薄晶片已成為各種新型微電子產(chǎn)品的基本需求。 需要更薄的模具來適應更薄的包裝。 使用最后的濕蝕刻工藝在背面變薄的晶圓與標準的機械背面磨削相比,應力更小。 硅的各向同性濕蝕刻通常是用硝酸和氫氟酸的混合物,并添加化學物質來調整粘度和單晶圓旋轉加工的表面潤濕性。 當硅被蝕刻并并入蝕刻溶液時,蝕刻速率將隨時間而降低。 這種變化已經(jīng)建模。 這些模型可以延長時間,補充化學物質,或者兩者兼而有之。
硅蝕刻
硅的各向同性濕蝕刻最常用的化學方法是硝酸和氫氟酸的結合。 它通常被稱為海航體系(HF:硝酸:乙酸)與醋酸添加作為濕工作臺應用的緩沖。 硝酸作為氧化劑將表面轉化為二氧化硅,然后HF腐蝕(溶解)氧化物。 其反應過程如下所示
實驗
實驗是在SSEC 3300系列單片自旋處理器系統(tǒng)上進行的。 所采用的化學方法是氫氟酸、硝酸、硫酸和磷酸按1:6:1:2的比例混合。 化學再循環(huán)采用SSEC的收集環(huán)技術。 在蝕刻過程中有許多工藝參數(shù)可以改變,從以前的工作中選擇了一個優(yōu)化的工藝來進行這項研究。

圖1:恒定蝕刻時間下的硅蝕刻深度。
模型

審核編輯:湯梓紅
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