NXP發(fā)布了《FAILURE PREDICTION WITH CHANGING EV AND AV MISSION PROFILES》，主要針對(duì)故障預(yù)測(cè)的，供大家參考。

ISO 26262-11:2018，??常數(shù)失效率用于計(jì)算安全指標(biāo)。?

? 假設(shè)1：早期故障被假定由供應(yīng)商有效地篩選出。?

? 假設(shè)2：在可用的任務(wù)壽命期間，磨損（Wear-out）故障被假定為可以忽略不計(jì)。

驗(yàn)證假設(shè) 壽命周期故障?

? 自動(dòng)駕駛的電動(dòng)汽車(chē)擴(kuò)展了車(chē)輛的使用工況。?

? 最新技術(shù)導(dǎo)入，給汽車(chē)的可靠性領(lǐng)域帶來(lái)了不確定性

自動(dòng)駕駛工作曲線

故障的問(wèn)題問(wèn)題陳述?

? 早期故障可能無(wú)法有效篩選出?

? 擴(kuò)展的使用曲線，可能將汽車(chē)的部件工況推向極限?

? 功能添加邊際（工藝、設(shè)計(jì)、測(cè)試等）成本過(guò)高或不可能 或者，

? 降低了產(chǎn)品的有用壽命?

? 沒(méi)有方法確定何時(shí)停止使用產(chǎn)品。

故障檢測(cè)方法

在故障類(lèi)型方面，潛在缺陷可分為以下幾種：永久性、間歇性、瞬時(shí)性，而根本原因則包括外部顆粒、電氣過(guò)應(yīng)力、焊墊腐蝕、接觸不良、晶圓劃痕、金屬空洞等，噪聲、串?dāng)_、電壓下降等。而偏置溫度不穩(wěn)定性（BTI）、熱載流子注入（HCI）、時(shí)間相關(guān)二氧化硅擊穿（TDDB）、電遷移（EM）等也是故障的根本原因。在檢測(cè)方面，采用了內(nèi)置自測(cè)試（BIST）、冗余設(shè)計(jì)、安全監(jiān)控等方法。故障的應(yīng)對(duì)方式包括：如果是間歇性故障，可進(jìn)行復(fù)位和恢復(fù)；如果是永久性故障，則進(jìn)行復(fù)位并恢復(fù)到安全狀態(tài)。?

潛在缺陷的一個(gè)子集可能引起電路性能（如時(shí)序、電流等）的逐漸變化。在某些情況下，例如Bias Temperature Instability（偏置溫度不穩(wěn)定性，BTI）和Hot Carrier Injection（熱載流子注入，HCI）引起電路時(shí)序逐漸變化。一些Time Dependent Dioxide Breakdown（TDDB）和Electromigration（電遷移，EM）缺陷的子集也可能導(dǎo)致電路時(shí)序逐漸變化。

將預(yù)測(cè)性維護(hù)應(yīng)用于計(jì)算安全指標(biāo)僅在以下情況下才具有意義：?

故障模式不是由瞬時(shí)故障引起的，例如上表中的FM2。這需要進(jìn)行充分的理由。例如，典型的故障模式可能包括由于老化導(dǎo)致的操作頻率降低等。在這種情況下，只有當(dāng)故障是由于永久性或間歇性原因而非瞬時(shí)故障引起時(shí)，才能應(yīng)用預(yù)測(cè)性維護(hù)進(jìn)行安全指標(biāo)的計(jì)算。必須給出合理的解釋來(lái)支持這種選擇。用于計(jì)算長(zhǎng)期失效模式（LFM），當(dāng)不考慮瞬時(shí)故障時(shí)，例如上表中的FM3。

在這種情況下，預(yù)測(cè)性維護(hù)可以用來(lái)預(yù)測(cè)長(zhǎng)期失效，前提是不將瞬時(shí)故障考慮在內(nèi)。這種情況下，系統(tǒng)可能會(huì)面臨特定的故障模式，需要采取適當(dāng)?shù)念A(yù)測(cè)性維護(hù)措施，以確保長(zhǎng)期運(yùn)行的可靠性和安全性。

預(yù)測(cè)性維護(hù)用于確定產(chǎn)品壽命

L3+級(jí)別的自動(dòng)駕駛車(chē)輛，車(chē)企需要在整個(gè)生命周期內(nèi)保證車(chē)輛的安全性。當(dāng)前無(wú)法使用簡(jiǎn)單通用的應(yīng)用曲線來(lái)引導(dǎo)客戶知道何時(shí)停用車(chē)輛。因?yàn)橛捎诃h(huán)境、使用條件、駕駛習(xí)慣等原因，車(chē)輛應(yīng)用曲線需要高度個(gè)性化。

可以添加到滿足汽車(chē)安全完整性級(jí)別（ASIL）要求的現(xiàn)有安全架構(gòu)之上。估算車(chē)輛的剩余有用壽命，類(lèi)似于油量指示器，通過(guò)儀表板和/或智能手機(jī)應(yīng)用程序通知用戶。

EoL：生命周期結(jié)束，警告消息：“自動(dòng)駕駛功能將在x個(gè)月內(nèi)達(dá)到其生命周期結(jié)束。如果不采取措施，將被停用。”

內(nèi)建自測(cè)解決方案可捕獲物理缺陷，例如邏輯BIST、內(nèi)存BIST、模擬BIST等，反映設(shè)備的健康狀況。多數(shù)物理缺陷表現(xiàn)為數(shù)字電路的時(shí)序故障，需要數(shù)字電路關(guān)鍵路徑監(jiān)視器。工藝變異和環(huán)境因素在缺陷加速中起著重要作用，故障類(lèi)型沒(méi)有好的解決方案，例如模擬性能退化，需要進(jìn)行持續(xù)研究。

編輯：黃飛

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