Instruments）的 SN54ABT8543 和 SN74ABT8543 掃描測試設(shè)備，這兩款設(shè)備在邊界掃描測試方面具有顯著的優(yōu)勢。 文件下載： SN74ABT8543DW.pdf 一、產(chǎn)品概述
2026-01-05 18:15:19
323 汽車級PSoC? 4：PSoC? 4100S 家族片上可編程系統(tǒng)深度解析 在汽車電子應(yīng)用日益豐富的今天，對可編程嵌入式系統(tǒng)控制器的需求也越來越高。PSoC? 4100S 家族作為一款符合 AEC
2025-12-21 16:30:02408 探索PSOC? 4100T Plus：低功耗高性能微控制器的卓越之選 在電子工程師的日常工作中，選擇一款合適的微控制器（MCU）對于項目的成功至關(guān)重要。今天，我們將深入探討英飛凌（Infineon
2025-12-18 16:10:06150 芯祥EMS4100高速USB3.0模擬開關(guān)芯片,替代ASW3410
EMS4100N是一款高速雙向無源開關(guān)，采用多路轉(zhuǎn)換器或去多路轉(zhuǎn)換器配置，適用于支持USB 3.1 Gen1和Gen2數(shù)據(jù)速率
2025-12-18 15:37:54
探索SN54ABT8245和SN74ABT8245掃描測試設(shè)備：邊界掃描技術(shù)的卓越之選 在當(dāng)今復(fù)雜的電子系統(tǒng)設(shè)計中，測試和驗證電路的功能和可靠性至關(guān)重要。德州儀器（Texas Instruments
2025-12-15 17:35:09372 費思FTS6000線束檢測設(shè)備汽車線束與中央控制盒測試系統(tǒng)覆蓋客戶測試需求，方案成熟。
2025-11-28 15:23:26195 
PSoC 4100BL系列微控制器是英飛凌（原Cypress）推出的基于ARM Cortex-M0內(nèi)核的可編程片上系統(tǒng)（PSoC），集成低功耗藍牙（BLE）射頻模塊，適用于物聯(lián)網(wǎng)、可穿戴設(shè)備
2025-11-21 09:00:31
MTi-3、MTi-30、MTi-630(R)和MTi-300(AHRS)以及MTi-7、MTi-8、MTi-670(G)、MTi-680(G)和MTi-G-710(GNSS/INS)能夠輸出以北為
2025-11-05 12:02:25204 
HUIYINGmTI多極性時域干涉電刺激概述mTI（multipolartemporalinterference）是對傳統(tǒng)時域干涉（TI）刺激的一次重要升級。其核心思想是從“一對”包絡(luò)升級到“多
2025-10-09 18:01:56619 
納米軟件射頻測試系統(tǒng)ATECLOUD-RF是基于ATECLOUD平臺搭建的自動化測試解決方案，主要針對天線、線纜、傳感器、射頻芯片等射頻無源器件進行自動化測試，因此系統(tǒng)中的測試設(shè)備均已射頻測試類儀器
2025-09-26 16:39:10848 
鋰電池測試設(shè)備是鋰電池生產(chǎn)和研發(fā)過程中不可缺少的工具。它的主要作用是對鋰電池的各項性能進行檢測和評估，確保電池的安全性、可靠性和使用壽命。隨著電動車、儲能系統(tǒng)及便攜式電子設(shè)備的快速發(fā)展，鋰電池的需求
2025-09-16 14:04:43428 HUIYING多點時域干涉電刺激MTI概述MTI定義多點時域干涉電刺激（Multi-PointTemporalInterference,MTI）是一種非侵入性深部腦神經(jīng)調(diào)控技術(shù)。它通過在兩對表面電極
2025-09-15 18:08:03779 **K4100LS-VB MOSFET產(chǎn)品簡介**K4100LS-VB是一款高壓單通道N溝道MOSFET，采用TO220F封裝，適用于各種電力電子應(yīng)用。它的最大漏源電壓為650V，最大柵源電壓為
2025-09-12 14:09:30
EMS4100N參考電路圖，EMS4100N原理圖，適用于支持USB3.1 Gen1和Gen2數(shù)據(jù)速率的USB TypeC應(yīng)用程序。
2025-09-04 16:15:53
0 適用于用于溫度傳感器、濕度傳感器和壓力計的產(chǎn)品測樣、小批量生產(chǎn)及性能驗證等應(yīng)用場景； 設(shè)備內(nèi)置智能數(shù)據(jù)分析模塊，可對測試數(shù)據(jù)進行自動處理、分析，生成測試報告。 采用最新的半導(dǎo)體控溫技術(shù)和雙重算法
2025-08-21 08:52:16
我正在使用 nRF 系列 CPU 通過 SPI 與 EVAL-ADPD4100-ARDZ 開發(fā)板進行通信。IOVDD 設(shè)置為 3.3V，AVDD、DVDD1 和 DVDD2 設(shè)置為 1.8V。
以下
2025-08-11 06:27:10
Texas Instruments BQ25185EVM評估模塊旨在測試BQ25185線性電池充電器IC的各種操作模式。 BQ25185EVM使用視覺指標(biāo)進行完整評估。BQ25185是一款集成電池
2025-08-05 15:17:55917 
Texas Instruments TPSM86125xEVM評估模塊是經(jīng)過全面組裝和測試的電路，用于評估TPSM86125x轉(zhuǎn)換器。這些TPSM86125xEVM模塊的輸入范圍為3V至17V（標(biāo)稱
2025-08-05 09:47:33817 
Texas Instruments TUSB2E22EVM-CAT評估模塊（evm）設(shè)計用于TUSB2E22，后者是一種支持設(shè)備和主機模式的USB兼容eUSB2轉(zhuǎn)USB 2.0中繼器。Texas Instruments TUSB2E22支持USB低速（LS）和全速（FS）信號以及高速（HS）信號。
2025-08-03 15:05:59971 
) 和醫(yī)療成像領(lǐng)域的產(chǎn)品連接。憑借板載LMK，可以為各種驗證測試生成高性能時鐘，并且Texas Instruments TSWDC155EVM上的1Gb板載DDR3為從被測設(shè)備(DUT) 評估模塊獲取的數(shù)據(jù)提供了充足的存儲空間。
2025-08-03 14:21:44854 
Texas Instruments TMDS273EVM MCU評估模塊 (EVM) 是一個獨立的測試、開發(fā)和評估平臺，幫助開發(fā)人員評估AM273x的功能和為各種應(yīng)用開發(fā)原型。
2025-08-03 10:06:061097 
Texas Instruments LP5867EVM評估模塊旨在評估LP5867 led矩陣驅(qū)動器的特性和使用情況。LP5867 led驅(qū)動器集成了六個恒流源和七個開關(guān)MOSFET，最多可驅(qū)動42
2025-08-02 10:07:02964 Texas Instruments LMR43606MQ3EVM-2M評估模塊是一個經(jīng)過全面組裝和測試的電路，用于評估LMR43606-Q1降壓型電壓轉(zhuǎn)換器。該模塊的輸入電壓范圍為3.5V至36V
2025-08-02 09:52:33989 
輸入端推動最大工作電流，同時通過強化隔離屏障測量隔離式輸出。該固定裝置布局并不作為目標(biāo)電路的模型。它也不是電磁 (EMI) 測試的固定裝置布局。Texas Instruments
2025-07-31 11:16:46534 
SOIC封裝。Texas Instruments ISO7741TADWEVM具有多個測試點和跳線選項，支持用戶評估采用最少外部元件的器件。
2025-07-30 15:36:05608 
Texas Instruments TMUX-10DGS-EVM開關(guān)評估模塊(EVM)用于評估采用10引腳DGS封裝的模擬開關(guān)和多路復(fù)用器的性能。Texas Instruments TMUX-10DGS-EVM設(shè)有用于焊接10引腳DGS器件的焊盤。此外，電路板上的測試點可靈活地測試各種信號。
2025-07-30 14:42:02580 
Texas Instruments TPS7H4011EVM-CVAL轉(zhuǎn)換器評估模塊(EVM)演示單個TPS7H4011-SP降壓轉(zhuǎn)換器的運行情況。Texas Instruments TPS7H4011EVM-CVAL的占位面積可組裝額外元件，以測試定制配置、跳線和測試點，從而輕松進行器件配置和性能驗證。
2025-07-30 14:07:37503 
刷電路板（PCB）包含多個跳線和一個USB連接，可通過所需的用戶編程對LMKDB1204進行編程和設(shè)置。該評估模塊可靈活地對Texas Instruments LMKDB1204器件進行合規(guī)性測試、系統(tǒng)原型設(shè)計和性能評估。
2025-07-29 14:50:16505 
你好！ 在Psoc4100S Datasheet 中 關(guān)于flash操作有幾個問題：1. Tbulkerase時間是全片擦除的時間么？2.Tdevprog 的7秒，是如何計算的？ 3. 64KB產(chǎn)品，最快的燒寫速度是否有限制？手冊上只寫出了最大時間。
2025-07-29 12:22:54
Texas Instruments LP87694Q1EVM評估模塊（EVM）可用于測試、演示、調(diào)試和配置一個或多個LP8769x-Q1電源管理IC，適用于汽車和工業(yè)應(yīng)用。板載器件為
2025-07-29 11:29:47563 
Texas Instruments UCC57108EVM評估模塊是為評估UCC57108的功能而開發(fā)的。對于具有TO-220占位面積的電容性負(fù)載或功率器件，可對UCC57108驅(qū)動器的性能進行評估
2025-07-28 11:52:35571 
Texas Instruments TPS22991EVM評估模塊采用TPS22991負(fù)載開關(guān)。到TPS22991的V~IN~ 和V~OUT~ 連接以及PCB布局布線可處理持續(xù)大電流，并能提供一個
2025-07-28 10:33:52694 
Texas Instruments PCM1809EVM評估模塊有助于測試PCM1809 ADC的功能。該雙通道直流耦合硬件控制高性能音頻ADC設(shè)計用于語音激活系統(tǒng)、專業(yè)麥克風(fēng)、音頻會議、便攜式計算、通信和娛樂應(yīng)用。
2025-07-25 16:15:49624 
和測試點，可幫助評估Texas Instruments MCF8315 IC的許多功能和可配置的特定設(shè)備設(shè)置。
2025-07-24 10:21:38483 
Texas Instruments TPS65987DDKEVM評估模塊 (EVM) 可對TPS65987DDK IC進行評估，將其作為獨立測試套件的一部分，用于開發(fā)和測試USB Type-C
2025-07-23 14:24:19471 
Texas Instruments TPS513885EVM評估模塊為TPS513885降壓轉(zhuǎn)換器提供完全組裝并經(jīng)過測試的電路。TPS513885EVM具有19.5V典型輸入工作電壓和5.15V輸出（12A時）。該器件包括用于反饋環(huán)路測量的交流信號注入端子。
2025-07-22 12:27:08530 
Texas Instruments TPS7H1121EVM-CVAL評估模塊用于演示單個TPS7H1121-SP LDO穩(wěn)壓器的運行情況。該板的占位面積可預(yù)裝額外元件。TI TPS7H1121EVM-CVAL評估模塊使器件能夠測試定制配置、測試點和SMA連接器，以便輕松驗證性能。
2025-07-22 09:59:26538 
Texas Instruments TLC3555EVM定時器評估模塊 (EVM) 設(shè)計用于幫助用戶輕松評估和測試TLC3555器件的運行和功能。評估模塊可按標(biāo)準(zhǔn)定時器電路配置進行評估。Texas
2025-07-21 14:03:20605 
引腳，一個用于評估功耗的板載分流器，一個紅、綠、藍 (RGB) LED指示燈，用于向用戶提供設(shè)備所測磁通量大小的視覺反饋。Texas Instruments TMAG5253EVM旨在對器件進行基本功能評估。該布局并不是為目標(biāo)電路提供的模型，也不是為電磁兼容性 (EMC) 測試而設(shè)計。
2025-07-21 11:51:28601 
Texas Instruments TMUXS7614DEVM 開關(guān)評估模塊 (EVM) 用于評估TMUXS7614D的性能。評估模塊上焊接有TMUXS7614D器件。Texas Instruments TMUXS7614DEVM可讓工程師輕松評估TMUXS7614D的測試和測量等應(yīng)用。
2025-07-21 11:40:53537 
額外的占位面積，允許用戶添加元件以測試各種常見應(yīng)用。Texas Instruments ISO1228EVM具有多個跳線和測試點選項，可使用最少的外部元件對器件進行評估。
2025-07-21 10:41:24530 
Texas Instruments LMR51603EVM轉(zhuǎn)換器評估模塊 (EVM) 是一個經(jīng)過全面組裝和測試的電路，旨在幫助用戶快速評估和測試LMR51603轉(zhuǎn)換器的運行和功能。Texas
2025-07-21 10:34:21510 
Texas Instruments TPS6286B10EVM-049轉(zhuǎn)換器評估模塊 (EVM) 設(shè)計用于幫助用戶輕松測試和評估TPS6286B10降壓轉(zhuǎn)換器的運行和功能。評估模塊還可用于評估
2025-07-18 13:45:44501 
Texas Instruments bq25190EVM評估模塊（EVM）設(shè)計用于評估集成式電池充電管理集成電路bq25190。Texas Instruments bq25190集成了可穿戴設(shè)備的最常見功能：線性充電器、穩(wěn)壓輸出、帶定時器的手動復(fù)位和運輸模式功能。
2025-07-16 13:56:28518 
電壓和18V輸出電壓應(yīng)用而設(shè)計。Texas Instruments TPS61287EVM-042具有用于輸入電壓測量的TP1和TP2測試點，用于輸出電壓測量的TP3和TP6測試點，用于SW測量的TP7測試點以及用于環(huán)路測試的TP4和TP5測試點。
2025-07-15 14:50:01641 
了TPS3424A11C13ADRL器件，用于完整功能測試。該板為Texas Instruments TPS3424和TPS3423器件的所有輸入和輸出引腳提供了一個示例設(shè)計和測試點，用于采集器件的測量和行為數(shù)據(jù)。
2025-07-14 14:58:04585 
PSoC? 4100S Plus是Cypress生產(chǎn)的一款汽車級微控制器，采用了可編程和可重新配置的模擬和數(shù)字模塊，及其高效的自動無線功能，為汽車電子提供了完整的系統(tǒng)解決方案。汽車級PSOC
2025-07-11 09:03:41
Texas Instruments CDC6CEVM評估模塊配置用于評估CDC6C低功耗LVCMOS BAW振蕩器的運行情況。TI CDC6EVM可作為靈活的時鐘源，用于合規(guī)性測試、性能評估和初始
2025-07-09 14:33:50672 
Texas Instruments TPS54538EVM評估模塊是一款經(jīng)完全組裝和測試的電路，用于評估TPS54538轉(zhuǎn)換器。TPS54538EVM模塊被配置的工作輸入電壓范圍為3.8V至28V
2025-07-07 14:02:05670 
設(shè)計，采用TSSOP (PW) 封裝。它具有兩個測試點，用于每個I/O和OVP觸發(fā)閾值，因此設(shè)有三十四個測試點，用于測試TMUX73XXF系列設(shè)備。包括七個額外的接地測試點，便于電路板測試。
2025-07-06 16:24:24631 
Texas Instruments LMK5C33414AEVM評估模塊 (EVM) 用于LMK5C33414A網(wǎng)絡(luò)時鐘發(fā)生器和同步器。該評估模塊可用于器件評估、合規(guī)性測試和系統(tǒng)原型開發(fā)
2025-07-06 14:22:36673 
Texas Instruments LMK5C33216AEVM評估模塊（evm）用于LMK5C33216A網(wǎng)絡(luò)時鐘發(fā)生器和同步器。該評估模塊可用于器件評估、合規(guī)性測試和系統(tǒng)原型
2025-07-06 14:03:25692 
Texas Instruments LMK5B12212EVM評估模塊（evm）用于LMK5B12212網(wǎng)絡(luò)時鐘發(fā)生器和同步器。它可用于設(shè)備評估、合規(guī)性測試和系統(tǒng)原型開發(fā)。LMK5B12212集成
2025-07-06 11:45:29683 
便攜式設(shè)備和由各種電池和其他電源供電的智能設(shè)備提供電源設(shè)計。Texas Instruments TPSM81033在整個溫度范圍內(nèi)具有5.5A（典型值）谷值開關(guān)電流限制。
2025-07-06 10:48:51661 
Texas Instruments TPS650360EVM PMIC評估模塊（EVM）設(shè)計用于TPS65036x-Q1電源管理集成電路（PMIC）器件。Texas Instruments
2025-07-06 10:47:01848 
，支持從GND到V~CC~ 的共模范圍。Texas Instruments TMUXHS4612-EVM采用帶SMP連接器的高速多路復(fù)用器，具有出色的信號完整性和校準(zhǔn)跡線，用于在合規(guī)性測試中去嵌入應(yīng)用。
2025-07-05 14:30:19795 
USB 2.0連接器，用于連接USB兼容主機（帶Type-A轉(zhuǎn)Type-B適配器）、集線器或設(shè)備。Texas Instruments TUSB2E221QFNEVM還具有兩組SMP連接器，用于連接另一個eUSB2 PHY或測試設(shè)備。
2025-07-05 13:49:12713 
內(nèi)應(yīng)用。Texas Instruments TPS7B4261EVM-151的配置包含用于外部元件的焊盤，可確保TPS7B4261-Q1的正常功能，同時設(shè)有便于測試的測試點。此外還包含一個額外的高性能負(fù)載瞬態(tài)電路，用于提高低壓差穩(wěn)壓器的測量能力。
2025-07-04 14:10:40617 
Texas Instruments CD74HC32雙輸入或門包含四個獨立的雙輸入或門。每個邏輯門以正邏輯執(zhí)行布爾函數(shù)Y = A + B。Texas Instruments CD74HC32設(shè)備具有2V至6V的寬工作電壓范圍和 –55°C至+125°C的寬工作溫度范圍。
2025-07-03 15:37:19647 
Texas Instruments SN74HC126四路緩沖器包含四個獨立緩沖器，具有三態(tài)輸出。每個邏輯門以正邏輯執(zhí)行布爾函數(shù)Y = A。每個設(shè)備均具有2V至6V的寬工作電壓范圍和 –40°C至
2025-07-03 14:45:18555 
Texas Instruments SN74HC32四路雙輸入或門包含四個獨立的雙輸入或門。每個邏輯門以正邏輯執(zhí)行布爾函數(shù)Y = A + B。Texas Instruments SN74HC32設(shè)備具有2V至6V的寬工作電壓范圍和-40°C至+85°C的寬工作溫度范圍。
2025-07-03 11:28:25638 
針對智能穿戴設(shè)備的特殊測試需求，如觸摸屏的觸摸性能測試、按鍵的壽命測試等，慧通測控都有相應(yīng)的專業(yè)設(shè)備。其觸摸屏測試設(shè)備可模擬各種觸摸操作，精確檢測觸摸屏的響應(yīng)速度、靈敏度等參數(shù)；按鍵測試設(shè)備能夠
2025-07-02 08:58:16594 
充電樁老化測試設(shè)備主要包括以下三類，涵蓋批量測試、便攜檢測及負(fù)載模擬等核心功能： 一、批量老化測試設(shè)備 ?多路并行測試系統(tǒng)（群充）? 支持同時老化多臺充電樁（如16臺交流樁或20路充電槍），通過串聯(lián)
2025-06-27 16:03:37680 
南柯電子｜監(jiān)護設(shè)備EMC測試整改：怎么選擇？功率多少？
2025-06-26 09:45:30605 在當(dāng)今競爭激烈的市場環(huán)境中，產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性成為了企業(yè)立足的根本。無論是電子產(chǎn)品、汽車零部件，還是智能家居設(shè)備，都需要經(jīng)過嚴(yán)格的可靠性測試，以確保在各種復(fù)雜環(huán)境下都能穩(wěn)定運行，為用戶提供可靠的使用體驗。那么，可靠性測試究竟包括哪些內(nèi)容呢？
2025-06-03 10:52:451290 
一、測試原理與設(shè)備選型 皮爾森電流互感器（Pearson Current Monitor）因其寬頻帶（典型型號達20MHz）和快速響應(yīng)特性，成為浪涌電流測試的首選設(shè)備。其工作原理基于羅氏線圈
2025-05-23 11:33:20611 
XsensMTI設(shè)備連接到NVIDIAJetson硬件，以及如何使用我們的MT軟件開發(fā)工具包(MTSDK)輕松與之通信NVIDIAJetson運行在ARMCortexCPU上，這意味著它與常規(guī)
2025-05-22 17:00:24467 
在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中，可靠性測試設(shè)備如同產(chǎn)品質(zhì)量的 “守門員”，通過模擬各類嚴(yán)苛環(huán)境，對半導(dǎo)體器件的長期穩(wěn)定性和可靠性進行評估，確保其在實際使用中能穩(wěn)定運行。以下為你詳細(xì)介紹常見的半導(dǎo)體測試可靠性測試設(shè)備。
2025-05-15 09:43:181022 
電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供()3300 至 4100 MHz 寬瞬時帶寬線性驅(qū)動放大器相關(guān)產(chǎn)品參數(shù)、數(shù)據(jù)手冊，更有3300 至 4100 MHz 寬瞬時帶寬線性驅(qū)動放大器的引腳圖、接線圖、封裝手冊、中文
2025-05-13 18:32:50
在座椅設(shè)計與優(yōu)化的領(lǐng)域中，座椅體壓分布測試設(shè)備是獲取關(guān)鍵數(shù)據(jù)、提升座椅舒適性和人體工程學(xué)設(shè)計水平的核心工具。然而，市場上測試設(shè)備種類繁多，性能各異，如何從中挑選出契合自身需求的設(shè)備，成為眾多研發(fā)人員和企業(yè)面臨的重要問題。
2025-04-29 11:30:34678 
在電機生產(chǎn)與維護過程中，氣密性測試是保障電機性能和可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。掌握電機氣密性測試設(shè)備的操作方式，對于確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性至關(guān)重要。以下將詳細(xì)介紹其操作步驟。（一）操作前準(zhǔn)備1.設(shè)備檢查開啟測試
2025-04-26 14:09:53741 
隨著新能源汽車的快速普及，充電樁作為核心基礎(chǔ)設(shè)施，其安全性和可靠性備受關(guān)注。充電樁測試設(shè)備通過模擬充電場景、檢測電氣性能及安全指標(biāo)，成為保障充電樁質(zhì)量的關(guān)鍵工具。本文從設(shè)備類型、核心技術(shù)及應(yīng)用場
2025-03-28 13:28:24599 
根據(jù)GB/T 18487.1-2015、GB/T 27930-2015等國家標(biāo)準(zhǔn)，國標(biāo)直流充電樁測試設(shè)備主要分為以下9大類，涵蓋電氣性能、通信協(xié)議、安全防護等核心測試需求： 一、電氣性能測試設(shè)備
2025-03-11 16:52:441181 
我使用的DLP4100的USB芯片是USB2.0 CY7C68013A，我想問一下相關(guān)的固件程序在哪可以下載，我想對該固件程序進行更改。
2025-02-28 07:56:17
實驗室最近想購買一款針對近紅外波段的DMD用于空間光調(diào)控，在TI的官網(wǎng)上看到有DLP Discovery 4100開發(fā)套件支持DLP650LNIR DMD可以用于近紅外，還看到DLPLCRC410
2025-02-28 06:19:37
使用Activex時可以正常讀取圖片并顯示。但當(dāng)使用D4100_usb.dll動態(tài)庫時，不清楚怎樣才能將數(shù)據(jù)顯示到DMD。
請問在D4100_usb.dll動態(tài)庫中應(yīng)該使用哪些相關(guān)的函數(shù)才能實現(xiàn)
2025-02-28 06:17:44
請問，有幾個關(guān)于DLP4100在LabView應(yīng)用的問題，目的是需要快速發(fā)送只包含兩種值的二維數(shù)組到DMD上顯示：
1.DLP4100在LabView中，ActiveX方式可以正常調(diào)用，但是Int
2025-02-27 07:49:34
請問TI有沒有提供控制DLP Discovery 4100開發(fā)套件的Labview程序案例？
2025-02-27 07:17:10
我實驗室購入一塊DLPLCR70EVM并搭配DLPLCR410EVM使用，由于Discovery 4100 Explorer程序不能滿足實驗需要，我在論壇上找到方法通過D4100
2025-02-27 06:59:02
DLPC4100輸出的RST_ACTIVE信號為高電平時，User FPGA無法抓到這個高電平，是什么原因?qū)е碌哪兀ü苣_分配正確）？
2025-02-26 06:28:56
電氣設(shè)備在現(xiàn)代生產(chǎn)中的廣泛應(yīng)用極大地提升了生產(chǎn)效率，但同時也帶來了潛在的安全風(fēng)險。觸電事故和電氣火災(zāi)的發(fā)生，使得電氣設(shè)備的安全性成為產(chǎn)品質(zhì)量的首要考量因素。耐壓測試耐壓測試，也稱為介電強度測試
2025-02-25 17:31:251444 
目前使用卡里自帶的FPGA程序，以下僅有上位機控制問題。
使用的說明書名稱：DLP? Discovery? 4100 Development Platform API Programmer’s
2025-02-25 07:57:48
請問DLP4100的DMD最大能接受的LED光強是多少呢？有相關(guān)的數(shù)據(jù)或者數(shù)據(jù)手冊上面有提及嗎？
2025-02-25 06:23:53
技術(shù)支持您好！我用的DMD開發(fā)板如上圖，采用是DLP4100系列芯片組，現(xiàn)在所遇到的問題：第一個是通過微鏡加載二值圖片，接收光強信息的探測器收集到電壓數(shù)據(jù)整體會有偏上或者偏下的現(xiàn)象，導(dǎo)致實驗
2025-02-24 08:35:31
深圳南柯電子｜硬件測試EMC測試整改：提升設(shè)備電磁兼容性的方法
2025-02-23 15:49:081196
工程師您好！上面說的是GPIOA0產(chǎn)生的同步信號，編程文件說的是控制GPIOA1，是錯了嗎？還有以下一些疑問希望解答。如有相關(guān)程序范例是否能提供？非常感謝
1、DLP4100進行編程控制可以使用什么軟件??？
2、需要通過同步信號脈沖觸發(fā)采集卡進行采集數(shù)據(jù)，請問是否有相關(guān)范例提供，非常感謝您的解答。
2025-02-21 13:28:07
目前使用DLP Discovery 4100 開發(fā)套件進行實驗，想要通過外部脈沖同步觸發(fā)DMD翻轉(zhuǎn)，請問應(yīng)該連接哪個引腳？
2025-02-20 06:12:37
蓄電池測試設(shè)備設(shè)備用途BTS-M系列電池測試儀，可滿足電動汽車電池、電動自行車電池、儲能電池等單體電池和電池模組的充放電測試、脈沖充放電測試、DCIR（直流內(nèi)阻）測試、循環(huán)壽命測試、倍率充放電測試
2025-01-22 09:07:14
本篇技術(shù)博文將介紹SiliconLabs（芯科科技）提供的Z-Wave設(shè)備測試工具，通過使用一個舊的Z-Wave DUT項目來測試Z-Wave設(shè)備，以確保設(shè)備可以正常工作。
2025-01-17 09:39:451107 
ADS1258讀取寄存器CONFIG0是不是發(fā)送0x4000，，然后依次類推0x4100？為什么讀回來都是零？
2025-01-10 11:30:37
設(shè)備用途BTS-M系列液流電池測試設(shè)備，可滿足電動汽車電池、電動自行車電池、儲能電池等單體電池和電池模組的充放電測試、脈沖充放電測試、DCIR（直流內(nèi)阻）測試、循環(huán)壽命測試、倍率充放電測試。主要
2025-01-08 15:47:03
液流電池測試設(shè)備設(shè)備用途BTS-M系列液流電池測試設(shè)備，可滿足儲能電池等單體電池和電池模組的充放電測試、脈沖充放電測試、DCIR（直流內(nèi)阻）測試、循環(huán)壽命測試、倍率充放電測試。主要應(yīng)用于各科
2025-01-08 15:25:22
蓄電池大電流放電設(shè)備設(shè)備用途BTS-HRD系列電池測試設(shè)備，滿足電動汽車電池、電動自行車、汽車起動電池、電動自行車電池、儲能電池等單體電池和模組電池的放電測試、脈沖放電測試、DCIR（直流內(nèi)阻）測試
2025-01-08 13:27:06
設(shè)備用途BTS-M系列電池測試設(shè)備，可滿足電動汽車電池、電動自行車電池、儲能電池等單體電池和電池模組的充放電測試、脈沖充放電測試、DCIR（直流內(nèi)阻）測試、循環(huán)壽命測試、倍率充放電測試。主要應(yīng)用于
2025-01-08 12:36:04
設(shè)備用途BTS-M系列電池測試設(shè)備，可滿足電動汽車電池、電動自行車電池、儲能電池等單體電池和電池模組的充放電測試、脈沖充放電測試、DCIR（直流內(nèi)阻）測試、循環(huán)壽命測試、倍率充放電測試。主要應(yīng)用于
2025-01-08 12:20:55
設(shè)備用途BTS-M系列電池測試設(shè)備，可滿足電動汽車電池、電動自行車電池、儲能電池等單體電池和電池模組的充放電測試、脈沖充放電測試、DCIR（直流內(nèi)阻）測試、循環(huán)壽命測試、倍率充放電測試
2025-01-08 10:05:13
電池測試設(shè)備應(yīng)運而生。這些設(shè)備通過模擬電池在實際應(yīng)用中可能遇到的各種條件，對電池進行全方位的測試，從而確保每一塊出廠的電池都符合嚴(yán)格的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。 圓柱電池測試設(shè)備通常由電池測試系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)、環(huán)境控制系統(tǒng)
2025-01-06 17:22:47779 描述 HCPL-4100 20mA 隔離電流環(huán)路發(fā)射器被用在使用 20mA 電流環(huán)路的設(shè)備中。通常，20mA 電流環(huán)路系統(tǒng)發(fā)射 20 mA 環(huán)路電流 (MARK) 來標(biāo)志邏輯高電平，同時
2025-01-06 14:58:05
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