--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 溫度范圍 -40—150℃
- 吞吐量 高達(dá)33000UPH
- 多站點(diǎn) 多達(dá)200個(gè)站點(diǎn)
- 裝載量 80 個(gè)托盤
- 占地面積 2200 x 1400 mm (托盤到托盤)
- 器件尺寸 1x1x0.5 mm
- 器件封裝 QFP, LGA, QFN, BGA, 帶或不帶引腳
--- 產(chǎn)品詳情 ---

H3580是一款高吞吐量、完全可配置型吸放式Handler。H3580因其十分廣泛的可測(cè)試范圍而廣受好評(píng)。它成功的把搬運(yùn)、接觸、物理仿真和對(duì)MEMS及其他IC器件的完整測(cè)試完美的結(jié)合在一個(gè)單一的設(shè)備里。多種物理仿真可以結(jié)合在一個(gè)單一的測(cè)試單元里用來(lái)測(cè)試Combo MEMS,例如環(huán)境傳感器(壓力+濕度)或?qū)Ш絺鞲衅鳎铀俣扔?jì)+陀螺儀)。測(cè)試區(qū)域可以在現(xiàn)場(chǎng)很容易的被重新配置成其他測(cè)試單元。同時(shí)多站點(diǎn)測(cè)試單元可以大大提高機(jī)器產(chǎn)能:最多可同時(shí)接觸并測(cè)試196個(gè)元件,實(shí)現(xiàn)最高吞吐量。

- 80 JEDEC 托盤裝載能力
- 在操作過(guò)程中裝載/卸載托盤
- 用來(lái)預(yù)對(duì)準(zhǔn)的精密單元

- 高度的操作自主性
- 通過(guò)高速像機(jī)的光學(xué)測(cè)試
- 機(jī)器handling過(guò)程中自動(dòng)補(bǔ)料
- 可以同時(shí)配備托盤載入單元
- 5S檢測(cè)和光學(xué)檢查通過(guò)高速攝像機(jī)

高度的并行性
1-50 站點(diǎn)并行處理、接觸、測(cè)試
高達(dá) 200x 并行 接觸 及測(cè)試
高速、軟沖擊 Handling
2個(gè)由馬達(dá)控制并配備視覺(jué)系統(tǒng)的吸放單元
直線電機(jī)無(wú)摩擦
為了輕柔的釋放器件,設(shè)定軸運(yùn)動(dòng)曲線在零重力加速度時(shí)停下來(lái)釋放器件
極低的 jam rate
托盤缺陷自動(dòng)補(bǔ)償(形狀、平整度、尺寸不當(dāng))
器件自動(dòng)位置調(diào)整及接觸單元內(nèi)的器件的存在測(cè)試

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