本文介紹最新制定的 802.11ac,分析此類(lèi)設(shè)備的生產(chǎn)測(cè)試要求。內(nèi)容分為以下幾部分:802.11ac使用模式、性能目標(biāo)、物理層簡(jiǎn)介和生產(chǎn)環(huán)境下面臨的測(cè)試挑戰(zhàn)。
2013-09-03 10:30:38
8542 
測(cè)試技術(shù)在國(guó)內(nèi)分析儀器行業(yè)起步較晚,發(fā)展尚未成熟。本文主要介紹在線(xiàn)分析儀器行業(yè)中的測(cè)試基本理論、測(cè)試流程和常用的測(cè)試方法,可以在研發(fā)測(cè)試階段和運(yùn)維測(cè)試階段中應(yīng)用。
##根據(jù)在線(xiàn)分析儀器的自身特性和測(cè)試階段的先后順序,測(cè)試流程主要包括單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、用戶(hù)測(cè)試、試生產(chǎn)測(cè)試和量產(chǎn)測(cè)試。
2014-02-21 09:53:39
2051 
本文旨在對(duì)4G LTE和LTE-Advanced設(shè)備在制造和測(cè)試過(guò)程中會(huì)遇到的一些挑戰(zhàn)進(jìn)行分析。這些挑戰(zhàn)既有技術(shù)方面的,也有經(jīng)濟(jì)方面的。了解哪些缺陷需要檢測(cè)有助于我們?cè)趯?shí)際的生產(chǎn)環(huán)境中采用更好的測(cè)試
2019-07-18 06:22:43
測(cè)試點(diǎn)/測(cè)試插座/測(cè)試插針
2023-03-30 17:34:49
。工程師在測(cè)試5G波束形成設(shè)備時(shí),面臨著分析發(fā)射和接收路徑以及優(yōu)化接收和發(fā)射天線(xiàn)互易性的挑戰(zhàn)。比如,發(fā)射功率放大器進(jìn)入壓縮區(qū)時(shí),會(huì)產(chǎn)生幅值和相位失真及其他熱效應(yīng),而接收路徑的LNA并不會(huì)產(chǎn)生這些現(xiàn)象
2019-08-16 14:03:51
【摘要】本文首先介紹了全球毫米波頻譜劃分情況,然后通過(guò)對(duì)毫米波特性的分析,總結(jié)了毫米波終端將面臨的技術(shù)挑戰(zhàn),著重介紹了終端側(cè)大規(guī)模天線(xiàn)技術(shù)、毫米波射頻前端技術(shù)的研究進(jìn)展,并根據(jù)毫米波終端的特點(diǎn)分析了
2019-07-18 08:04:55
802.11ac設(shè)備的測(cè)試挑戰(zhàn)是什么?802.11ac的頻譜模板測(cè)試要求是什么?
2021-05-07 06:33:34
我對(duì)這部分記憶測(cè)試電路的分析把握不定,請(qǐng)各位大神幫我分析一下。
2020-11-09 14:50:46
高速串行總線(xiàn)的特點(diǎn)是什么?測(cè)試高速串行總線(xiàn)面臨哪些挑戰(zhàn)?如何應(yīng)對(duì)這些測(cè)試挑戰(zhàn)?
2021-05-10 07:00:10
ACLR測(cè)試要求有哪些?ACLR測(cè)量面臨哪些挑戰(zhàn)?有哪幾種方法可以?xún)?yōu)化分析儀,進(jìn)一步改善ACLR測(cè)量結(jié)果?
2021-04-30 06:05:55
一.面對(duì)DWDM測(cè)試挑戰(zhàn)密集波分復(fù)用(DWDM)是作為電信服務(wù)提供商的關(guān)鍵性全局解決方案出現(xiàn)的。這項(xiàng)技術(shù)提供可擴(kuò)展帶寬,克服了其它方案耗費(fèi)光纖帶寬的缺點(diǎn),能處理不同的數(shù)據(jù)格式和比特率,易于集成到當(dāng)前
2019-06-10 06:57:20
大容量、高速率和低功耗已成為FPGA的發(fā)展重點(diǎn)。嵌入式邏輯分析工具無(wú)法滿(mǎn)足通用性要求,外部測(cè)試工具可以把FPGA內(nèi)部信號(hào)與實(shí)際電路聯(lián)合起來(lái)觀(guān)察系統(tǒng)真實(shí)運(yùn)行情況。隨著FPGA技術(shù)的發(fā)展,大容量、高速
2019-08-07 07:50:15
GPS在測(cè)試方面具有哪些挑戰(zhàn)?如何降低GPS測(cè)試成本?如何創(chuàng)造一種多通道測(cè)試儀?
2021-04-15 06:01:19
,基于靜態(tài)電流(IDDQ)的測(cè)試方法被廣泛使用。然而,隨著深亞微米技術(shù)時(shí)代的到來(lái),總的靜態(tài)漏電流急劇增加,IDDQ測(cè)試技術(shù)受到嚴(yán)峻挑戰(zhàn),因此,需要尋找新的測(cè)試技術(shù),而瞬態(tài)電流測(cè)試技術(shù)提供一個(gè)很好的替代或補(bǔ)充。這種測(cè)試方法能夠檢測(cè)傳統(tǒng)測(cè)試和IDDQ測(cè)試所不能檢測(cè)的缺陷。
2019-09-18 07:31:31
IPv6過(guò)渡測(cè)試挑戰(zhàn)技術(shù)論文
2019-09-10 15:18:16
運(yùn)營(yíng)商建設(shè)LTE網(wǎng)絡(luò)的基本策略之一為L(zhǎng)TE網(wǎng)絡(luò)、2G和3G網(wǎng)絡(luò)將長(zhǎng)期共存,共同發(fā)展,多模、多制式、多頻的融合。LTE網(wǎng)絡(luò)測(cè)試領(lǐng)域也在業(yè)界的持續(xù)努力與實(shí)驗(yàn)網(wǎng)的驗(yàn)證下取得了很大的進(jìn)步。但在多網(wǎng)協(xié)同的發(fā)展方向上,仍面臨諸多挑戰(zhàn),需要進(jìn)一步積極應(yīng)對(duì)。
2019-06-10 07:48:45
充滿(mǎn)挑戰(zhàn)性。裝有LTE 特定信號(hào)生成軟件的信號(hào)發(fā)生器、裝有LTE 特定測(cè)量軟件的現(xiàn)代化信號(hào)分析儀,以及針對(duì)該分析儀優(yōu)化的方法,可以幫助測(cè)試人員戰(zhàn)勝這一挑戰(zhàn)。
2019-06-06 07:56:55
的無(wú)線(xiàn)通信網(wǎng)絡(luò)。同時(shí),一些最早的運(yùn)營(yíng)商LTE運(yùn)營(yíng)服務(wù)將會(huì)使用在700MHz頻段,除了低頻段固有的信號(hào)傳播優(yōu)勢(shì),這個(gè)頻段同時(shí)也帶來(lái)了特殊的射頻測(cè)試挑戰(zhàn),包括和其他技術(shù)的互干擾影響(如數(shù)
2019-06-04 06:37:32
MIMO技術(shù)的無(wú)線(xiàn)區(qū)域網(wǎng)路生產(chǎn)測(cè)試新挑戰(zhàn)是什么?
2021-05-13 06:22:13
RFID測(cè)試技術(shù)分析每個(gè)RFID通信系統(tǒng)都必須通過(guò)監(jiān)管要求并符合所用標(biāo)準(zhǔn),然而,今天,系統(tǒng)優(yōu)化將這個(gè)快速增長(zhǎng)產(chǎn)業(yè)中的勝者與輸者分離開(kāi)來(lái)。本文討論的是RFID通信系統(tǒng)的設(shè)計(jì)師所面對(duì)的測(cè)試挑戰(zhàn):監(jiān)管測(cè)試,標(biāo)準(zhǔn)一致性和優(yōu)化。[/hide]
2009-11-13 16:35:56
本文討論的是 RFID 通信系統(tǒng)的設(shè)計(jì)師所面對(duì)的測(cè)試挑戰(zhàn):監(jiān)管測(cè)試、標(biāo)準(zhǔn)一致性和優(yōu)化。
2021-04-09 06:49:58
網(wǎng)絡(luò)測(cè)試 NetWork 分析儀
2024-03-14 22:30:52
網(wǎng)絡(luò)測(cè)試 NetWork 分析儀
2024-03-14 22:30:52
SoC測(cè)試技術(shù)傳統(tǒng)的測(cè)試方法和流程面臨的挑戰(zhàn)是什么?SoC測(cè)試技術(shù)一體化測(cè)試流程是怎樣的?基于光子探測(cè)的SoC測(cè)試技術(shù)是什么?有什么目的?
2021-04-15 06:16:53
USB 2.0結(jié)構(gòu)是怎樣構(gòu)成的?USB 2.0面臨哪些測(cè)試挑戰(zhàn)?
2021-05-10 06:30:30
USBIF最近修改了USB 3.1規(guī)范,與2013年宣布的規(guī)范相比,更加體現(xiàn)其通用性,具體變化包括電源輸出(Power Delivery)、物理層測(cè)試、USB C型連接器。資料介紹USB 3.1技術(shù)
2015-06-03 14:07:07
、標(biāo)準(zhǔn)一致性和優(yōu)化?! FID技術(shù)有幾個(gè)不同尋常的工程測(cè)試挑戰(zhàn),例如瞬時(shí)信號(hào)、帶寬效率低的調(diào)制技術(shù)和反向散射數(shù)據(jù)。傳統(tǒng)的掃頻調(diào)諧頻譜分析儀、矢量信號(hào)分析儀和示波器已被用于無(wú)線(xiàn)數(shù)據(jù)鏈路的開(kāi)發(fā)。然而,這些
2015-12-17 16:30:58
如何進(jìn)行超快I-V測(cè)量?下一代超快I-V測(cè)試系統(tǒng)關(guān)鍵的技術(shù)挑戰(zhàn)有哪些?
2021-04-15 06:33:03
首要關(guān)注的焦點(diǎn)。這是特別現(xiàn)實(shí)的問(wèn)題,因?yàn)長(zhǎng)TE代表了無(wú)線(xiàn)接入技術(shù)的一個(gè)重大變化,其實(shí)現(xiàn)和部署都是一個(gè)巨大的挑戰(zhàn)。從器件到基站到終端用戶(hù)服務(wù),整個(gè)LTE設(shè)備供應(yīng)鏈對(duì)測(cè)試的需求非常大。從GSM/UMTS自然
2019-06-03 07:06:26
什么是GaN?如何面對(duì)GaN在測(cè)試方面的挑戰(zhàn)?
2021-05-06 07:52:03
什么是實(shí)時(shí)測(cè)試技術(shù)?測(cè)試工程師如何解決實(shí)時(shí)測(cè)試技術(shù)面臨的問(wèn)題?
2021-04-12 06:53:49
光電測(cè)試技術(shù)分析有源的光電器件是一個(gè)基本的半導(dǎo)體結(jié),為了更全面的測(cè)試,不僅要求對(duì)其做正向的I-V特性測(cè)試,也要求監(jiān)測(cè)反向的I-V特性。傳統(tǒng)的激光二極管電流驅(qū)動(dòng)在實(shí)驗(yàn)室級(jí)別是合適的,但是對(duì)于開(kāi)發(fā)半導(dǎo)體
2009-12-09 10:47:38
熱失控。
二、關(guān)鍵技術(shù)挑戰(zhàn)分析
動(dòng)態(tài)負(fù)載響應(yīng)延遲
問(wèn)題:傳統(tǒng)直流電子負(fù)載響應(yīng)時(shí)間>10ms,無(wú)法模擬車(chē)輛急加速/能量回收時(shí)的瞬態(tài)電流(如-200A至+300A切換)。
影響:測(cè)試結(jié)果偏離真實(shí)工況
2025-04-02 16:05:57
最新進(jìn)展:基本測(cè)試,產(chǎn)品驗(yàn)證以及即將到來(lái)的新頻譜 期待幫助您搶占市場(chǎng)先機(jī),從容應(yīng)對(duì)無(wú)線(xiàn)測(cè)試技術(shù)所帶來(lái)的挑戰(zhàn)! 立即報(bào)名:http://event.31huiyi.com/1618020400
2019-04-22 13:43:31
多服務(wù)供應(yīng)平臺(tái)(MSPP)測(cè)試挑戰(zhàn)
2019-06-17 09:14:19
如何DigRF技術(shù)進(jìn)行測(cè)試?DigRF技術(shù)生產(chǎn)測(cè)試的挑戰(zhàn)有哪些?
2021-04-15 06:05:31
如何克服ACS測(cè)試系統(tǒng)和SMU的可靠性測(cè)試挑戰(zhàn)?
2021-05-11 06:11:18
有什么方法可以應(yīng)對(duì)模擬混合信號(hào)器件的測(cè)試挑戰(zhàn)嗎?
2021-05-11 07:15:29
如何應(yīng)對(duì)毫米波測(cè)試的挑戰(zhàn)?
2021-05-10 06:44:10
和新能源開(kāi)發(fā)的最新需求,來(lái)看看它強(qiáng)大的內(nèi)置分析功能吧! 由內(nèi)而外,全面升級(jí)! 汽車(chē)電子、新能源、電力電子等行業(yè)應(yīng)對(duì)未來(lái)挑戰(zhàn)的測(cè)試利器! 1、獨(dú)特外觀(guān)與操作按鍵布局,輔以觸摸屏操作
2018-11-03 13:21:04
如何解決全雙工通信帶來(lái)的測(cè)試挑戰(zhàn)?
2021-06-17 06:46:50
TD-LTE、FDD-LTE和LTE-Advanced(LTE-A)無(wú)線(xiàn)技術(shù)使用了幾種不同的多種輸入多路輸出(MIMO)技術(shù)。鑒于MIMO系統(tǒng)的復(fù)雜性正在日益提高,因此相關(guān)的測(cè)試方法也將更具挑戰(zhàn)性。那么,如何選擇LTE系統(tǒng)測(cè)試方法,存在哪些挑戰(zhàn)?
2019-02-28 11:18:42
的110GHz W型連接器的都是測(cè)試接口技術(shù)逐漸發(fā)展的例子。測(cè)試儀表也在逐漸發(fā)展以滿(mǎn)足市場(chǎng)的需求:目前,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的一個(gè)同軸輸出口可以支持70kHz到145GHz,還有非常小巧的USB接口的頻譜分析
2017-04-14 11:57:45
如何使用寬頻率范圍矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀去應(yīng)對(duì)高速互聯(lián)測(cè)試的挑戰(zhàn)?
2021-04-30 07:25:40
測(cè)試,從試驗(yàn)臺(tái)轉(zhuǎn)到生產(chǎn)流程中的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)上都將面臨很大的挑戰(zhàn),而將高速RF設(shè)備的測(cè)試轉(zhuǎn)至生產(chǎn)環(huán)境中卻完全是令人怯步的。為了便于甚高頻RF接收器在生產(chǎn)環(huán)境中的測(cè)試,您可以使用一種將誤碼率
2019-06-06 08:21:46
之一的毫米波技術(shù)已成為目前標(biāo)準(zhǔn)組織及產(chǎn)業(yè)鏈各方研究和討論的重點(diǎn),毫米波將會(huì)給未來(lái)5G終端的實(shí)現(xiàn)帶來(lái)諸多的技術(shù)挑戰(zhàn),同時(shí)毫米波終端的測(cè)試方案也將不同于目前的終端。本文將對(duì)毫米波頻譜劃分近況,毫米波終端技術(shù)實(shí)現(xiàn)挑戰(zhàn)及測(cè)試方案進(jìn)行介紹及分析。
2021-01-08 07:49:38
汽車(chē)電子的測(cè)試挑戰(zhàn)和策略是什么
2021-05-12 06:55:18
電路在線(xiàn)測(cè)試技術(shù)的原理是什么?測(cè)試儀由那幾部分構(gòu)成?
2021-04-25 06:50:44
自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)展望分析,不看肯定后悔
2021-05-14 06:50:31
?芯片級(jí)失效分析方案turnkey?芯片級(jí)靜電防護(hù)測(cè)試方案制定與平臺(tái)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)?靜電防護(hù)失效整改技術(shù)建議?集成電路可靠性驗(yàn)證?材料分析技術(shù)支持與方案制定半導(dǎo)體材料分析手法業(yè)務(wù)咨詢(xún)及技術(shù)交流:李紹政 lisz@grgtest.com
2020-04-26 17:03:32
RFID系統(tǒng)。最后,必須考慮同一頻段中其它用戶(hù)發(fā)出的干擾。其結(jié)果是,在部署前就有必要仿真復(fù)雜的RF環(huán)境,并分析RFID系統(tǒng)在這些條件下的性能。RFID的脈沖式特點(diǎn)和典型的干擾源令測(cè)試任務(wù)變得更富挑戰(zhàn)性。
2019-07-25 07:22:02
基于DSP的測(cè)試技術(shù)與傳統(tǒng)的測(cè)試技術(shù)相比,有哪些優(yōu)勢(shì)?基本的混合信號(hào)測(cè)試技術(shù)包括哪些?采樣和重建在混合信號(hào)測(cè)試中的應(yīng)用
2021-04-21 06:41:10
對(duì)TD-LTE系統(tǒng)和設(shè)備的實(shí)際測(cè)試要求有哪些?如何使用現(xiàn)有測(cè)試技術(shù)測(cè)試TD-LTE?
2021-04-19 07:48:04
帶來(lái)了顯著的設(shè)計(jì)和測(cè)試挑戰(zhàn)。跳頻信號(hào)和干擾源在極其復(fù)雜的時(shí)變頻譜中工作。這些信號(hào)的不穩(wěn)定行為使它們難以獲取、驗(yàn)證和測(cè)量。有效地設(shè)計(jì)和測(cè)試采用越來(lái)越快的跳頻技術(shù)的現(xiàn)代無(wú)線(xiàn)電需要新的工具和方法。 更快的跳頻
2021-12-29 09:31:37
虛擬儀器的測(cè)試信號(hào)分析與處理技術(shù):3.1 測(cè)試信號(hào)分析處理的概述 一個(gè)儀器系統(tǒng)通常由三大部分組成:信號(hào)的獲取與采集、信號(hào)的分析與處理、結(jié)果的輸出與顯示,其中信號(hào)分
2009-06-22 12:27:00
0 提綱• 雷達(dá)和寬帶通信系統(tǒng)的測(cè)試挑戰(zhàn)• 將“實(shí)時(shí)分析”的方法帶入寬帶系統(tǒng)測(cè)試• 為寬帶系統(tǒng)測(cè)試提供所需帶寬性能• 基帶和數(shù)字部分——和射頻中頻
2010-06-29 18:03:05
47 新一代數(shù)字RF信號(hào)分析和信號(hào)仿真系統(tǒng)測(cè)試:• 雷達(dá)和寬帶通信系統(tǒng)的測(cè)試挑戰(zhàn)
• 將“實(shí)時(shí)分析”的方法帶入寬帶系統(tǒng)測(cè)試
• 為寬帶系統(tǒng)測(cè)試提供所需帶
2010-08-05 14:45:10
46 分析了用于模數(shù)混合電路的邊界掃描測(cè)試技術(shù)的工作機(jī)制對(duì)測(cè)試主控系統(tǒng)的功能需求,提出了一種基于微機(jī)的符合IEEE1149.4標(biāo)準(zhǔn)的混合信號(hào)邊界掃描測(cè)試主控系統(tǒng)。所采用的廣義特征
2010-11-19 15:04:56
21 本文分析介紹了三維芯片測(cè)試的最新進(jìn)展,首先介紹三維芯片設(shè)計(jì)技術(shù),通過(guò)對(duì)該技術(shù)的剖析,分析其當(dāng)前面臨的主要挑戰(zhàn):新型硅直通孔故障、不完整電路測(cè)試問(wèn)題、綁定前后測(cè)試協(xié)
2011-05-28 16:40:56
71 以失效分析的數(shù)據(jù)作為基本數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu),提出了測(cè)試項(xiàng)目有效性和測(cè)試項(xiàng)目耗費(fèi)時(shí)間的折中作為啟發(fā)信息的優(yōu)化算法,提出了 芯片驗(yàn)證 分析及測(cè)試流程優(yōu)化技術(shù)
2011-06-29 17:58:23
97 基于對(duì)FPGA系統(tǒng)失效機(jī)理的深入分析, 提出了軟件測(cè)試技術(shù)在FPGA測(cè)試中的應(yīng)用, 并分析了其可行性; 通過(guò)對(duì)比FPGA與軟件系統(tǒng)的異同, 歸納出FPGA特有的測(cè)試要求,從而在軟件測(cè)試技術(shù)的基礎(chǔ)
2011-09-29 17:41:21
65 汽車(chē)技術(shù)的迅猛發(fā)展以及消費(fèi)者對(duì)于汽車(chē)舒適性和易用性要求不斷提高,越來(lái)越多的汽車(chē)電子裝置日趨走向智能化、復(fù)雜化,產(chǎn)品生產(chǎn)過(guò)程的檢測(cè)手段面臨著嚴(yán)峻挑戰(zhàn)單個(gè)獨(dú)立的測(cè)試儀器已經(jīng)難以滿(mǎn)足不同種類(lèi)產(chǎn)品多樣性的測(cè)試需求。因此,柔性測(cè)試技術(shù)和基于柔性測(cè)試技術(shù)的解決方案應(yīng)運(yùn)而生。
2017-09-07 14:30:16
10 本文檔內(nèi)容介紹了高速數(shù)字總線(xiàn)技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)及測(cè)試挑戰(zhàn)。
2017-09-15 15:36:05
7 多樣化數(shù)字接口測(cè)試挑戰(zhàn)的解決方案——基于可編程FPGA的測(cè)試儀器
2017-10-19 08:45:41
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評(píng)論