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華科智源是一家專業(yè)從事功率半導體測試系統(tǒng)自主研發(fā)制造與綜合測試分析服務的高新技術企業(yè),核心業(yè)務為半導體功率器件智能檢測準備研制生產(chǎn)。

51 內(nèi)容數(shù) 1.1w 瀏覽量 2 粉絲

MOS管測試儀/設備

型號: HUSTEC-1600A-MT

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 設備尺寸 500(寬)x 450(深)x 250(高)mm
  • 質(zhì)量 30kg
  • 海拔高度 海拔不超過 1000m
  • 儲存環(huán)境 -20℃~50℃
  • 工作環(huán)境 15℃~40℃
  • 相對濕度 20%RH ~ 85%RH
  • 大氣壓力 86Kpa~ 106Kpa
  • 防護 無較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導電粉塵等空氣污染的損害
  • 用電要求 AC220V,±10%
  • 電網(wǎng)頻率 50Hz±1Hz

--- 產(chǎn)品詳情 ---

華科智源HUSTEC-1600A-MT MOS管測試儀/設備可用于多種封裝形式的 IGBT測試,還可以測量大功率二極管 、IGBT模塊,大功率 IGBT、大功率雙極型晶體管,MOS管等器件的 V-I 特性測試,測試1200A(可擴展至2000A),5000V以下的各種功率器件,廣泛應用于軌道交通,電動汽車 ,風力發(fā)電,變頻器,焊機行業(yè)的IGBT來料選型和失效分析,設備還可以用于變頻器,風電,軌道交通,電焊機等行業(yè)的在線檢修,無需從電路板上取下來進行單獨測試,可實現(xiàn)在線IGBT檢測,測試方便,測試過程簡單,既可以在測試主機里設置參數(shù)直接測試,又可以通過軟件控制主機編程后進行自動測試,通過電腦操作完成 IGBT 的靜態(tài)參數(shù)測試;

 

MOS管測試儀/設備產(chǎn)品信息:

1、產(chǎn)品型號及名稱:HUSTEC-3000A-MT IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀

2、產(chǎn)品測試電流電壓為3000A,±5000V,向下兼容

3、VGE最高可達±100V;開啟電壓VGETH支持兩種測試方法;

4、采用插槽式設計結構,便于升級和維護;

5、設備支持SI基,SIC材料的MOS管,IGBT單管及模塊,二極管測試,晶閘管測試,

6、自動進行分檔測試,既覆蓋大功率特征下的測試范圍,又可保證小功率器件測試精度

7、支持單點測試,I-V曲線掃描,還具有曲線對比功能;

8、測試數(shù)據(jù)可存儲為Excel文件,WORD報告

9、安全性,防爆,防觸電,防燙傷,短路保護等多重保護措施,確保操作人員、設備、數(shù)據(jù)及樣品安全。

 

MOS管測試儀/設備測試參數(shù):

ICES  集電極-發(fā)射極漏電流

IGESF 正向柵極漏電流

IGESR 反向柵極漏電流

BVCES 集電極-發(fā)射極擊穿電壓

VGETH 柵極-發(fā)射極閾值電壓

VCESAT 集電極-發(fā)射極飽和電壓

ICON 通態(tài)電極電流

VGEON 通態(tài)柵極電壓

VF 二極管正向?qū)▔航?/p>

整個測試過程自動完成,電腦軟件攜帶數(shù)據(jù)庫管理查詢功能,可生成測試曲線,方便操作使用

 

MOS管測試儀/設備基礎能力:

1) 測試電壓范圍:0-±5000V

2) 測試電流范圍:0-±1600A

3) 測試柵極電壓范圍:0-±100V

4) 電壓分辨率:0.1mV

5) 電流分辨率:0.1nA

 

MOS管測試儀/設備測試種類及參數(shù):

(1)Diode(支持 Si ,SiC , GaN 材料器件)

靜態(tài)參數(shù):BVR/擊穿電壓、IR/漏電流、VF/正向壓降;

(2)MOSFET(支持 Si ,SiC , GaN 材料器件)

靜態(tài)參數(shù):BVDSS/漏源極擊穿電壓,VGS(th)/柵極開啟電壓,IDSS 漏源極漏電流、VF/二極管正向壓降;Rdson 內(nèi)阻

(3)IGBT單管及模塊(支持 Si ,SiC , GaN 材料器件)

靜態(tài)參數(shù):BVCES/集射極擊穿電壓,VGE(th)/柵極開啟電壓 、ICES/集射極漏電流、VF/二極管正向壓降;VCESAT/飽和壓降,IGESR,IGESF 柵極漏電流

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