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基于FPGA的誤碼性能測(cè)試原理方案

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關(guān)于如何測(cè)試FPGA性能問(wèn)題的求助

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如何實(shí)現(xiàn)高性能的射頻測(cè)試解決方案

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預(yù)失真技術(shù)是什么?怎樣去設(shè)計(jì)解調(diào)誤碼測(cè)試儀?
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2011-05-06 16:03:0742

應(yīng)用于光互連的高速誤碼儀的設(shè)計(jì)

出于對(duì)光互連芯片進(jìn)行測(cè)試的目的,本文提出了一種基于現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(Field-Programmable GateArray,FPGA)的 高速誤碼儀 的設(shè)計(jì)方案,并介紹了該方案的設(shè)計(jì)思想,著重對(duì)同步問(wèn)題進(jìn)行了
2011-06-10 16:56:530

CS21354在手持式2M誤碼測(cè)試儀中的應(yīng)用

文中主要討論了CS21354在手持式2M誤碼測(cè)試儀的硬件和軟件設(shè)計(jì)中的設(shè)計(jì)思路和設(shè)計(jì)方案。本設(shè)計(jì)采用目前非常先進(jìn)的軟硬件協(xié)同設(shè)計(jì)的SOPC技術(shù)方案完全是可行的,測(cè)試結(jié)果表明,該設(shè)計(jì)
2011-10-09 10:52:021602

糾錯(cuò)碼性能仿真中的誤碼率估計(jì)

在糾錯(cuò)碼性能仿真中,一般是在給定信噪比后,由實(shí)測(cè)的錯(cuò)誤信息比特?cái)?shù)與發(fā)送信息比特總數(shù)相比來(lái)估計(jì)誤碼率的,這種方法在大碼長(zhǎng)或者極低誤碼率情況下,可信程度不高。本文提出
2011-11-10 17:01:3023

一種基于FPGA的新型誤碼測(cè)試儀的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

誤碼儀是評(píng)估信道性能的基本測(cè)量?jī)x器。本文介紹的誤碼儀結(jié)合FPGA 的特點(diǎn),采用全新的積分式鑒相結(jié)構(gòu),提出了一種新的誤碼測(cè)試方法,經(jīng)多次測(cè)試驗(yàn)證,方案可行,設(shè)計(jì)的系統(tǒng)穩(wěn)定。
2012-05-02 14:31:021292

LTE基站誤碼測(cè)試方法和測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)

LTE基站誤碼測(cè)試是基站射頻測(cè)試中最為關(guān)鍵的測(cè)試項(xiàng)目之一,提出一種快速、高效的測(cè)試方法和測(cè)試架構(gòu)。該方案采用基站射頻板作為數(shù)據(jù)采集卡、完成上行鏈路的解調(diào)和模擬信號(hào)轉(zhuǎn)
2013-01-10 16:52:5840

基于FPGA的隨機(jī)數(shù)性能檢測(cè)設(shè)計(jì)

為了滿足對(duì)隨機(jī)數(shù)性能有一定要求的系統(tǒng)能夠?qū)崟r(shí)檢測(cè)隨機(jī)數(shù)性能的需求,提出了一種基于FPGA的隨機(jī)數(shù)性能檢測(cè)設(shè)計(jì)方案。根據(jù)NIST的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),采用基于統(tǒng)計(jì)的方法,在FPGA內(nèi)部實(shí)現(xiàn)了
2013-07-24 16:52:0645

IP集成式誤碼測(cè)試器(IBERT)的主要性能和優(yōu)勢(shì)介紹

面向 UltraScale? 架構(gòu) GTY 收發(fā)器的可定制 LogiCORE? IP 集成式誤碼測(cè)試器 (IBERT) 核用于評(píng)估和監(jiān)控 v 收發(fā)器。該核包括采用 FPGA 邏輯實(shí)現(xiàn)的模式生成器和檢查器,并能夠接入 GTY 收發(fā)器的端口和動(dòng)態(tài)重配置端口屬性。
2018-07-08 09:58:005694

應(yīng)對(duì)多樣化數(shù)字接口測(cè)試挑戰(zhàn)的解決方案——基于可編程FPGA測(cè)試儀器

應(yīng)對(duì)多樣化數(shù)字接口測(cè)試挑戰(zhàn)的解決方案——基于可編程FPGA測(cè)試儀器
2017-10-16 13:57:093

多樣化數(shù)字接口測(cè)試挑戰(zhàn)的解決方案——基于可編程FPGA測(cè)試儀器

多樣化數(shù)字接口測(cè)試挑戰(zhàn)的解決方案——基于可編程FPGA測(cè)試儀器
2017-10-19 08:45:4111

淺析誤碼儀工作原理與測(cè)試結(jié)果

誤碼儀是常用的測(cè)試高速數(shù)字(包括光通信)器件和系統(tǒng)的儀器。
2019-03-14 14:01:2925413

誤碼率是指什么_誤碼率是怎么表示_怎么計(jì)算

 誤碼的產(chǎn)生是由于在信號(hào)傳輸中,衰變改變了信號(hào)的電壓,致使信號(hào)在傳輸中遭到破壞,產(chǎn)生誤碼。噪音、交流電或閃電造成的脈沖、傳輸設(shè)備故障及其他因素都會(huì)導(dǎo)致誤碼 誤碼率(比如傳送的信號(hào)是1,而接收到的是0
2018-03-08 08:59:1867432

光纖通信系統(tǒng)中誤碼性能

誤碼性能是衡量系統(tǒng)優(yōu)劣的非常重要的指標(biāo),反映數(shù)字信息在傳輸過(guò)程中受到損傷的程度,通常用長(zhǎng)期平均誤碼率,誤碼的時(shí)間百分?jǐn)?shù)和誤碼秒百分?jǐn)?shù)來(lái)表示。
2018-03-08 09:15:0412904

FPGA為核心的高速誤碼測(cè)試儀設(shè)計(jì)流程概述

and Telecommunications Administrations)數(shù)字系列通信系統(tǒng)傳輸質(zhì)量的監(jiān)測(cè)。評(píng)價(jià)一個(gè)通信系統(tǒng)的可靠性的指標(biāo)就是檢測(cè)該通信系統(tǒng)在數(shù)據(jù)傳輸過(guò)程中誤碼率的大小,本文設(shè)計(jì)的高速信號(hào)誤碼測(cè)試儀,用于
2020-01-29 17:04:001916

RY1100 2Mbit s誤碼測(cè)試儀的詳細(xì)資料介紹

RY1100 2Mbit/s誤碼測(cè)試儀適用于測(cè)量通信線路數(shù)據(jù)通信的誤碼率和分析線路故障及原因。可方便地完成對(duì)2M系統(tǒng),N×64k信道傳輸參數(shù)測(cè)量及日常維護(hù)測(cè)試。
2020-05-28 08:00:001

抖動(dòng)誤碼儀的結(jié)構(gòu)和工作原理

誤碼儀是常用的測(cè)試高速數(shù)字(包括光通信)器件和系統(tǒng)的儀器
2020-07-09 10:29:005

Agilent N4906B串行誤碼測(cè)試儀主要特性及應(yīng)用

為了滿足降低生產(chǎn)測(cè)試成本的需要,同時(shí)向最終用戶提供可升級(jí)以及高性能測(cè)試設(shè)備,安捷倫科技在其串行誤碼測(cè)試儀產(chǎn)品N4900系列中又推出了低成本、高性能產(chǎn)品-N4906B。
2020-07-21 14:56:581441

基于Cyclone系列FPGA器件和UART功能實(shí)現(xiàn)誤碼測(cè)試儀器的設(shè)計(jì)

在通信系統(tǒng)的設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)過(guò)程中,都需要測(cè)試系統(tǒng)的誤碼性能。而常見(jiàn)的誤碼測(cè)試儀多數(shù)專用于測(cè)試各種標(biāo)準(zhǔn)高速信道,不便于測(cè)試實(shí)際應(yīng)用中大量的專用信道,并且價(jià)格昂貴,搭建測(cè)試平臺(tái)復(fù)雜。隨著大規(guī)模集成電路
2020-07-24 13:58:001383

一種關(guān)于FPGA的兩種誤碼儀實(shí)現(xiàn)方法設(shè)計(jì)

設(shè)計(jì)了一種基于EPF10KRC208-4的誤碼儀,該設(shè)計(jì)充分利用了FPGA強(qiáng)大的可編程能力和豐富的資源,以及軟件開(kāi)發(fā)平臺(tái)Quart
2021-04-07 11:10:192951

關(guān)于FPGA誤碼測(cè)試儀研究與設(shè)計(jì)

誤碼率是反映數(shù)據(jù)傳輸設(shè)備及其信道工作質(zhì)量的一個(gè)重要指標(biāo)。作為通信系統(tǒng)的可靠性測(cè)量工具,誤碼測(cè)試儀廣泛地
2021-04-22 15:01:534032

關(guān)于ZC706評(píng)估板的IBERT誤碼測(cè)試和眼圖掃描詳細(xì)分析

IBERT(Integrated Bit ErrorRatio Tester,集成誤比特率測(cè)試工具),是Xilinx提供用于調(diào)試FPGA高速串行接口比特誤碼率性能的工具,最常用在GT高速串行收發(fā)器測(cè)試
2021-04-27 16:10:459248

設(shè)計(jì)解決方案43-Altera低壓FPGA的高性能開(kāi)關(guān)模式電源解決方案

設(shè)計(jì)解決方案43-Altera低壓FPGA的高性能開(kāi)關(guān)模式電源解決方案
2021-04-30 11:55:187

基于微機(jī)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)誤碼測(cè)試儀的測(cè)試方案

當(dāng)需要對(duì)某個(gè)信道進(jìn)行誤碼測(cè)試時(shí),在通信的兩端要同時(shí)將數(shù)據(jù)終端的收發(fā)電纜拔下再連接到誤碼儀上,其弊端是顯而易見(jiàn)的:一是操作不方便,從開(kāi)始測(cè)試到恢復(fù)線路狀態(tài)要對(duì)電纜進(jìn)行兩次插拔,既費(fèi)時(shí)又費(fèi)事;二是同時(shí)
2021-05-20 11:21:554469

是德科技推高性能比特誤碼測(cè)試(BERT)解決方案

2022年4月15日,北京――是德科技(NYSE:KEYS)推出全新 120 GBd高性能比特誤碼測(cè)試(BERT)解決方案(M8050A)。
2022-04-15 14:10:093004

是德科技發(fā)布高性能比特誤碼測(cè)試解決方案

是德科技(NYSE:KEYS)推出全新 120 GBd高性能比特誤碼測(cè)試(BERT)解決方案(M8050A)。這個(gè)解決方案具有卓越的信號(hào)完整性,可用于驗(yàn)證 1.6T(或 1 萬(wàn)億比特/秒)市場(chǎng)中高
2022-04-18 11:32:142223

塑料拉伸性能測(cè)試技術(shù)方案

塑料拉伸性能測(cè)試技術(shù)方案免費(fèi)下載。
2022-04-24 17:18:170

軟件性能測(cè)試方案怎么編寫?

一、軟件性能測(cè)試方案是什么? 軟件性能測(cè)試方案是針對(duì)軟件產(chǎn)品開(kāi)展性能檢測(cè)工作,形成的總結(jié)性報(bào)告方案,是測(cè)試工作中重要的一部分,也是一種基本的質(zhì)量保證行為。軟件性能測(cè)試工作的重點(diǎn)是對(duì)應(yīng)用系統(tǒng)或者軟件
2023-02-28 15:04:532565

是德高性能比特誤碼測(cè)試儀M8020A介紹

Keysight J-BERT M8020A 高性能比特誤碼測(cè)試儀能夠快速、準(zhǔn)確地表征傳輸速率高達(dá) 16 或 32 Gb/s 的單通道和多通道器件中的接收機(jī)。
2023-06-02 09:40:151322

ZC706評(píng)估板IBERT誤碼測(cè)試和眼圖掃描

IBERT(Integrated Bit ErrorRatio Tester,集成誤比特率測(cè)試工具),是Xilinx提供用于調(diào)試FPGA高速串行接口比特誤碼率性能的工具,最常用在GT高速串行收發(fā)器測(cè)試
2023-06-21 11:29:125571

誤碼測(cè)試儀,讓工程師從容應(yīng)對(duì)高速數(shù)字信號(hào)設(shè)計(jì)

隨著數(shù)字通信和大數(shù)據(jù)的不斷發(fā)展,誤碼測(cè)試變得越來(lái)越重要。高性能誤碼測(cè)試儀作為一種關(guān)鍵的測(cè)試設(shè)備,可以對(duì)數(shù)字信號(hào)進(jìn)行高速、高精度的誤碼測(cè)試,廣泛應(yīng)用于通信、數(shù)據(jù)中心、半導(dǎo)體等行業(yè)。
2023-07-03 14:48:281748

誤碼儀的使用方法 基于FPGA誤碼儀設(shè)計(jì)案例

誤碼儀(Error Code Monitor)是一種用于檢測(cè)和識(shí)別數(shù)據(jù)傳輸中發(fā)生的錯(cuò)誤的測(cè)試設(shè)備。下面是一般誤碼儀的使用方法:   1. 連接設(shè)備:將誤碼儀與需要進(jìn)行測(cè)試的數(shù)據(jù)傳輸設(shè)備(例如路由器
2023-08-03 15:44:426026

基于IBERT的GTX數(shù)據(jù)傳輸測(cè)試

本文介紹一個(gè)FPGA開(kāi)源項(xiàng)目:基于IBERT的GTX數(shù)據(jù)傳輸測(cè)試。IBERT是指誤碼測(cè)試,在Vivado軟件中,IBERT 7 Series GTX IP核可用于對(duì) Xilinx FPGA芯片
2023-08-31 11:45:304509

M8040A誤碼儀助力高速數(shù)字接口測(cè)試

隨著數(shù)字通信和大數(shù)據(jù)的不斷發(fā)展,誤碼測(cè)試變得越來(lái)越重要。高性能誤碼測(cè)試儀作為一種關(guān)鍵的測(cè)試設(shè)備,可以對(duì)數(shù)字信號(hào)進(jìn)行高速、高精度的誤碼測(cè)試,廣泛應(yīng)用于通信、數(shù)據(jù)中心、半導(dǎo)體等行業(yè)。 M8040A
2023-09-04 20:25:371506

基于MacroBenchmark的性能測(cè)試量化指標(biāo)方案

基于Benchmark的性能測(cè)試量化指標(biāo)方案是一種用于評(píng)估和量化系統(tǒng)性能的方法。通過(guò)使用Benchmark測(cè)試工具,該方案旨在提供可靠的性能數(shù)據(jù),并使用具體的指標(biāo)來(lái)衡量系統(tǒng)在各個(gè)方面的表現(xiàn)。本文將
2023-10-17 10:15:141719

FPGA測(cè)試面臨哪些挑戰(zhàn)?測(cè)試方案是什么?

FPGA技術(shù)的發(fā)展,大容量、高速率和低功耗已經(jīng)成為FPGA的發(fā)展重點(diǎn),也對(duì)FPGA測(cè)試提出了新的需求。本文根據(jù)FPGA的發(fā)展趨勢(shì),討論了FPGA測(cè)試面臨哪些挑戰(zhàn)?測(cè)試方案是什么? FPGA處于高速發(fā)展期 FPGA技術(shù)正處于高速發(fā)展時(shí)期。目前其產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域已經(jīng)擴(kuò)展到
2023-10-23 15:20:011956

深度解析高速串行信號(hào)的誤碼測(cè)試|線上講堂

2024年6月25日周二19:00-20:30中星聯(lián)華科技將舉辦《深度解析高速串行信號(hào)的誤碼測(cè)試》“碼”上行動(dòng)系列線上講堂。將深入講解當(dāng)前高速信號(hào)的發(fā)展趨勢(shì)、挑戰(zhàn)及難點(diǎn),分析高速串行信號(hào)傳輸?shù)脑聿?/div>
2024-06-17 08:32:421209

新品發(fā)布 rBT3250-50G突發(fā)誤碼分析儀,支持突發(fā)和連續(xù)模式信號(hào)輸出及誤碼測(cè)試

聯(lián)訊儀器rBT3250是專門針對(duì)下一代25G/50G無(wú)源光網(wǎng)絡(luò)(PON)應(yīng)用的光線路終端(OLT)測(cè)試新型突發(fā)誤碼分析儀,用于評(píng)估突發(fā)模式下的25G及50G OLT接收機(jī)性能。產(chǎn)品整體設(shè)計(jì)能夠大大簡(jiǎn)化測(cè)試設(shè)置及系統(tǒng)配置,并顯著降低綜合測(cè)試成本。
2024-07-26 18:35:542146

M8020A J-BERT 高性能比特誤碼測(cè)試

M8020A 比特誤碼測(cè)試儀 J-BERT M8020A 高性能 BERT 產(chǎn)品綜述 Keysight J-BERT M8020A 高性能比特誤碼測(cè)試儀能夠快速、準(zhǔn)確地表征傳輸速率高達(dá) 16 或
2024-08-21 17:13:54825

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