針對(duì)現(xiàn)今工業(yè)薄膜生產(chǎn)過(guò)程中薄膜大幅寬且生產(chǎn)速度更快，無(wú)錫賽默斐視科技有限公司經(jīng)過(guò)潛心研究試驗(yàn)，開發(fā)設(shè)計(jì)出基于FPGA的快速薄膜瑕疵檢在線測(cè)系統(tǒng)方案。賽默斐視薄膜在線污點(diǎn)檢測(cè)設(shè)備通過(guò)采用相關(guān)系數(shù)法準(zhǔn)確求出薄膜灰度圖像的最小重復(fù)周期，根據(jù)最小重復(fù)周期確定兩個(gè)比對(duì)圖像塊并求出差值圖像，再將差值圖像二值化再進(jìn)行形態(tài)學(xué)處理，最后經(jīng)過(guò)面積約束條件找出薄膜瑕疵所在位置。充分利用FPGA并行處理的優(yōu)勢(shì)，提高了圖像處理的速度。實(shí)踐應(yīng)用證明，該系統(tǒng)能夠在300 m/min的薄膜生產(chǎn)線上成功檢測(cè)出瑕疵面積僅10個(gè)像素的瑕疵，滿足現(xiàn)代薄膜瑕疵在線檢測(cè)的應(yīng)用需求。

目前薄膜瑕疵檢測(cè)系統(tǒng)大多采用工業(yè)計(jì)算機(jī)、線掃描相機(jī)、旋轉(zhuǎn)編碼器和線型光源的方案。在生產(chǎn)時(shí)，由高亮LED組成的線型聚光冷光源采用透射或反射的方式照射在薄膜表面，通過(guò)與薄膜運(yùn)行同步的旋轉(zhuǎn)編碼器觸發(fā)，使架設(shè)在生產(chǎn)線上的線掃描相機(jī)同步掃描，將相機(jī)采集到的薄膜圖像通過(guò)工業(yè)計(jì)算機(jī)上的采集卡實(shí)時(shí)傳送給圖像處理系統(tǒng)軟件進(jìn)行瑕疵識(shí)別處理。由于瑕疵圖像的灰階分布與正常圖像的灰階分布存在明顯差異，從而使系統(tǒng)能夠發(fā)現(xiàn)瑕疵，同時(shí)對(duì)瑕疵進(jìn)行有效的判定、分類及后續(xù)處理。

在薄膜的實(shí)際生產(chǎn)過(guò)程中，由于各方面因素的影響，薄膜表面會(huì)出現(xiàn)諸如孔洞、蚊蟲、黑點(diǎn)、晶點(diǎn)、劃傷、斑點(diǎn)等瑕疵，嚴(yán)重影響了薄膜的質(zhì)量，給生產(chǎn)商帶來(lái)了不必要的損失。人眼往往不能及時(shí)準(zhǔn)確的判斷出瑕疵，SIMV薄膜表面瑕疵缺陷檢測(cè)系統(tǒng)能在線對(duì)生產(chǎn)過(guò)程中產(chǎn)生的表面缺陷瑕疵進(jìn)行高速、精確的檢測(cè)，顯示和識(shí)別薄膜表面上的所有表面缺陷。能檢測(cè)分別出直徑 0.01mm-2mm的臟污點(diǎn)、條紋、破損、邊緣裂縫、皺折、暗斑、亮斑、邊緣破損、黑點(diǎn)疵點(diǎn)、毛發(fā)，蚊蟲，等常見表面缺陷。強(qiáng)大的表面缺陷模式識(shí)別功能，根據(jù)表面缺陷的特征，在報(bào)警的同時(shí)，會(huì)指出導(dǎo)致該表面缺陷的設(shè)備、工藝問題所在，指導(dǎo)工人及時(shí)處理，從而有效的節(jié)約了生產(chǎn)成本、提高了產(chǎn)品質(zhì)量。因此薄膜瑕疵在線檢測(cè)系統(tǒng)成為高速薄膜生產(chǎn)線中不可或缺的檢測(cè)設(shè)備。

賽默斐視薄膜在線污點(diǎn)檢測(cè)設(shè)備原理

將工業(yè)線陣CCD 相機(jī)架設(shè)在生產(chǎn)線上方，同時(shí)采用高亮的LED線性聚光冷光源進(jìn)行背打光，通過(guò)線陣CCD相機(jī)和高速圖像處理系統(tǒng)進(jìn)行實(shí)時(shí)的在線掃描。當(dāng)薄膜在線生產(chǎn)出現(xiàn)瑕疵時(shí)，由于瑕疵的成像與正常的薄膜產(chǎn)品存在明顯的灰階差異，使得系統(tǒng)能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)瑕疵缺陷。系統(tǒng)自動(dòng)記錄瑕疵的圖像、位置等信息，同時(shí)通過(guò)信號(hào)控制實(shí)現(xiàn)打標(biāo)機(jī)對(duì)瑕疵的自動(dòng)貼標(biāo)定位。

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