通用芯粒互連技術(shù)(UCIe)為半導(dǎo)體行業(yè)帶來了諸多可能性,在Multi-Die設(shè)計(jì)中實(shí)現(xiàn)了高帶寬、低功耗和低延遲的Die-to-Die連接。它支持定制HBM(cHBM)等創(chuàng)新應(yīng)用,滿足了I/O裸片
2025-08-04 15:17:24
2452 DIE-R-HA-1
2024-06-21 02:02:40
`按步驟建立txt 文件輸入pad的名稱坐標(biāo)后建立die出現(xiàn)這個(gè)問題 是不是沒有建立net?`
2020-01-14 14:45:59
的惡化基本可以預(yù)見。
讓高速先生略感欣慰的是,客戶也認(rèn)可雙DIE顆粒的實(shí)現(xiàn)難度,因此,可以在保證單DIE顆粒3200Mbps速率的基礎(chǔ)上,再考慮兼容雙DIE顆粒。
遇到如此善解人意的客戶,高速先生
2024-08-05 17:05:06
HMC347A-Die單刀雙擲(SPDT)HMC347A-Die 是ADI生產(chǎn)制造的一款寬帶、非反射式、砷化鎵(GaAs)假晶高電子遷移率晶體管(pHEMT)單刀雙擲(SPDT)單片微波集成電路
2025-06-20 09:49:44
您好,TLC2252-DIE的數(shù)據(jù)手冊顯示其Op Temp (°C)為 0 to 0, 請問0 to 0要怎么理解?
我看OPA2348-DIE, OPA170-DIE的Op Temp (°C)為 25only
謝謝。
2024-08-14 07:23:55
allegro中怎么生成flip chip裸die的.dra文件,目前有的資料就是芯片的BUMP序號、坐標(biāo)、直徑等信息。
2022-08-15 10:53:15
ADI的工程師,你好,我在貴公司網(wǎng)站上查詢到,部分運(yùn)算放大器提供chips or die的封裝,但我在該器件的數(shù)據(jù)手冊中無法查詢到chips or die的引腳定義與產(chǎn)品尺寸,請問我如何才能查詢到相關(guān)信息,謝謝
2019-02-18 07:19:40
量產(chǎn)測試的速度和覆蓋范圍。而且這些方法已經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)化,企業(yè)可以在最終產(chǎn)品制造的不同階段(從晶圓測試到芯片測試再到板級測試)使用通用的測試指標(biāo)和接口,以提高效率。本文介紹了如何使用Die-to-Die
2020-10-25 15:34:24
本帖最后由 gk320830 于 2015-3-5 20:43 編輯
引腳Die(y)這個(gè)符號是神馬意思?
2014-03-24 14:12:00
半導(dǎo)體工廠經(jīng)驗(yàn) 者優(yōu)先Die Bonding 設(shè)備銷售代理商1)Die Bonding 設(shè)備銷售代理商,有合適
2010-08-05 14:59:53
APD 換Die 時(shí),如果 finger 沒有net,如何做wirebond auto assign ?1. 前言在設(shè)計(jì)substrate 時(shí),經(jīng)常遇到客戶不斷的修改 die 的設(shè)計(jì) (ball 的net 沒變,die 的net 大部分也都相同,只是
2009-09-06 11:15:37
0 HMC-ALH509-Die:高頻低噪聲放大器的先進(jìn)選擇在高頻信號處理領(lǐng)域,低噪聲放大器(LNA)是實(shí)現(xiàn)高靈敏度信號接收的關(guān)鍵組件。Analog Devices的HMC-ALH509-Die是一款
2024-10-20 14:43:00
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2019-02-22 15:45:34

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2019-04-18 18:48:42
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2019-04-18 21:57:09
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2019-04-18 19:06:09
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2019-04-18 20:08:09
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2019-04-18 20:07:10
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2019-04-18 20:06:10
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2019-04-18 20:06:10
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2019-04-18 20:05:09
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2019-04-18 20:04:19
簡介 半導(dǎo)體行業(yè)面臨的一個(gè)主要挑戰(zhàn)是無法在量產(chǎn)階段早期發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品缺陷。如果將有缺陷的產(chǎn)品投放市場,將會給企業(yè)帶來巨大的經(jīng)濟(jì)和聲譽(yù)損失。對超大規(guī)模數(shù)據(jù)中心、網(wǎng)絡(luò)和 AI 應(yīng)用的高性能計(jì)算片上系統(tǒng) (SoC) 的設(shè)計(jì)開發(fā)者而言,尤其如此,因?yàn)槿魏萎a(chǎn)品缺陷都可能對 AI 研發(fā)的工作量或數(shù)據(jù)處理產(chǎn)生災(zāi)難性影響。 半導(dǎo)體行業(yè)已經(jīng)開發(fā)出了一系列測試方法,來提高量產(chǎn)測試的速度和覆蓋范圍。而且這些方法已經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)化,企業(yè)可以在最終產(chǎn)品制造的不
2020-10-30 18:25:59
4353 
重點(diǎn) ●用于GF 12LP+解決方案的DesignWare IP核產(chǎn)品組合包括USB4、PCIe 5.0、Die-to-Die HBI以及112G USR/XSR、112G Ethernet
2020-11-03 16:48:08
2984 PM139S: Space Qualified Die Data Sheet
2021-01-27 23:29:29
8 ADG1634-KGD: Know Good Die Data Sheet
2021-01-28 12:06:17
7 HMC-ALH364-Die S-Parameters
2021-01-30 11:53:16
0 HMC1022A-Die S-Parameters
2021-02-02 12:49:23
0 HMC939A-Die S-Parameters
2021-02-04 08:45:05
0 HMC641A-DIE S-Parameters
2021-02-04 12:54:20
0 HMC913-Die S-Parameters
2021-02-05 09:35:09
0 HMC813-Die S-Parameters
2021-02-05 09:49:10
0 HMC8401-DIE S-Parameters
2021-02-05 12:34:22
1 HMC930A-DIE S-Parameters
2021-02-05 12:40:22
0 HMC8400-Die S-Parameters
2021-02-05 12:42:22
1 HMC659-Die S-Parameters
2021-02-05 13:30:25
0 HMC594-Die S-Parameters
2021-02-05 13:39:25
1 HMC591-Die S-Parameters
2021-02-05 13:41:25
1 HMC907A-Die S-Parameters
2021-02-05 14:57:30
0 HMC941A-Die S-Parameters
2021-02-05 15:26:31
1 HMC-ALH369-DIE S-Parameters
2021-02-19 09:01:06
0 HMC797A-Die S-Parameters
2021-02-19 11:41:17
0 HMC329A-Die S-Parameters
2021-02-20 16:11:35
4 HMC424A-DIE S-Parameters
2021-02-21 08:37:05
0 HMC8410-Die S-Parameters
2021-02-21 10:00:09
0 HMC1022A-Die S-Parameters
2021-03-05 13:29:26
0 HMC913-Die S-Parameters
2021-03-06 11:36:41
2 HMC813-Die S-Parameters
2021-03-06 11:45:42
0 HMC8401-DIE S-Parameters
2021-03-06 13:17:48
0 HMC-AUH249-DIE S-Parameters
2021-03-06 13:21:48
0 HMC659-Die S-Parameters
2021-03-06 13:42:49
8 HMC941A-Die S-Parameters
2021-03-06 14:50:54
0 HMC653 Die S-Parameters
2021-03-24 14:38:42
0 Chiplet又稱芯?;蛐⌒酒?,是先進(jìn)封裝技術(shù)的代表,將復(fù)雜芯片拆解成一組具有單獨(dú)功能的小芯片單元 die(裸片),通過 die-to-die 將模塊芯片和底層基礎(chǔ)芯片封裝組合在一起。
2022-12-16 14:26:43
2083 multi-die系統(tǒng)正在推動(dòng)對標(biāo)準(zhǔn)化die-to-die 互連的需求。多個(gè)行業(yè)聯(lián)盟已經(jīng)聯(lián)合起來定義此類標(biāo)準(zhǔn),其中最有前途的是統(tǒng)一小芯片互連高速 (UCIe)。
2022-12-27 10:50:54
1091 我們Chiplet產(chǎn)品的切入點(diǎn)是Die-to-Die*接口IP,目前在國際巨頭Intel的牽頭下成立了UCIe聯(lián)盟,我們公司也是成員之一。我們第一代兼容UCIe標(biāo)準(zhǔn)的D2D接口產(chǎn)品今年即將流片。
2023-05-16 14:39:48
1808 
Express (UCIe) PHY IP流片。UCIe IP是Multi-Die系統(tǒng)的一個(gè)關(guān)鍵組成部分,它使開發(fā)者能夠在封裝中實(shí)現(xiàn)安全和魯棒的Die-to-Die連接,并提供高帶寬、低功耗和低延遲
2023-05-25 06:05:02
1446 小芯片針對每個(gè)功能組件進(jìn)行了優(yōu)化。雖然Multi-Die系統(tǒng)具有更高的靈活性并在系統(tǒng)功耗和性能方面表現(xiàn)優(yōu)異,但也帶來了極高的設(shè)計(jì)復(fù)雜性。 通用芯粒互連技術(shù)(UCIe)標(biāo)準(zhǔn)于2022年3月發(fā)布,旨在推動(dòng)Multi-Die系統(tǒng)中Die-to-Die連接的標(biāo)準(zhǔn)化。UCIe可以簡化不同供應(yīng)商
2023-07-14 17:45:02
2306 Multi-Die系統(tǒng)的基礎(chǔ)構(gòu)建,亦是如此,全部都需要細(xì)致入微的架構(gòu)規(guī)劃。 對于復(fù)雜的Multi-Die系統(tǒng)而言,從最初就將架構(gòu)設(shè)計(jì)得盡可能正確尤為關(guān)鍵。 Multi-Die系統(tǒng)的出現(xiàn),是為了應(yīng)對設(shè)計(jì)規(guī)模增加和系統(tǒng)復(fù)雜性給摩爾定律有效性帶來的挑戰(zhàn)。Mult
2023-09-22 11:07:04
1540 芯礪智能近日宣布,其全自研的Chiplet Die-to-Die互連IP(CL-Link)芯片一次性流片成功并順利點(diǎn)亮。這一重大突破標(biāo)志著芯礪智能在異構(gòu)集成芯片領(lǐng)域取得了領(lǐng)先地位,為人工智能時(shí)代的算力基礎(chǔ)設(shè)施建設(shè)提供了更加多元靈活的互連解決方案。
2024-01-18 16:03:32
1865 Wafer、die、chip是半導(dǎo)體領(lǐng)域常見的術(shù)語,但是為什么單顆裸芯會被稱為die呢?
2024-01-24 09:14:56
6424 
在半導(dǎo)體行業(yè)中,“die”,“device”,和“chip”這三個(gè)術(shù)語都可以用來指代芯片。
2024-02-23 18:26:17
14792 Multi-Die設(shè)計(jì)之所以成為可能,除了封裝技術(shù)的進(jìn)步之外,用于Die-to-Die連接的通用芯粒互連技術(shù)(UCIe)標(biāo)準(zhǔn)也是一大關(guān)鍵。 通過混合搭配來自不同供應(yīng)商,甚至基于不同代工廠工藝節(jié)點(diǎn)的多個(gè)芯片或小芯片,芯片開發(fā)者可以靈活地針對特定目標(biāo)功能,選擇特定的
2024-07-03 15:16:36
1699 。為了快速可靠地處理AI工作負(fù)載,Multi-Die設(shè)計(jì)中的Die-to-Die接口必須兼具穩(wěn)健、低延遲和高帶寬特性,最后一點(diǎn)尤為關(guān)鍵。本文概述了利用Multi-Die設(shè)計(jì)的AI數(shù)據(jù)中心芯片對40G UCIe IP的需求。
2025-01-09 10:10:04
1757 
隨著物理極限開始制約摩爾定律的發(fā)展,加之人工智能不斷突破技術(shù)邊界,計(jì)算需求和處理能力要求呈現(xiàn)爆發(fā)式增長。為了賦能生成式人工智能應(yīng)用,現(xiàn)代數(shù)據(jù)中心不得不采用Multi-Die設(shè)計(jì),而這又帶來了許多技術(shù)要求,包括高帶寬和低功耗Die-to-Die連接。
2025-02-18 09:40:02
943 Multi-Die芯片在整個(gè)生命周期內(nèi)的健康狀況和可靠性。這不僅包括對各個(gè)裸片進(jìn)行測試和分析,還包括對Die-to-Die連接性以及整個(gè)Multi-Die封裝進(jìn)行測試和分析。
2025-02-25 14:52:34
1212 
DAF膠膜,全稱芯片粘接薄膜(Die Attach Film),又稱固晶膜或晶片黏結(jié)薄膜,是半導(dǎo)體封裝中的關(guān)鍵材料,用于實(shí)現(xiàn)芯片(Die)與基板(Substrate)或框架(Lead Frame)之間的高性能、高可靠性連接。這種連接直接決定了器件的機(jī)械強(qiáng)度、導(dǎo)熱性能和長期可靠性。
2025-08-20 11:31:43
1429 我們很高興展示基于臺積電成熟 N4 工藝打造的 Gen1 UCIe IP 的 16GT/s 眼圖。該 IP 一次流片成功且眼圖清晰開闊,為尋求 Die-to-Die連接的客戶再添新選擇。
2025-08-25 16:48:05
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