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標(biāo)簽 > 芯片制造
《芯片制造》是2010年8月1日電子工業(yè)出版社出版的圖書,作者是(美國)贊特。本書介紹了半導(dǎo)體工藝的制作制程、誕生、發(fā)展、半導(dǎo)體材料和化學(xué)品的性質(zhì)等方面闡述。
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一個(gè)復(fù)雜的處理器可能包含數(shù)億甚至數(shù)十(百)億個(gè)晶體管,這些晶體管通過細(xì)金屬線彼此互聯(lián)。芯片的制造過程極其復(fù)雜,需要經(jīng)歷數(shù)百個(gè)精確控制的步驟。
本文論述了芯片制造中薄膜厚度量測(cè)的重要性,介紹了量測(cè)納米級(jí)薄膜的原理,并介紹了如何在制造過程中融入薄膜量測(cè)技術(shù)。
2025-02-26 標(biāo)簽:薄膜芯片制造量測(cè)技術(shù) 3.1k 0
芯片制造中高精度膜厚測(cè)量與校準(zhǔn):基于紅外干涉技術(shù)的新方法
在先進(jìn)光學(xué)、微電子和材料科學(xué)等領(lǐng)域,透明薄膜作為關(guān)鍵工業(yè)組件,其亞微米級(jí)厚度的快速穩(wěn)定測(cè)量至關(guān)重要。芯片制造中,薄膜襯底的厚度直接影響芯片的性能、可靠性...
熱波系統(tǒng)通過激光誘導(dǎo)熱效應(yīng)與晶格缺陷的關(guān)聯(lián)性實(shí)現(xiàn)摻雜濃度評(píng)估。其核心機(jī)制為:氬泵浦激光經(jīng)雙面鏡聚焦于晶圓表面,通過光熱效應(yīng)產(chǎn)生周期性熱波,導(dǎo)致局部晶格缺...
ASIC設(shè)計(jì)開發(fā)流程介紹 CMOS集成電路的功耗來源
集成電路是由硅晶圓(wafer)切割出來的芯片(die)組成的。每個(gè)晶圓可以切割出數(shù)百個(gè)芯片。
氮化鈦(TiN)是一種具有金屬光澤的陶瓷材料,其晶體結(jié)構(gòu)為立方晶系,化學(xué)穩(wěn)定性高、硬度大(莫氏硬度9-10)、熔點(diǎn)高達(dá)2950℃。在半導(dǎo)體領(lǐng)域,TiN展...
光源掩模協(xié)同優(yōu)化的原理與應(yīng)用
由于SMO優(yōu)化的結(jié)果是要應(yīng)用到整塊芯片上去的,而對(duì)所有的圖形進(jìn)行SMO是極為耗時(shí)的,因此,我們需要使用關(guān)鍵圖形篩選技術(shù)提前將重復(fù)或者冗余的圖形剔除,以保...
Cadence產(chǎn)品管理總監(jiān)Melika Roshandell表示:“盡管基本漏電較之前的技術(shù)有所降低,但總體功耗卻更高。所以,熱量問題將更加嚴(yán)重,因?yàn)槟?..
在集成電路(IC)制造與測(cè)試過程中,CP(ChipProbing,晶圓探針測(cè)試)和FT(FinalTest,最終測(cè)試)是兩個(gè)重要的環(huán)節(jié),它們承擔(dān)了不同的...
芯片制造中的化學(xué)鍍技術(shù)研究進(jìn)展
芯片制造中大量使用物理氣相沉積、化學(xué)氣相沉積、電鍍、熱壓鍵合等技術(shù)來實(shí)現(xiàn)芯片導(dǎo)電互連。
ASML 稱之為超數(shù)值孔徑的研發(fā)正在進(jìn)行中,因此更具體的光學(xué)器件,尚不清楚它是否會(huì)起作用。距生產(chǎn)還有 10 年的時(shí)間,但這正是研發(fā)已經(jīng)在進(jìn)行的地方,如果...
總體而言,從現(xiàn)在到2023年,汽車應(yīng)用半導(dǎo)體市場(chǎng)預(yù)計(jì)將出現(xiàn)7%的復(fù)合年增長率,市場(chǎng)價(jià)值將從350億美元增加到540億美元。在ADAS/自動(dòng)駕駛/車載信息...
2018-06-05 標(biāo)簽:芯片制造 2.7k 0
芯片制造的關(guān)鍵一環(huán):介質(zhì)層制備工藝全解析
在芯片這一高度集成化和精密化的電子元件中,介質(zhì)層扮演著至關(guān)重要的角色。它不僅在芯片中提供了必要的電氣隔離,還在多層互連結(jié)構(gòu)中實(shí)現(xiàn)了信號(hào)的高效傳輸。隨著芯...
2025-02-18 標(biāo)簽:電子元件芯片制造半導(dǎo)體封裝 2.6k 0
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