深入剖析FCD2250N80Z N - 溝道SuperFET? II MOSFET
一、引言
在電子工程師的日常設(shè)計工作中,MOSFET是一種極為常見且關(guān)鍵的電子元件。今天,我們就來詳細(xì)剖析一款性能出色的N - 溝道SuperFET? II MOSFET——FCD2250N80Z。它在AC - DC電源、LED照明等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用,了解其特性和參數(shù)對于我們的設(shè)計工作至關(guān)重要。
文件下載:FCD2250N80ZCN-D.pdf
二、公司背景與產(chǎn)品編號變更
飛兆半導(dǎo)體(FAIRCHILD)現(xiàn)已成為安森美半導(dǎo)體(ON Semiconductor)的一部分。由于系統(tǒng)要求,部分飛兆可訂購的產(chǎn)品編號需要更改。因為安森美半導(dǎo)體的產(chǎn)品管理系統(tǒng)無法處理帶有下劃線()的部件命名法,所以飛兆部件編號中的下劃線()將更改為破折號(-)。大家可以通過安森美半導(dǎo)體的網(wǎng)站(www.onsemi.com)核實更新后的設(shè)備編號。
三、FCD2250N80Z MOSFET特性
3.1 基本參數(shù)
FCD2250N80Z是一款800V、2.6A、2.25Ω的N - 溝道SuperFET? II MOSFET。其典型的導(dǎo)通電阻 (R_{DS(on)} = 1.8 Omega),這一參數(shù)表明它在導(dǎo)通狀態(tài)下的功耗較低,能有效減少能量損耗。
3.2 電氣特性優(yōu)勢
- 超低柵極電荷:典型值 (Q_{g}=11 nC),低柵極電荷意味著在開關(guān)過程中所需的驅(qū)動能量較少,能夠提高開關(guān)速度,降低開關(guān)損耗。
- 低 (E_{oss }):典型值1.1 uJ @ 400 V,這有助于減少開關(guān)過程中的能量存儲和釋放,提高電源效率。
- 低有效輸出電容:典型值 (C_{oss(eff.) }=51 pF),可以降低開關(guān)過程中的容性損耗,提升系統(tǒng)的性能。
- 雪崩測試與ESD能力:100%經(jīng)過雪崩測試,并且具備增強的ESD能力,這使得該MOSFET在復(fù)雜的工作環(huán)境中具有更高的可靠性和穩(wěn)定性。
- 符合RoHS標(biāo)準(zhǔn):意味著該產(chǎn)品符合環(huán)保要求,在當(dāng)今注重環(huán)保的大環(huán)境下,這是一個重要的特性。
四、應(yīng)用領(lǐng)域
4.1 AC - DC電源
在AC - DC電源設(shè)計中,F(xiàn)CD2250N80Z的低導(dǎo)通電阻和出色的開關(guān)性能能夠有效提高電源的效率和穩(wěn)定性。其低柵極電荷和低 (E_{oss }) 特性可以減少開關(guān)損耗,從而降低電源的發(fā)熱,延長電源的使用壽命。
4.2 LED照明
在LED照明領(lǐng)域,該MOSFET可以用于驅(qū)動LED燈,其低功耗和高可靠性能夠保證LED燈的穩(wěn)定發(fā)光,同時降低能源消耗。
五、最大絕對額定值與熱性能
5.1 最大絕對額定值
| 在 (T_{C}=25^{circ} C) (除非另有說明)的條件下,該MOSFET的各項最大絕對額定值如下: | 符號 | 參數(shù) | FCD2250N80Z | 單位 |
|---|---|---|---|---|
| (V_{DSS}) | 漏極 - 源極電壓 | 800 | V | |
| (V_{GSS}) | 柵極 - 源極電壓 | -DC: ±20 V -AC (f>1Hz): ±30 V |
V | |
| (I_{D}) | 漏極電流 - 連續(xù) ((T_{C}=25^{circ}C)) | 2.6 | A | |
| (I_{D}) | 漏極電流 - 連續(xù) ((T_{C}= 100^{circ}C)) | 1.7 | A | |
| (I_{DM}) | 漏極電流 - 脈沖 | 6.5 | A | |
| (E_{AS}) | 單脈沖雪崩能量 | 21.6 | mJ | |
| (I_{AR}) | 雪崩電流 | 0.52 | A | |
| (E_{AR}) | 重復(fù)雪崩能量 | 0.39 | mJ | |
| (dv/dt) | MOSFET dv/dt | 100 | V/ns | |
| 二極管恢復(fù)dv/dt峰值 | 20 | V/ns | ||
| (P_{D}) | 功耗 ((T_{C}= 25^{circ}C)) | 39 | W | |
| 高于25°C的功耗系數(shù) | 0.31 | W/°C | ||
| (T{J},T{STG}) | 工作和存儲溫度范圍 | -55至 +150 | °C | |
| (T_{L}) | 用于焊接的最大引腳溫度(距離外殼1/8",持續(xù)5秒) | 300 | °C |
5.2 熱性能
- 結(jié)至外殼熱阻 (R_{θJC}):最大值為3.2 °C/W,這表明熱量從芯片結(jié)到外殼的傳導(dǎo)能力較好,能夠有效散熱。
- 結(jié)至環(huán)境熱阻 (R_{θJA}):最大值為100 °C/W,反映了熱量從芯片結(jié)到周圍環(huán)境的散熱情況。
六、電氣特性
6.1 關(guān)斷特性
- 漏極 - 源極擊穿電壓 (B_{V D S S}):在 (V{GS} = 0 V),(I{D} = 1 mA),(T_{J} = 25^{circ}C) 的條件下,最小值為800 V,這表明該MOSFET能夠承受較高的電壓而不被擊穿。
- 擊穿電壓溫度系數(shù) (Delta B{V D S S} / Delta T{J}):在 (I_{D}=1 mA),參考25°C數(shù)值時為0.85 V/°C,說明擊穿電壓會隨著溫度的升高而有所增加。
- 零柵極電壓漏極電流 (I_{D S S}):在不同的 (V{D S}) 和 (T{C}) 條件下有不同的值,如 (V{D S} = 640 V),(V{G S} = 0 V),(T{C} = 125^{circ}C) 時為25 μA;(V{D S} = 800 V),(V_{G S} = 0 V) 時為250 μA,這體現(xiàn)了在關(guān)斷狀態(tài)下的漏電流情況。
- 柵極 - 體漏電流 (I_{G S S}):在 (V{G S} = ±20 V),(V{D S} = 0 V) 時為 ±10 μA,反映了柵極與體之間的漏電情況。
6.2 導(dǎo)通特性
- 柵極閾值電壓 (V_{G S(th)}):在 (V{G S} = V{D S}),(I_{D} = 0.26 mA) 時,范圍為2.5 - 4.5 V,這是MOSFET開始導(dǎo)通的臨界電壓。
- 漏極至源極靜態(tài)導(dǎo)通電阻 (R_{D S(on)}):在 (V{G S} = 10 V),(I{D} = 1.3 A) 時,典型值為1.87 Ω,最大值為2.25 Ω,該參數(shù)直接影響導(dǎo)通時的功率損耗。
- 正向跨導(dǎo) (g_{F S}):在 (V{D S} = 20 V),(I{D} = 1.3 A) 時為2.28 S,體現(xiàn)了柵極電壓對漏極電流的控制能力。
6.3 動態(tài)特性
- 輸入電容 (C_{i s s}):在 (V{D S} = 100 V),(V{G S} = 0 V),(f = 1 MHz) 時,范圍為440 - 585 pF,該電容會影響MOSFET的開關(guān)速度。
- 輸出電容 (C_{o s s}):在不同的 (V{D S}) 條件下有不同的值,如 (V{D S} = 100 V) 時為16 - 22 pF,(V_{D S} = 480 V) 時為8.4 pF,輸出電容會影響開關(guān)過程中的能量存儲和釋放。
- 反向傳輸電容 (C_{r s s}):為0.75 pF,它會影響MOSFET的米勒效應(yīng)。
- 有效輸出電容 (C_{o s s(eff.)}):在 (V{D S} = 0 V) 至480 V,(V{G S} = 0 V) 時為51 pF,對開關(guān)損耗有重要影響。
- 10 V的柵極電荷總量 (Q_{g(tot)}):在 (V{D S} = 640 V),(I{D} = 2.6 A),(V_{G S} = 10 V) 時,范圍為11 - 14 nC,這與開關(guān)速度和驅(qū)動能量相關(guān)。
- 柵極 - 源極柵極電荷 (Q_{g s}):為2.2 nC,柵極 - 漏極“ 米勒” 電荷 (Q_{g d}) 為4.3 nC,它們對MOSFET的開關(guān)特性有重要影響。
- 等效串聯(lián)電阻 (ESR):在 (f = 1 MHz) 時為2.8 Ω,會影響電路的性能。
6.4 開關(guān)特性
- 導(dǎo)通延遲時間 (t_{d(on)}):在 (V{D D} = 400 V),(I{D} = 2.6 A),(V{G S} = 10 V),(R{g} = 4.7 Ω) 時,范圍為11 - 32 ns。
- 開通上升時間 (t_{r}):范圍為6.7 - 23 ns。
- 關(guān)斷延遲時間 (t_{d(off)}):范圍為26 - 62 ns。
- 關(guān)斷下降時間 (t_{f}):范圍為8.7 - 27 ns。這些開關(guān)時間參數(shù)直接影響MOSFET的開關(guān)速度和效率。
6.5 漏極 - 源極二極管特性
- 漏極 - 源極二極管最大正向連續(xù)電流 (I_{S}):為2.6 A。
- 漏極 - 源極二極管最大正向脈沖電流 (I_{S M}):為6.5 A。
- 漏極 - 源極二極管正向電壓 (V_{S D}):在 (V{G S} = 0 V),(I{S D} = 2.6 A) 時為1.2 V。
- 反向恢復(fù)時間 (t_{r r}):在 (V{G S} = 0 V),(I{S D} = 2.6 A),(dI_{F}/dt = 100 A/μs) 時為260 ns。
- 反向恢復(fù)電荷 (Q_{r r}):為2.2 μC。這些參數(shù)對于二極管的性能和電路的穩(wěn)定性至關(guān)重要。
七、典型性能特征
文檔中給出了多個典型性能特征圖,如導(dǎo)通區(qū)域特性圖、傳輸特性圖、導(dǎo)通電阻變化與漏極電流和柵極電壓的關(guān)系圖等。這些圖直觀地展示了MOSFET在不同條件下的性能變化,對于工程師在設(shè)計電路時選擇合適的工作點和參數(shù)具有重要的參考價值。例如,通過導(dǎo)通電阻變化與漏極電流和柵極電壓的關(guān)系圖,我們可以了解到在不同的漏極電流和柵極電壓下,導(dǎo)通電阻的變化情況,從而優(yōu)化電路設(shè)計,降低功耗。
八、機械尺寸與封裝
FCD2250N80Z采用D - PAK封裝,其機械尺寸有詳細(xì)的圖紙說明。封裝圖紙作為一項服務(wù)提供給客戶,但具體參數(shù)可能會有變化,且不會做出相應(yīng)通知。大家可以隨時訪問飛兆半導(dǎo)體在線封裝網(wǎng)頁(http://www.fairchildsemi.com/package/packageDetails.html?id=PN_TT252 - 003)獲取最新的封裝圖紙。
九、商標(biāo)、聲明與注意事項
9.1 商標(biāo)
飛兆半導(dǎo)體擁有眾多注冊及未注冊的商標(biāo)或服務(wù)標(biāo)志,如AccuPower?、SuperFET?等。部分商標(biāo)為其他公司所有并授權(quán)飛兆半導(dǎo)體使用。
9.2 聲明
飛兆半導(dǎo)體保留對產(chǎn)品作出變動的權(quán)利,且不承擔(dān)產(chǎn)品應(yīng)用中出現(xiàn)問題的責(zé)任,不轉(zhuǎn)讓專利權(quán)下的許可證和其他權(quán)利。產(chǎn)品保修條款僅適用于本文相關(guān)產(chǎn)品。
9.3 使用壽命條款
若無飛兆半導(dǎo)體公司正式的書面授權(quán),其產(chǎn)品不可作為生命支持設(shè)備或系統(tǒng)中的關(guān)鍵器件。
9.4 防偽條款
飛兆半導(dǎo)體采取措施防止客戶購買到仿造零部件,鼓勵客戶直接從飛兆半導(dǎo)體或其授權(quán)分銷商處購買產(chǎn)品,對于從非授權(quán)分銷商購買的零部件,不提供保修或其他援助。
9.5 產(chǎn)品狀態(tài)定義
產(chǎn)品狀態(tài)分為預(yù)告(初級階段/設(shè)計階段)、初級(樣品)、量產(chǎn)和廢棄(停產(chǎn)),不同狀態(tài)的數(shù)據(jù)表含義不同。
十、總結(jié)
FCD2250N80Z N - 溝道SuperFET? II MOSFET具有低導(dǎo)通電阻、低柵極電荷、低 (E_{oss }) 等諸多優(yōu)異特性,適用于AC - DC電源、LED照明等多種應(yīng)用領(lǐng)域。作為電子工程師,我們在設(shè)計電路時,需要充分考慮其各項參數(shù)和特性,結(jié)合實際應(yīng)用需求,合理選擇和使用該MOSFET,以實現(xiàn)電路的高性能和高可靠性。同時,要注意產(chǎn)品編號變更、商標(biāo)、聲明等相關(guān)事項,確保設(shè)計工作的順利進行。大家在使用過程中,是否遇到過類似MOSFET的應(yīng)用難題呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。
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