射頻變壓器的測試可以當(dāng)做balun處理，結(jié)合矢網(wǎng)的端口延伸(offset)及虛擬差分模式即可完成測試。

雖然可以當(dāng)做balun，射頻變壓器仍然比較特殊，因為具有阻抗變換比，比如1:1、1:2、1:4等，而且單端阻抗不一定為常用的50 Ohm系統(tǒng)阻抗。那么射頻變壓器的差分阻抗和共模阻抗是多少呢？

圖1給出了射頻變壓器的典型示意圖，初級線圈PRI端為單端，次級線圈SEC端為平衡端。假設(shè)輸入阻抗(單端阻抗)為50 Ohm，阻抗變換比為1:2，則差分阻抗為輸入阻抗與阻抗比之積，為100 Ohm，共模阻抗差分阻抗的四分之一，即25 Ohm。

圖1. 典型的射頻變壓器示意圖

這是射頻應(yīng)用中經(jīng)常用到的balun，單端50 Ohm/差分100 Ohm。射頻變壓器的阻抗比多種多樣，單端阻抗也不一定是50 Ohm，表1給出了幾個不同阻抗變換比和輸入阻抗的例子，以便于理解。

表1. 多種阻抗比和輸入阻抗對應(yīng)的差模和共模阻抗

之所以關(guān)注這些參數(shù)，是因為在矢網(wǎng)端口參考阻抗設(shè)置中需要分別設(shè)定。

介紹完差分阻抗和共模阻抗的計算方法之后，下面再聊一聊矢網(wǎng)的端口延伸技術(shù)——Offset。Offset功能是有一定前提的，即認(rèn)為被補償?shù)木W(wǎng)絡(luò)(比如PCB走線)是理想的：(1) 非色散；(2) 在校準(zhǔn)參考面處理想匹配；(3) 互易。

Offset功能根據(jù)反射測試計算出待補償網(wǎng)絡(luò)的傳輸特性，從而使得測試參考面延伸至DUT的pin. 因其應(yīng)用基于一些理想的情況，所以是有局限性的，精度也是有限的。

除了使用Offset功能外，還有一種精度更高的校準(zhǔn)方法——自制TRL校準(zhǔn)件，可以直接將測試參考面校準(zhǔn)至DUT的pin處。圖2給出了自制TRL校準(zhǔn)件的示意圖，包含Through、Reflect(一般設(shè)計為開路)、Line校準(zhǔn)件及測試夾具。之所以將TRL校準(zhǔn)件與測試夾具制作在一起，是因為這樣可以最大程度規(guī)避加工誤差及介質(zhì)基板均勻性等因素給測試帶來的影響。

圖2. 自制TRL校準(zhǔn)件示意圖

關(guān)于TRL校準(zhǔn)，后面有時間會專門介紹，此處僅作簡要說明。TRL校準(zhǔn)方式非常適用于SMT表貼這種非同軸連接的DUT測試，這類器件的測試需要借助于測試夾具或者評估測試板，而TRL可以直接將測試參考面校準(zhǔn)至pin處，那么如何做到這一點呢？

能否校準(zhǔn)至pin處，與TRL校準(zhǔn)件的尺寸設(shè)計及矢網(wǎng)中設(shè)置的校準(zhǔn)件參數(shù)有關(guān)。比如，將Through的長度設(shè)計為為測試夾具中DUT兩側(cè)PCB走線的長度之和，此處假設(shè)這兩段走線長度相同；將反射校準(zhǔn)件Reflect的長度設(shè)計為Through長度的一半。

在矢網(wǎng)中將Through的電長度設(shè)置為0，就相當(dāng)于選擇pin處為校準(zhǔn)參考面。Reflect的參數(shù)可以不用設(shè)置，TRL校準(zhǔn)不需要已知其參數(shù)，只要保證校準(zhǔn)時，矢網(wǎng)的兩個端口是連接的同一個Reflect校準(zhǔn)件即可。一般將Reflect設(shè)計為開路。

TRL校準(zhǔn)件存在適用的校準(zhǔn)頻率范圍，這取決于Line與Through電長度的差異。該校準(zhǔn)方式要求Line與Through的電長度之差不能為中心頻率半波長的整數(shù)倍，否則校準(zhǔn)數(shù)據(jù)中會存在壞值。從相位的角度講，在中心頻率處，一般建議二者的相差在20°~160°之間。由此可以推算出適用的頻率范圍為：

**f_start=1/18 ? c/l ， f_stop=4/9 ? c/l **

式中，c為信號在基板中的相速度，l 為Line與Through的電長度之差。

為了擴(kuò)展適用的頻率范圍，還可以使用多條Line，例如圖2中使用兩條Line。甚至再引入Match校準(zhǔn)件，從而完成向更低頻率的擴(kuò)展。