T3ster 是Mentor Graphics 公司研發(fā)的瞬態(tài)熱測(cè)試儀，基于國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的靜態(tài)實(shí)驗(yàn)方法JESD51-1，測(cè)量IGBT、MOS 管、功率二極管、三極管、LED、IC類等半導(dǎo)體電子器件的熱阻、熱容特性。

T3Ster是一款先進(jìn)的半導(dǎo)體器件封裝熱特性測(cè)試儀器，在數(shù)分鐘內(nèi)提供各類封裝的熱特性數(shù)據(jù)。T3Ster專為半導(dǎo)體、電子應(yīng)用和LED行業(yè)以及研發(fā)實(shí)驗(yàn)室的應(yīng)用而設(shè)計(jì)。系統(tǒng)包括強(qiáng)大的軟件部分和硬件部分，測(cè)量的器件包括分離或集成的雙極型晶體管、MOS晶體管、常見的三極管、LED封裝和半導(dǎo)體閘流管，各種封裝類型的器件和IC的一些部件。因其配備專業(yè)的設(shè)備和軟件，它也能測(cè)試PWB、MCPCB以及其他基板、熱界面材料或冷卻組件的熱特性。

T3Ster的基本配置包括測(cè)試主機(jī)(包括數(shù)控單元、功率驅(qū)動(dòng)單元和1-8個(gè)測(cè)試通道)以及安裝Windows平臺(tái)的測(cè)量控制和結(jié)果分析軟件。儀器配備有不同的接口(USB或LPT接口)聯(lián)接到個(gè)人電腦上。除此之外，客戶還可以選配各種不同的附件以加強(qiáng)其功能。

T3Ster作為半導(dǎo)體器件熱阻測(cè)試測(cè)量行業(yè)的標(biāo)桿和引領(lǐng)者，具有其他同類設(shè)備無法比擬的優(yōu)勢(shì)。

? 1.設(shè)置簡(jiǎn)單，操作方便

無需復(fù)雜的測(cè)試流程，一次接線，一次測(cè)試，即可得到穩(wěn)態(tài)的結(jié)溫?zé)嶙钄?shù)據(jù)，也可以得到結(jié)溫隨著時(shí)間的瞬態(tài)變化曲線。 ?

2.數(shù)據(jù)穩(wěn)定，測(cè)試結(jié)果可復(fù)現(xiàn)

采用JESD51-1，JESD51-14標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法，最新的熱瞬態(tài)測(cè)試界面法(Transiant?Dual Interface)具有更高的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性，T3Ster是目前唯一滿足此標(biāo)準(zhǔn)的商業(yè)化產(chǎn)品。通過這種高重復(fù)性的方法，可以方便地比較各種器件的結(jié)殼熱阻，而且這種方法同樣適用于熱界面材料（TIMs）的熱特性表征。 ?

3. 測(cè)試范圍廣

各種三極管、二極管等半導(dǎo)體分立器件，包括：常見的半導(dǎo)體閘流管、雙極型晶體管、以及大功率IGBT、MOSFET、LED/OLED/MicroLED等器件的熱阻測(cè)試；

各種復(fù)雜的IC以及MCM、SIP、SoC等新型結(jié)構(gòu)的熱特性測(cè)試；

各種復(fù)雜的散熱模組的熱特性測(cè)試，如熱管、風(fēng)扇等。

4. 通過結(jié)構(gòu)函數(shù)曲線分析散熱結(jié)構(gòu)

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T3Ster獨(dú)創(chuàng)的Structure Function(結(jié)構(gòu)函數(shù))分析法，能夠分析器件熱傳導(dǎo)路徑上每層結(jié)構(gòu)的熱學(xué)性能(熱阻和熱容參數(shù))，構(gòu)建器件等效熱學(xué)模型，是器件封裝工藝、可靠性試驗(yàn)、材料熱特性以及接觸熱陰的強(qiáng)大支持工具，因此被譽(yù)為熱測(cè)試中的“X射線”。 ?

5. 測(cè)試速度快、產(chǎn)能高

T3Ster基于先進(jìn)的JEDEC ‘Static Method’測(cè)試方法（JESD51-1），通過改變電子器件的輸入功率，使得器件產(chǎn)生溫度變化。在變化過程中，測(cè)試啟動(dòng)時(shí)間僅為 1us，測(cè)試周期短，T3Ster測(cè)試出芯片的瞬態(tài)溫度響應(yīng)曲線，僅在幾分鐘之內(nèi)即可分析得到關(guān)于該電子器件全面的熱特性。

? 新一代熱瞬態(tài)測(cè)試儀the Thermal TransientTester SI——T3ster SI ? T3Ster SI?大大提高了測(cè)試產(chǎn)能和效率

一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)機(jī)架最多可容納10個(gè)插入單元（Plug in Units）；

多達(dá)5個(gè)加熱通道；

多達(dá)40個(gè)測(cè)量通道 – 適合多核IC或者TTV芯片的測(cè)試；

可將兩臺(tái)Simcenter T3Ster SI設(shè)備并行使用，最多獲得80個(gè)測(cè)量通道的測(cè)試能力。 ?

6.非破壞性測(cè)試

測(cè)試方法——基于電學(xué)法的熱瞬態(tài)測(cè)試技術(shù)，在原位對(duì)器件進(jìn)行電壓監(jiān)測(cè)。

尋找器件內(nèi)部具有溫度敏感特性的電學(xué)參數(shù)，通過測(cè)量該溫度敏感參數(shù)（TSP）的變化來得到結(jié)溫的變化。

無需對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行破壞和拆卸動(dòng)作，只需找到器件內(nèi)的具有二極管結(jié)電壓特性的管腳，接上測(cè)試線測(cè)試即可。

? 7.測(cè)試精度高，響應(yīng)快

T3Ster采用符合JEDEC JESD51-1標(biāo)準(zhǔn)中描述的靜態(tài)測(cè)試方法來執(zhí)行實(shí)時(shí)測(cè)試。連續(xù)的測(cè)試技術(shù)與精準(zhǔn)的硬件設(shè)備綜合，以非常高的時(shí)間精度，捕捉到非常精確、無噪音和真實(shí)的熱瞬態(tài)曲線。 先進(jìn)的靜態(tài)實(shí)時(shí)測(cè)量方法，采樣間隔最快可達(dá) 1us，采樣點(diǎn)高達(dá) 65000 個(gè)，有效地保證了數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和完備性。 市場(chǎng)上最高的靈敏度 FoM=10000 WIC，很高的信噪比 SNR>4000，結(jié)溫測(cè)試精度高達(dá)0.01℃。

? 8. 可產(chǎn)生基于測(cè)試的簡(jiǎn)化熱模型

熱學(xué)仿真模型的建立與驗(yàn)證(包括材料屬性的驗(yàn)證） 建立模型: 一個(gè)可靠的、標(biāo)準(zhǔn)的器件熱模型對(duì)于預(yù)測(cè)器件在各種散熱條件下的結(jié)溫，設(shè)計(jì)性能優(yōu)異的散熱模組是必須的。 建立一個(gè)準(zhǔn)確的熱學(xué)模型，首要的條件就是要準(zhǔn)確地獲得器件的各種熱學(xué)參數(shù)。利用T3Ster的熱瞬態(tài)測(cè)試法再輔之以結(jié)構(gòu)函數(shù)的分析，能夠幫助用戶準(zhǔn)確地獲得熱阻容參數(shù)，不僅能幫助用戶建立穩(wěn)態(tài)熱學(xué)模型，還能很好地建立動(dòng)態(tài)熱學(xué)模型(DCTMs)。用戶可以利用這些模型預(yù)測(cè)器件的穩(wěn)態(tài)以及瞬態(tài)熱學(xué)行為。 驗(yàn)證模型：T3Ster具有高精度的采集功能和測(cè)試結(jié)果的高重現(xiàn)性，并且1us的時(shí)間分辨率可以全方位地驗(yàn)證模型的穩(wěn)態(tài)和瞬態(tài)特性。 T3Ster是目前唯一滿足半導(dǎo)體熱阻模型測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試儀器。

? 9.精細(xì)熱模型校準(zhǔn)

FloTHERM是廣為全球各地電子系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)工程師和電子電路設(shè)計(jì)工程師使用的電子系統(tǒng)散熱仿真分析軟件。FloTHERM采用了成熟的CFD（Computational Fluid Dynamic，計(jì)算流體動(dòng)力學(xué)）和數(shù)值傳熱學(xué)仿真技術(shù)并成功的結(jié)合了Mentor Graphics公司在電子設(shè)備傳熱方面的大量獨(dú)特經(jīng)驗(yàn)和數(shù)據(jù)庫開發(fā)而成，同時(shí)FloTHERMM軟件還擁有大量專門針對(duì)電子工業(yè)而開發(fā)的模型庫。 T3Ster通過提供物理測(cè)試方法對(duì)FloTHERM熱仿真軟件進(jìn)行補(bǔ)充，可以用來驗(yàn)證仿真模型或測(cè)試制造過程的質(zhì)量。 T3SterDetailed Model Calibration詳細(xì)模型校準(zhǔn)：通過導(dǎo)入T3Ster生成帶有器件封裝的結(jié)構(gòu)函數(shù)測(cè)試結(jié)果并自動(dòng)進(jìn)行熱模型校準(zhǔn)，通過對(duì)某些不確定參數(shù)進(jìn)行合理設(shè)計(jì)并計(jì)算，得到FloTHERM熱模型和T3Ster模型匹配的結(jié)果，最終達(dá)到精確建模和驗(yàn)證的目的。

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編輯：黃飛

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