN結(jié)，中間是本征層，也稱(chēng)之為耗盡層或耗盡區(qū)，入射的光子在耗盡區(qū)激發(fā)自由電子和空穴，并引導(dǎo)它們分別向兩極運(yùn)動(dòng)，從而產(chǎn)生光電流。

表征光電二極管時(shí)，我們會(huì)用到量子效率，這里其實(shí)是指內(nèi)部量子效率，即產(chǎn)生的電子數(shù)與進(jìn)入載荷子區(qū)的光子數(shù)之比，用于確定光電二極管的性能。光電二極管的響應(yīng)度，對(duì)應(yīng)外部量子效率，即產(chǎn)生的電子數(shù)與所有到達(dá)二極管表面的光子數(shù)之比，包括因表面反射或吸收而沒(méi)有進(jìn)入載荷子區(qū)的光子，所以一般內(nèi)部量子效率高于外部量子效率。這種探測(cè)器的優(yōu)勢(shì)和缺點(diǎn)分別是：

優(yōu)勢(shì)：響應(yīng)速度快、靈敏度高、線(xiàn)性度好、噪聲低、暗電流小、尺寸小。

缺點(diǎn)：易飽和、光譜范圍有限、易受溫度影響、有效區(qū)域有限、放大電路。

二. 熱敏探測(cè)器

熱敏探頭先將光子能量轉(zhuǎn)化成熱量，再轉(zhuǎn)化成電流。熱敏功率探頭基于熱電效應(yīng)(亦稱(chēng)為塞貝克效應(yīng))：金屬或合金的一端受熱時(shí)會(huì)釋放電子，電子會(huì)朝著較冷的一端移動(dòng)，這是一種只要存在溫度差就會(huì)產(chǎn)生的現(xiàn)象，產(chǎn)生于金屬之間。

使用熱敏功率探頭測(cè)量較低的功率水平時(shí)，需要防止敏感區(qū)域受到黑體輻射。此外，也不要有任何通風(fēng)或環(huán)境溫度變化。而熱敏探測(cè)器同樣有著自身的優(yōu)勢(shì)和缺點(diǎn)在于：

優(yōu)勢(shì)：耐用性高、光譜范圍大、有效區(qū)域大。

缺點(diǎn)：靈敏度較差、噪聲大、響應(yīng)速度慢、尺寸較大。

對(duì)于連續(xù)光，光電二極管探測(cè)器和熱敏探測(cè)器都適用，但光電二極管探測(cè)器更精準(zhǔn)。而對(duì)于較高峰值功率的脈沖光，熱敏功率探測(cè)器更為合適。

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