Onsemi FDP12N60NZ與FDPF12N60NZ MOSFET技術(shù)剖析
在電子設(shè)計領(lǐng)域,MOSFET作為關(guān)鍵的功率器件,其性能的優(yōu)劣直接影響到整個電路的效率與穩(wěn)定性。今天我們來深入剖析Onsemi公司的FDP12N60NZ與FDPF12N60NZ這兩款N溝道MOSFET。
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產(chǎn)品概述
這兩款MOSFET屬于Onsemi的UniFET II系列,基于先進的平面條紋和DMOS技術(shù)打造。UniFET II系列在平面MOSFET中擁有最小的導(dǎo)通電阻,同時具備出色的開關(guān)性能和較高的雪崩能量強度。其內(nèi)部的柵源ESD二極管使得該系列MOSFET能夠承受超過2 kV的HBM浪涌應(yīng)力。該系列產(chǎn)品適用于開關(guān)電源轉(zhuǎn)換器應(yīng)用,如功率因數(shù)校正(PFC)、平板顯示(FPD)電視電源、ATX電源和電子燈鎮(zhèn)流器等。
產(chǎn)品特性
低導(dǎo)通電阻
在(V{GS}=10 V),(I{D}=6 A)的典型條件下,(R_{DS(on)})為530 mΩ,這有助于降低功率損耗,提高電路效率。大家在實際設(shè)計中,低導(dǎo)通電阻能帶來哪些具體的優(yōu)勢呢?
低柵極電荷
典型值為26 nC的低柵極電荷,可減少開關(guān)過程中的能量損耗,提高開關(guān)速度。
低(C_{rss})
典型值為12 pF的(C_{rss}),有利于降低開關(guān)過程中的米勒效應(yīng),提升開關(guān)性能。
其他特性
- 100%雪崩測試,保證了產(chǎn)品的可靠性。
- 改進的dv/dt能力,增強了器件在高速開關(guān)時的穩(wěn)定性。
- 增強的ESD能力,提高了器件的抗靜電能力。
- 符合RoHS標(biāo)準(zhǔn),滿足環(huán)保要求。
產(chǎn)品參數(shù)
最大額定值
| 符號 | 參數(shù) | FDP12N60NZ | FDPF12N60NZ | 單位 |
|---|---|---|---|---|
| (V_{DSS}) | 漏源電壓 | 600 | 600 | V |
| (V_{GSS}) | 柵源電壓 | ±30 | ±30 | V |
| (I_{D}) | 漏極電流(連續(xù),(T_{C}=25^{circ}C)) | 12 | 12* | A |
| (I_{D}) | 漏極電流(連續(xù),(T_{C}=100^{circ}C)) | 7.2 | 7.2* | A |
| (I_{DM}) | 脈沖漏極電流 | 48 | 48* | A |
| (E_{AS}) | 單脈沖雪崩能量 | 565 | 565 | mJ |
| (I_{AR}) | 雪崩電流 | 12 | 12 | A |
| (E_{AR}) | 重復(fù)雪崩能量 | 24 | 24 | mJ |
| (dv/dt) | MOSFET dv/dt魯棒性 | 20 | 20 | V/ns |
| 峰值二極管恢復(fù)dv/dt | 10 | 10 | V/ns | |
| (P_{D}) | 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) | 240 | 39 | W |
| (P_{D}) | 降額系數(shù)((T_{C}>25^{circ}C)) | 2.0 | 0.3 | W/°C |
| (T{J},T{STG}) | 工作和存儲溫度范圍 | -55 至 +150 | -55 至 +150 | °C |
| (T_{L}) | 焊接時最大引腳溫度(距外殼1/8",5秒) | 300 | 300 | °C |
需要注意的是,漏極電流受最大結(jié)溫限制。
熱特性
| 符號 | 參數(shù) | FDP12N60NZ | FDPF12N60NZ | 單位 |
|---|---|---|---|---|
| (R_{theta JC}) | 結(jié)到外殼熱阻(最大) | 0.52 | 3.2 | °C/W |
| (R_{theta JA}) | 結(jié)到環(huán)境熱阻(最大) | 62.5 | 62.5 | °C/W |
電氣特性
在(T{J}=25^{circ}C)的條件下,涵蓋了關(guān)斷特性、導(dǎo)通特性、動態(tài)特性、開關(guān)特性和漏源二極管特性等多個方面。例如,關(guān)斷特性中的漏源擊穿電壓(B{V DSS})為600 V;導(dǎo)通特性中,(V{GS(th)})(柵極閾值電壓)在3 - 5 V之間,(R{DS(on)})(靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻)在典型條件下為0.53 Ω,最大為0.65 Ω。
典型性能特性
導(dǎo)通區(qū)域特性
通過圖1可以看到不同柵源電壓下,漏極電流與漏源電壓的關(guān)系。這對于我們理解器件在不同工作條件下的導(dǎo)通性能非常有幫助。大家在實際應(yīng)用中,如何根據(jù)這個特性來選擇合適的工作點呢?
轉(zhuǎn)移特性
圖2展示了在不同溫度下,漏極電流與柵源電壓的關(guān)系。溫度對器件的轉(zhuǎn)移特性有顯著影響,在設(shè)計時需要充分考慮。
導(dǎo)通電阻變化特性
圖3和圖8分別展示了導(dǎo)通電阻隨漏極電流、柵源電壓以及溫度的變化關(guān)系。了解這些特性有助于我們在不同工況下合理使用器件,降低功率損耗。
電容特性
圖5展示了輸入電容(C{iss})、輸出電容(C{oss})和反向傳輸電容(C_{rss})隨漏源電壓的變化關(guān)系。電容特性對開關(guān)速度和開關(guān)損耗有重要影響。
柵極電荷特性
圖6展示了總柵極電荷隨柵源電壓和漏源電壓的變化關(guān)系。低柵極電荷有利于提高開關(guān)速度和降低開關(guān)損耗。
擊穿電壓變化特性
圖7展示了漏源擊穿電壓隨溫度的變化關(guān)系。在高溫環(huán)境下,擊穿電壓會發(fā)生一定的變化,設(shè)計時需要考慮這一因素。
最大安全工作區(qū)
圖9和圖10展示了兩款器件的最大安全工作區(qū)。在設(shè)計電路時,必須確保器件的工作點在安全工作區(qū)內(nèi),以避免器件損壞。
最大漏極電流與外殼溫度關(guān)系
圖11展示了最大漏極電流隨外殼溫度的變化關(guān)系。隨著溫度升高,最大漏極電流會降低,這是由于器件的散熱能力和熱穩(wěn)定性限制。
瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線
圖12和圖13分別展示了兩款器件的瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線。了解瞬態(tài)熱響應(yīng)特性有助于我們在脈沖工作條件下合理設(shè)計散熱系統(tǒng)。
應(yīng)用領(lǐng)域
這兩款MOSFET適用于多種領(lǐng)域,如LCD、LED、PDP電視,照明以及不間斷電源等。在這些應(yīng)用中,其高性能的特性能夠充分發(fā)揮作用,提高系統(tǒng)的效率和穩(wěn)定性。
封裝信息
FDP12N60NZ采用TO - 220封裝,F(xiàn)DPF12N60NZ采用TO - 220F封裝,均以1000個/管的方式發(fā)貨。同時,文檔還提供了詳細的機械外殼外形和封裝尺寸信息,方便工程師進行PCB設(shè)計。
Onsemi的FDP12N60NZ與FDPF12N60NZ MOSFET憑借其出色的性能和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域,為電子工程師在設(shè)計開關(guān)電源轉(zhuǎn)換器等電路時提供了可靠的選擇。在實際應(yīng)用中,我們需要根據(jù)具體的設(shè)計需求,充分考慮器件的各項特性和參數(shù),以確保電路的性能和可靠性。大家在使用這兩款器件時,遇到過哪些問題呢?歡迎在評論區(qū)分享。
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